Anbieter: Kratos Analytical Ltd.
3 archivierte Beschaffungen
Kratos Analytical Ltd. war in der Vergangenheit ein Lieferant von laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (außer Gläser), instrumente zum Prüfen von physikalischen Eigenschaften und erkennungs- und Analysegeräte.
Neuere Beschaffungen, bei denen der Anbieter Kratos Analytical Ltd. erwähnt wird
2016-07-19
Inst. f. Agrar- u. Ernährungsw., Bodenkunde u. -schutz (Martin-Luther-Universität Halle-Wittenberg, Abt. 4, Ref. 4.3. – Bauangelegenheiten)
Lieferung eines Photoelektronenspektrometers (XPS). Ansicht der Beschaffung »
Lieferung eines Photoelektronenspektrometers (XPS). Ansicht der Beschaffung »
2016-03-03
Beschaffung eines Röntgenphotoelektronenspektrometers (Technische Universität München)
Die TU München – Department Chemie – Lehrstuhl für Technische Elektrochemie beschafft ein Röntgenphotoelektronenspektrometer, erweitert um eine zusätzliche Kammer mit zusätzlichen Messtechniken. Der Beauftrage hat folgende Leistungen zu erbringen: — Lieferung, Aufbau und Installation des Großgeräts als Komplettsystem, — Einweisung und Schulung durch Servicepersonal. Ansicht der Beschaffung »
Die TU München – Department Chemie – Lehrstuhl für Technische Elektrochemie beschafft ein Röntgenphotoelektronenspektrometer, erweitert um eine zusätzliche Kammer mit zusätzlichen Messtechniken. Der Beauftrage hat folgende Leistungen zu erbringen: — Lieferung, Aufbau und Installation des Großgeräts als Komplettsystem, — Einweisung und Schulung durch Servicepersonal. Ansicht der Beschaffung »
2014-09-12
Purchase of a Scanning XPS (Scanning X-ray Photo-electron Spectrometer) (Leibniz-Institut für Plasmaforschung und Technologie e.V. (INP Greifswald))
Purchase item: Scanning XPS (Scanning X-ray Photo-electron Spectrometer). Key words: XPS, ESCA, surface analysis. Classification: 1 stand-alone device. Reason for demand: For quantitative surface elemental analysis and chemical state information of different materials (e.g. powder, woven material, insulating samples, conducting samples), a high performance scanning X-ray photo-electron spectrometer (XPS/ESCA) system is required. The XPS shall consist of a complete UHV system including pumps, load-lock, … Ansicht der Beschaffung »
Purchase item: Scanning XPS (Scanning X-ray Photo-electron Spectrometer). Key words: XPS, ESCA, surface analysis. Classification: 1 stand-alone device. Reason for demand: For quantitative surface elemental analysis and chemical state information of different materials (e.g. powder, woven material, insulating samples, conducting samples), a high performance scanning X-ray photo-electron spectrometer (XPS/ESCA) system is required. The XPS shall consist of a complete UHV system including pumps, load-lock, … Ansicht der Beschaffung »