Helium-Ionen-Mikroskop
Helium basiertes Raster-Ionen-Mikroskop mit einer Auflösung im Subnanometer-Bereich zur Abbildung von organischen und anorganischen Materialien. Das Mikroskop soll zur Abbildung und Strukturierung von mikro- und nanostrukturierten Oberflächen verwendet werden können.
Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2011-05-24.
Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2011-05-13.
Wer?
Wie?
Wo?
Geschichte der Beschaffung
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Dokument |
| 2011-05-13
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Auftragsbekanntmachung
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