Ultrahochvakuum-Rasterkraftmikrokop
Die Fakultät für Physik (Lehrstuhl Experimentelle Physik und Angewandte Nanowissenschaften) sucht ein bewährtes, high-end Rasterkraftmikroskop/Rastertunnelmikroskop-Gerät (AFM/STM), das unter Ultrahochvakuumbedingungen (UHV) bei variablen Temperaturbedingungen (VT) nachweislich atomare Auflösung auf Metallen, Halbleitern und Isolatoren in verschiedensten Messmodi und im besonderen Masse im dynamischen non-contact AFM-Abbildungsmodus an Halbleitern und Isolatoren (AFM-FM detection) erlaubt. Die Durchführung und genannten Spezifikationen im non-contact AFM-Modus sollen über ein Cantilever-basiertes Messsystem (z.B. AFM beam-deflection) und ebenfalls über ein Stimmgabel-Messsystem (z. B. QPlus) erfolgen können. Das AFM-Gerät soll für die Untersuchung von organischen und biologischen Makromolekülen an Oberflächen im Ultrahochvakuum bei variablen Temperaturen (50-500K) eingesetzt werden können, und demzufolge mit präparativer Methodik (Heizen von Proben und AFM/STM-Sensoren, Sublimierung von organischen Molekülen, Ar-Sputtern von Proben und AFM/STM-Sensoren, Aufdampfen von Metallen auf Proben und AFM/STM-Sensoren) ausgerüstet sein. Diese präparativen Standardverfahren sollen durch eine (schonende) Elektrospraydeposition (ESI) für zu untersuchende Makromoleküle wie z.B. Proteine, Nukleinsäuren oder Kohlenhydratpolymere ergänzt werden. Das UHV-System soll 2 getrennte aber verbindbare Vakuumkammern (AFM/STM-Kammer und Präparations/Analytikkammer) besitzen, die getrennt evakuiert werden können. Das ESI soll an die zusätzliche, ebenfalls allein evakuierbare Einschleusekammer/Einschleuseport (Fast-entry-Air-Lock) angebracht werden. In diesem stand-alone UHV-VT-AFM/STM-System soll als analytisches und oberflächenempfindliches Verfahren ein niederenergetisches Elektronen-Beugungsgerät (LEED) zur Verfügung stehen.
Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2014-08-04.
Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2014-06-12.
Anbieter
Die folgenden Lieferanten werden in Vergabeentscheidungen oder anderen Beschaffungsunterlagen erwähnt:
Wer?
Wie?
Wo?
Geschichte der Beschaffung
| Datum |
Dokument |
| 2014-06-12
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Auftragsbekanntmachung
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| 2014-10-10
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Bekanntmachung über vergebene Aufträge
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