Anbieter: Schaefer Technologie GmbH
10 archivierte Beschaffungen
Schaefer Technologie GmbH war in der Vergangenheit ein Lieferant von laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (außer Gläser), apparate und Geräte zum Prüfen und Testen und mikroskope.
In der Vergangenheit waren die konkurrierenden Bieter bgk infrarotservice GmbH, Carl Zeiss Microscopy GmbH, Kirchhoff Datensysteme Services GmbH & Co. KG, Laser Quantum Limited, Newport Spectra-Physics GmbH, Oxford Instruments GmbH, Polytec GmbH, Rohde & Schwarz GmbH und SÜSS MicroTec Lithography GmbH.
Neuere Beschaffungen, bei denen der Anbieter Schaefer Technologie GmbH erwähnt wird
2022-04-13
ESR/BLS - Brillouin Lichtstreuung (Justus-Liebig-Universität Gießen)
Lieferung einer Anlage zur Brillouin-Licht-Streu Mikroskopie Ansicht der Beschaffung »
Lieferung einer Anlage zur Brillouin-Licht-Streu Mikroskopie Ansicht der Beschaffung »
2022-01-19
Los 2 - Oberflächenprofilometer (Leibniz-Institut für Photonische Technologien e.V.)
Das Leibniz-Institut für Photonische Technologien e.V. schreibt ein Oberflächenprofilometer aus. Das Gerät soll Schichtdicken, Oberflächen Rauigkeiten und Schichtspannungen messen können. - Wertungskriterien: technische Spezifikationen 70%, Preis 30% Ansicht der Beschaffung »
Das Leibniz-Institut für Photonische Technologien e.V. schreibt ein Oberflächenprofilometer aus. Das Gerät soll Schichtdicken, Oberflächen Rauigkeiten und Schichtspannungen messen können. - Wertungskriterien: technische Spezifikationen 70%, Preis 30% Ansicht der Beschaffung »
2021-01-12
Forschungslabor Mikroelektronik Cottbus – Senftenberg für Siliziumbasierte Optoelektronik – ForLab FAMOS (BTU Cottbus-Senftenberg)
Trockenätzsystem mit hochdichter Plasmaquelle und Vakuumschleuse, PECVD System mit Vakuumschleuse und rechnergestütztes Kontaktprofilometer Die Beschaffung von einem Trockenätzsystem mit hochdichter Plasmaquelle und Vakuumschleuse und PECVD System mit Vakuumschleuse dient der Herstellung von optoelektronischen Bauelementen, die auf Materialintegration (GeSn, SiGeSn, Oxide und 2D-Materialien) auf dem Grundmaterial Si basieren. Gesucht werden erprobte Systeme, da die Ätz- und Beschichtungsprozesse für … Ansicht der Beschaffung »
Trockenätzsystem mit hochdichter Plasmaquelle und Vakuumschleuse, PECVD System mit Vakuumschleuse und rechnergestütztes Kontaktprofilometer Die Beschaffung von einem Trockenätzsystem mit hochdichter Plasmaquelle und Vakuumschleuse und PECVD System mit Vakuumschleuse dient der Herstellung von optoelektronischen Bauelementen, die auf Materialintegration (GeSn, SiGeSn, Oxide und 2D-Materialien) auf dem Grundmaterial Si basieren. Gesucht werden erprobte Systeme, da die Ätz- und Beschichtungsprozesse für … Ansicht der Beschaffung »
2018-02-01
IESP (CiS Forschungsinstitut für Mikrosensorik GmbH)
Intelligente Entwicklungsumgebung für flexibles Systempackage-Prototyping (IESP). Ansicht der Beschaffung »
Intelligente Entwicklungsumgebung für flexibles Systempackage-Prototyping (IESP). Ansicht der Beschaffung »
2018-01-15
Supply of an “in situ” nanomechanical testing system for the JRC Karlsruhe (European Commission, JRC - Joint Research Centre, JRC.G - Nuclear Safety and Security (Karlsruhe))
The in-situ nanomechanical testing system shall be capable of performing tests such as nanoindentation, compression, tensile (optional), bending and creep on nano /micro scale structures FIB milled from different materials (metals, ceramics, composites, etc.) with the aim of deriving their mechanical properties. The system shall also be capable of performing tests up to 600 C. Ansicht der Beschaffung »
The in-situ nanomechanical testing system shall be capable of performing tests such as nanoindentation, compression, tensile (optional), bending and creep on nano /micro scale structures FIB milled from different materials (metals, ceramics, composites, etc.) with the aim of deriving their mechanical properties. The system shall also be capable of performing tests up to 600 C. Ansicht der Beschaffung »
2017-08-22
Rasterkraftmikroskop (TU Bergakademie Freiberg)
Beschaffung eines Rasterkraftmikroskopes. Ansicht der Beschaffung »
Beschaffung eines Rasterkraftmikroskopes. Ansicht der Beschaffung »
2015-09-14
Beschaffung eines Hochtemperatur-Rasterkraftmikroskops (DFG-GZ: A 709) (Deutsche Forschungsgemeinschaft e. V., Zentrale Beschaffungsstelle)
Hochtemperatur-Rasterkraftmikroskop Einsatzbereiche — Untersuchungen an einem breiten Spektrum unterschiedlicher Materialien werden angestrebt — Messungen bis 750 K (1000 K) an Feststoff- und Flüssigkeitsoberflächen sollen durchführbar sein — Messungen im Dauerbetrieb (< 24 h) sollen möglich sein System Konfiguration und Installation — Das SPM System muss eine Vakuumkammer beinhalten und soll auf einem Tragrahmen mit pneumatischer Schwingungsisolierung sowie interner Federung mit Wirbelstromdämpfung … Ansicht der Beschaffung »
Hochtemperatur-Rasterkraftmikroskop Einsatzbereiche — Untersuchungen an einem breiten Spektrum unterschiedlicher Materialien werden angestrebt — Messungen bis 750 K (1000 K) an Feststoff- und Flüssigkeitsoberflächen sollen durchführbar sein — Messungen im Dauerbetrieb (< 24 h) sollen möglich sein System Konfiguration und Installation — Das SPM System muss eine Vakuumkammer beinhalten und soll auf einem Tragrahmen mit pneumatischer Schwingungsisolierung sowie interner Federung mit Wirbelstromdämpfung … Ansicht der Beschaffung »
2014-06-12
Ultrahochvakuum-Rasterkraftmikrokop (Universität Bielefeld, Dez. F, Abt. F 3)
Die Fakultät für Physik (Lehrstuhl Experimentelle Physik und Angewandte Nanowissenschaften) sucht ein bewährtes, high-end Rasterkraftmikroskop/Rastertunnelmikroskop-Gerät (AFM/STM), das unter Ultrahochvakuumbedingungen (UHV) bei variablen Temperaturbedingungen (VT) nachweislich atomare Auflösung auf Metallen, Halbleitern und Isolatoren in verschiedensten Messmodi und im besonderen Masse im dynamischen non-contact AFM-Abbildungsmodus an Halbleitern und Isolatoren (AFM-FM detection) erlaubt. Die … Ansicht der Beschaffung »
Die Fakultät für Physik (Lehrstuhl Experimentelle Physik und Angewandte Nanowissenschaften) sucht ein bewährtes, high-end Rasterkraftmikroskop/Rastertunnelmikroskop-Gerät (AFM/STM), das unter Ultrahochvakuumbedingungen (UHV) bei variablen Temperaturbedingungen (VT) nachweislich atomare Auflösung auf Metallen, Halbleitern und Isolatoren in verschiedensten Messmodi und im besonderen Masse im dynamischen non-contact AFM-Abbildungsmodus an Halbleitern und Isolatoren (AFM-FM detection) erlaubt. Die … Ansicht der Beschaffung »
2013-05-17
Lieferung eines Phasen- Weißlicht-Interferenzmikroskops (Physikalisch-Technische Bundesanstalt)
Lieferung eines Phasen-/Weißlicht-Interferenzmikroskops. Weitere Informationen zu der Ausschreibung finden Sie auf folgender Internetseite: http://www.ptb.de/cms/fachabteilungen/abtz/z11/z113/ausschreibungen.html Ansicht der Beschaffung »
Lieferung eines Phasen-/Weißlicht-Interferenzmikroskops. Weitere Informationen zu der Ausschreibung finden Sie auf folgender Internetseite: http://www.ptb.de/cms/fachabteilungen/abtz/z11/z113/ausschreibungen.html Ansicht der Beschaffung »
2013-04-18
Inline AFM (IHP GmbH - Leibniz-Institut für Innovative Mikroelektronik)
Lieferung Inline AFM. Ansicht der Beschaffung »
Lieferung Inline AFM. Ansicht der Beschaffung »