Ultrahochvakuum-Rasterkraftmikrokop
Universität Bielefeld, Dez. F, Abt. F 3
Die Fakultät für Physik (Lehrstuhl Experimentelle Physik und Angewandte Nanowissenschaften) sucht ein bewährtes, high-end Rasterkraftmikroskop/Rastertunnelmikroskop-Gerät (AFM/STM), das unter Ultrahochvakuumbedingungen (UHV) bei variablen Temperaturbedingungen (VT) nachweislich atomare Auflösung auf Metallen, Halbleitern und Isolatoren in verschiedensten Messmodi und im besonderen Masse im dynamischen non-contact AFM-Abbildungsmodus an Halbleitern und Isolatoren (AFM-FM detection) erlaubt. Die Durchführung und genannten Spezifikationen im non-contact AFM-Modus sollen über ein Cantilever-basiertes Messsystem (z.B. AFM beam-deflection) und ebenfalls über ein Stimmgabel-Messsystem (z. B. QPlus) erfolgen können. Das AFM-Gerät soll für die Untersuchung von organischen und biologischen Makromolekülen an Oberflächen im Ultrahochvakuum bei variablen Temperaturen (50-500K) eingesetzt werden können, und demzufolge mit präparativer Methodik (Heizen von Proben und AFM/STM-Sensoren, Sublimierung von organischen Molekülen, Ar-Sputtern von Proben und AFM/STM-Sensoren, Aufdampfen von Metallen auf Proben und AFM/STM-Sensoren) ausgerüstet sein. Diese präparativen Standardverfahren sollen durch eine (schonende) Elektrospraydeposition (ESI) für zu untersuchende Makromoleküle wie z.B. Proteine, Nukleinsäuren oder Kohlenhydratpolymere ergänzt werden. Das UHV-System soll 2 getrennte aber verbindbare Vakuumkammern (AFM/STM-Kammer und Präparations/Analytikkammer) besitzen, die getrennt evakuiert werden können. Das ESI soll an die zusätzliche, ebenfalls allein evakuierbare Einschleusekammer/Einschleuseport (Fast-entry-Air-Lock) angebracht werden. In diesem stand-alone UHV-VT-AFM/STM-System soll als analytisches und oberflächenempfindliches Verfahren ein niederenergetisches Elektronen-Beugungsgerät (LEED) zur Verfügung stehen.
DeadlineDie Frist für den Eingang der Angebote war 2014-08-04. Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2014-06-12.
AnbieterDie folgenden Lieferanten werden in Vergabeentscheidungen oder anderen Beschaffungsunterlagen erwähnt:
Wer? Wie? Wo?| Datum | Dokument |
|---|---|
| 2014-06-12 | Auftragsbekanntmachung |
| 2014-10-10 | Bekanntmachung über vergebene Aufträge |
Objekt
Umfang der Beschaffung
Titel: Mikroskope
Menge oder Umfang:
Metadaten der Bekanntmachung
Originalsprache: Deutsch 🗣️
Dokumenttyp: Auftragsbekanntmachung
Art des Auftrags: Lieferungen
Verordnung: Europäische Union, mit GPA-Beteiligung
Gemeinsames Vokabular für öffentliche Aufträge (CPV)
Code: Mikroskope 📦
Verfahren
Verfahrensart: Offenes Verfahren
Angebotsart: Angebot für alle Lose
Vergabekriterien
Wirtschaftlichstes Angebot
Öffentlicher Auftraggeber
Identität
Land: Deutschland 🇩🇪
Art des öffentlichen Auftraggebers: Einrichtung des öffentlichen Rechts
Name des öffentlichen Auftraggebers: Universität Bielefeld, Dez. F, Abt. F 3
Postanschrift: Universitätsstraße 25
Postleitzahl: 33615
Postort: Bielefeld
Kontakt
Internetadresse: http://www.uni-bielefeld.de 🌏
E-Mail: stefan.eggert-mines@uni-bielefeld.de 📧
Telefon: +49 5211064093 📞
Fax: +49 5211064079 📠
Referenz
Daten
Absendedatum: 2014-06-12 📅
Einreichungsfrist: 2014-08-04 📅
Veröffentlichungsdatum: 2014-06-20 📅
Kennungen
Bekanntmachungsnummer: 2014/S 117-206605
ABl. S-Ausgabe: 117
Zusätzliche Informationen
Bekanntmachungs-ID: CXPNYMHY6P2
Objekt
Umfang der Beschaffung
Kurze Beschreibung:
Referenznummer: 065-2014-0005
Ort der Leistung
Hauptstandort oder Erfüllungsort: Bielefeld.
Rechtliche, wirtschaftliche, finanzielle und technische Informationen
Bedingungen für die Teilnahme
Wirtschaftliche und finanzielle Leistungsfähigkeit:
Mindeststandards: Gem. Leistungsbeschreibung.
Auftragsausführung
Wichtigste Finanzierungsbedingungen und Zahlungsmodalitäten und/oder Verweis auf die einschlägigen Bestimmungen, die sie regeln:
Verfahren
Gültigkeitsdauer des Angebots: 2014-08-29 📅
Datum der Angebotseröffnung: 2014-08-04 📅
Sprachen
Sprache: Deutsch 🗣️
Griechisch 🗣️
Öffentlicher Auftraggeber
Kontakt
Kontaktperson: Zentrale Beschaffungsabteilung
Herrn Eggert-Mines
Name: Universität Bielefeld
Postanschrift: Universitätsstr. 25
Kontaktperson: Angebotssammelstelle, K3-123
URL der Teilnahme: http://www.uni-bielefeld.de 🌏
URL der Dokumente: http://www.evergabe.nrw.de/VMPCenter/ 🌏
Referenz
Kennungen
Vom öffentlichen Auftraggeber vergebene Referenznummer: 065-2014-0005
Ergänzende Informationen
Körper überprüfen
Name: Vergabekammer der Bezirksregierung Detmold
Postanschrift: Leopoldstraße 15
Postort: Detmold
Postleitzahl: 32756
Land: Deutschland 🇩🇪
E-Mail: poststelle@brdt.nrw.de 📧
Telefon: +49 5231711710 📞
Internetadresse: http://www.bezreg-detmold.nrw.de 🌏
Fax: +49 5231711715 📠
Quelle: OJS 2014/S 117-206605 (2014-06-12)
Objekt
Umfang der Beschaffung
Gesamtwert des Auftrags: 542 480 💰
Metadaten der Bekanntmachung
Dokumenttyp: Bekanntmachung über vergebene Aufträge
Verfahren
Angebotsart: Entfällt
Öffentlicher Auftraggeber
Identität
Name des öffentlichen Auftraggebers: Universität Bielefeld
Postanschrift: Universitätsstr. 25
Referenz
Daten
Absendedatum: 2014-10-10 📅
Veröffentlichungsdatum: 2014-10-14 📅
Kennungen
Bekanntmachungsnummer: 2014/S 197-347908
Verweist auf Bekanntmachung: 2014/S 117-206605
ABl. S-Ausgabe: 197
Verfahren
Vergabekriterien
Kriterium: 1. Technische Spezifikationen (25)
2. Qualität der nachweisbaren, experimentellen AFM/STM-Daten, insbesondere atomare Auflösung im non-contact Modus (25)
3. Bedienungsfreundlichkeit, Vielseitigkeit und Zusammenspiel der Komponenten (15)
4. Schneller und kundenfreundlicher Vorort-Service (10)
5. Preis-Leistungsverhältnis (20)
6. Laufende Betriebskosten (5)
Auftragsvergabe
Datum des Vertragsabschlusses: 2014-09-22 📅
Name: Schaefer Technologie GmbH
Postanschrift: Robert-Bosch-Straße 31
Postort: Langen
Postleitzahl: 63225
Land: Deutschland 🇩🇪
E-Mail: info@schaefer-tec.com 📧
Internetadresse: www.schaefer-tec.com 🌏
Informationen über Ausschreibungen
Anzahl der eingegangenen Angebote: 2
Öffentlicher Auftraggeber
Kontakt
Kontaktperson: Herrn Stefan Eggert-Mines
Quelle: OJS 2014/S 197-347908 (2014-10-10)
- Laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (außer Gläser) (>20 neue Beschaffungen)
- Apparate und Geräte zum Prüfen und Testen (18)
- Mikroskope (7)
- Akustische und Projektionsmikroskope
- Dunkelfeld- und Rastersondenmikroskope
- Elektronenmikroskope
- Fluoreszenz- und Polarisationsmikroskope (1)
- Inversionsmikroskope und metallurgische Mikroskope
- Ionen- und Molekularmikroskope
- Monokulare und/oder binokulare Lichtmikroskope
- Verschiedene Bestandteile von Mikroskopen
- Weitfeld-, Stereo- oder Streulichtmikroskope