Anbieter: ATV Systems GmbH
4 archivierte Beschaffungen
ATV Systems GmbH war in der Vergangenheit ein Lieferant von laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (außer Gläser), apparate und Geräte zum Prüfen und Testen und maschinen und Geräte zum Prüfen und Messen.
Neuere Beschaffungen, bei denen der Anbieter ATV Systems GmbH erwähnt wird
2026-03-09
Halbautomatisches Wafer-Testsystem für elektrische Feldpolarisation (Friedrich-Schiller-Universität Jena)
Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beabsichtigt für den Kauf eines (1) Wafer-Testsystems, um eine elektrische Kontaktierung zu Mikroelektroden auf Waferskala für die elektrische Feldpolarisation ferroelektrischer Dünnschichten zu erreichen und damit die Herstellung integrierter polarisierter Wellenleiter auf Waferskala für die nichtlineare Frequenzumwandlung zu ermöglichen. Die technischen Leistungsparameter aus Anlage 2 sind mindestens zu erfüllen. Ansicht der Beschaffung »
Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beabsichtigt für den Kauf eines (1) Wafer-Testsystems, um eine elektrische Kontaktierung zu Mikroelektroden auf Waferskala für die elektrische Feldpolarisation ferroelektrischer Dünnschichten zu erreichen und damit die Herstellung integrierter polarisierter Wellenleiter auf Waferskala für die nichtlineare Frequenzumwandlung zu ermöglichen. Die technischen Leistungsparameter aus Anlage 2 sind mindestens zu erfüllen. Ansicht der Beschaffung »
2026-02-19
Semi-automated probe system with accessories (IHP GmbH - Leibniz-Institut für Innovative Mikroelektronik)
The tender concerns the procurement of an integrated system for optical and opto-electrical characterization at wafer and chip level in the visible (VIS) spectral range. The system shall consist of a 200 mm semi-automated probe station equipped with a temperature-controlled chuck, microscope, and manual manipulators for RF/DC probes as well as for optical fibers and fiber arrays. The system will be installed in a laboratory environment outside the cleanroom. The scope of supply includes delivery to the … Ansicht der Beschaffung »
The tender concerns the procurement of an integrated system for optical and opto-electrical characterization at wafer and chip level in the visible (VIS) spectral range. The system shall consist of a 200 mm semi-automated probe station equipped with a temperature-controlled chuck, microscope, and manual manipulators for RF/DC probes as well as for optical fibers and fiber arrays. The system will be installed in a laboratory environment outside the cleanroom. The scope of supply includes delivery to the … Ansicht der Beschaffung »
2026-01-29
Automated wafer prober (IMS-04) - PR1119714-2380-P (Fraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12)
Automated wafer prober (IMS-04) Ansicht der Beschaffung »
Automated wafer prober (IMS-04) Ansicht der Beschaffung »
2026-01-15
Waferprober (Technische Universität München)
Gegenstand der Anschaffung ist ein Wafer Prober für den elektrischen Test von Halbleiterwafern mit einer Größe von 150 mm bis 300 mm. Ansicht der Beschaffung »
Gegenstand der Anschaffung ist ein Wafer Prober für den elektrischen Test von Halbleiterwafern mit einer Größe von 150 mm bis 300 mm. Ansicht der Beschaffung »