2014-06-12Ultrahochvakuum-Rasterkraftmikrokop (Universität Bielefeld, Dez. F, Abt. F 3)
Die Fakultät für Physik (Lehrstuhl Experimentelle Physik und Angewandte Nanowissenschaften) sucht ein bewährtes, high-end Rasterkraftmikroskop/Rastertunnelmikroskop-Gerät (AFM/STM), das unter Ultrahochvakuumbedingungen (UHV) bei variablen Temperaturbedingungen (VT) nachweislich atomare Auflösung auf Metallen, Halbleitern und Isolatoren in verschiedensten Messmodi und im besonderen Masse im dynamischen non-contact AFM-Abbildungsmodus an Halbleitern und Isolatoren (AFM-FM detection) erlaubt. Die …
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:Schaefer Technologie GmbH