Lieferung und Installation eines hochauflösenden kombinierten Niederspannungsrasterelektronen- und Ionenstrahlmikroskops (SEM-FIB)
Die Ausschreibung umfasst die Lieferung, Installation und Inbetriebnahme (inklusive Schulung) eines hochauflösenden kombinierten Niederspannungsrasterelektronen- und Ionenstrahlmikroskops für materialwissenschaftliche Untersuchungen auf dem Gebiet der modernen Sensorforschung. Dabei stehen insbesondere hoch auflösende Untersuchungen an nanostrukturierten Materialien für die biologisch-physikalische, elektrochemische und Gassensorik sowie die Erweiterung der am Institut vorhandenen abtragenden und aufbauenden Strukturierungstechniken im Mittelpunkt.
Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2014-09-01.
Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2014-07-07.
Anbieter
Die folgenden Lieferanten werden in Vergabeentscheidungen oder anderen Beschaffungsunterlagen erwähnt:
Wer?
Wie?
Geschichte der Beschaffung
| Datum |
Dokument |
| 2014-07-07
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Auftragsbekanntmachung
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| 2014-10-13
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Bekanntmachung über vergebene Aufträge
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