Beschaffung eines Focused-Ion-Beam-Rasterelektronenmikroskop (FIB-REM)

Hochschule für Angewandte Wissenschaften München

Die Hochschule München beabsichtigt im Rahmen eines Forschungsprojektes die Beschaffung eines Focused-Ion-Beam Rasterelektronenmikroskops (FIB-REM).

Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2016-09-13. Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2016-08-09.

Anbieter
Die folgenden Lieferanten werden in Vergabeentscheidungen oder anderen Beschaffungsunterlagen erwähnt:
Wer?

Wie?

Wo?

Geschichte der Beschaffung
Datum Dokument
2016-08-09 Auftragsbekanntmachung
2016-09-06 Ergänzende Angaben
2016-10-25 Bekanntmachung über vergebene Aufträge