2012-05-11Rasterelektronenmikroskop (Fachhochschule Schmalkalden)
Für die elektronenoptische Untersuchung von Metallen, Keramiken und Kunststoffen wird ein Rasterelektronenmikroskop benötigt, welches sowohl im Hochvakuumbereich bei Auflösungen unter 4nm arbeiten kann (z.B. für die Darstellung nanostrukturierter Oberflächenschichten), als auch bei Niedrigvakuumbedingungen, um empfindliche bzw. nicht beschichtbare Kunststoffe oder Keramiken untersuchen zu können. Vor allem für die Partikelselektierung wird ein BSE-Detektor benötigt, der parallel zur EDX-Analyse betrieben …
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:Axon Machine Vision GmbH & Co. KG
2012-05-08Rasterelektronenmikroskop mit Feldemissions-Kathode (Fraunhofer Gesellschaft e.V.)
REM zur Analyse und Charakterisierung von Nanopartikeln, Polymer-Nanokompositen, Nano- und Mikrostrukturen eingesetzt werden. Es soll verschiedene leitende Materialien und Materialkombinationen (Metalle, Legierungen, ...) hochauflösend und mit gutem Kontrast abbilden können, desweiteren hochauflösende Untersuchungen der Morphologie von Nanopartikeln ermöglichen.
Es können auch Gebraucht- oder Vorführgeräte angeboten werden.
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:Hitachi High-Technologies Europe GmbH
2012-04-23Rasterelektronenmikroskop (Der Polizeipräsident in Berlin)
Beschaffung eines Rasterelektronenmikroskopes mit energiedispersivem Röntgen-Analysensystems (EDX), sowie eines vernetzten PC-Arbeitsplatzes.
Modernes software-gesteuertes, digitales Rasterelektronenmikroskop mit FE-Kathode (Shottky-Ermitter) und einer FE-Ersatzkathode inkl. Wechsel.
Bildspeicherauflösung besser 3 000 x 3 000 Bildpunkte.
Vollautomatisiertes Vakuumsystem, ölfrei, luftgekühlt, mit Schallschutzbox für die Vorvakuumpumpe, SE-Detektor, BSE-Detektor, HL-Detektor, Inlense-Detektor, Inlense …
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2012-03-14Rasterelektronenmikroskop (Fraunhofer Gesellschaft e.V.)
Im Bereich Mikrosystemtechnik soll zur Inspektion und Analyse von mikrotechnischen Bauelementen ein hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop in Kombination mit einer fokussierten Ionenstrahlsäule (FIB) eingesetzt werden. Es sollen verschiedene Materialen und Materialkombinationen, wie z.B. Si, SiOx, SiNx, Ni, Au, PZT, Polymere..., hochauflösend und mit gutem Kontrast ohne weitere Beschichtung abgebildet werden. Nichtleitende Proben sollen auch ohne Bedampfung und aufladungsfrei mit genügend hohen …
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:Carl Zeiss Microscopy GmbH
2011-07-19Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (Helmholtz-Zentrum für Infektionsforschung GmbH)
Das Feldemissionsrasterelektronenmikroskop (FESEM) soll im Helmholtz Zentrum für Infektionsforschung (HZI) zur Abbildung von biologischen Proben geeignet sein. Als Proben kommen Viren, Bakterien, Zelllinien, isolierte Zellen des Immunsystems und Gewebe in Betracht. Das Gerät soll zusätzlich zur Analytik mittels energie- dispersiver Röntgenspektroskopie (EDX) in der Lage sein, d.h. einen genügend hohen Strahlstrom zu Verfügung stellen, um hochauflösende Analytik durchführen zu können. Gleichzeitig muss …
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2011-05-13Ausrüstung zur analytischen Rasterelektronenmikroskopie (Fachhochschule Jena)
Die Ausrüstung für die analytische Rasterelektronemikroskopie wird zur Vorbereitung von Proben für elektronenmikroskopische Untersuchungen und zur Durchführung rasterelektronemikroskopischer Analyse mittels Abbildung, morphologischer Charakterisierung, Bestimmung der chemischen Zusammensetzung und der Bewertung der lokalen kristallinen Struktur in Lehre und Forschung verwendet.
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:Carl-Zeiss NTS GmbH
2011-04-29Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (TU Bergakademie Freiberg, Abt. Zentrale Beschaffung)
Analytisches hochauflösendes Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (REM) mit variablen Druckeinstellungen in der Probenkammer zur Untersuchung von mikrostrukturellen Eigenschaften (kristallographische Orientierungsbeziehungen, Phasenidentifizierung) verschiedenster Werkstoffe (metallisch/nichtmetallisch), insbesondere nicht leitfähiger bzw. ausgasender Werkstoffe.
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2011-03-21Multifunktionales hochauflösendes analytisches REM (Fraunhofer Gesellschaft e.V.)
Analytisches hochauflösendes Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop mit großer Probenkammer incl. Schleuse und Plasmacleaner, FocusedIonBeam (FIB) + GIS, integriertem Mikrolabor und externem digitalem Lichtmikroskop. Das Mikrolabor enthält Probenheizung (bis +1400°C)/-kühlung (<-100°C) , Probenmanipulation mittels Nadel (u.a. Scratching), Härtemessung und Messung des elektrischen Widerstandes/Stromes.
Das REM enthält als Detektoren: EDX, SE, BSE, inlens SE, inlens BSE, CL und STEM. Zusätzlich ist eine …
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2011-03-04Hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop mit EDX und EBSD-Analyse-Systemen (Universität des Saarlandes)
Generelle Ausrichtung.
Das anzuschaffende Gerät wird durch die „Nutzergemeinschaft Rasterelektronenmikroskopie“ in der FR 8.4 Materialwissenschaft und Werkstofftechnik der Universität des Saarlandes gemeinsam benutzt und betrieben. Da jede der beteiligten Gruppen andere Schwerpunkte bearbeitet, muss das Gerät einen Kompromiss darstellen, der in allen wichtigen Bereichen die unter den gegebenen Voraussetzungen maximal möglichen Abbildungs- und Analysebedingungen weitestgehend kombiniert. Die wichtigsten …
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