Anbieter: Bruker France SAS

>20 archivierte Beschaffungen

In der Vergangenheit waren die konkurrierenden Bieter Coherent Europe B.V. und Multi Channel Systems MCS GmbH.

Neuere Beschaffungen, bei denen der Anbieter Bruker France SAS erwähnt wird

2022-12-16   Kauf und Lieferung eines 2-Photonen Laser Scanning Mikroskops für chronische In-Vivo Experimente (Klinikum der Universität München AöR)
Für unsere grundlagenwissenschaftlichen Arbeiten benötigen wir ein 2-Photonen-Mikroskop, welches spezialisierte Anforderungen für strukturelles und funktionelles Imaging im aktiven Tier (Maus-Modell) im Bereich der Neurowissenschaften ermöglicht. Da zukünftig auch das Imaging mit Optogenetik-Verfahren kombiniert werden soll, ist ein modularer Aufbau des Mikroskops mit grossem Arbeitsbereich unterhalb des Objektivs (>45cm) sowie zwei unabhängigen optischen Lichtwegen notwendig Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: Bruker France SAS
2022-08-12   Stylus Profiler und Optisches 3D Profilometer (Universität Stuttgart)
Los 1: Gegenstand der Beschaffung ist ein STYLUS PROFILER. Los 2: Gegenstand der Beschaffung ist ein Weißlichtinterferometer (WLI) zur optischen, berührungslosen Messung von 3-D Profilen rauer und glatter Oberflächen. Ansicht der Beschaffung »
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2022-06-13   Nanoindentationssystem (Universität des Saarlandes)
Art und Umfang gemäß Leistungsbeschreibung Ansicht der Beschaffung »
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2022-05-02   Multimode Rasterkraft-Mikroskop (Technische Universität Dresden, Dezernat Finanzen und Beschaffung, Sachgebiet Zentrale Beschaffung und Anlagenbuchhaltung)
Gegenstand des Vergabeverfahrens ist die Lieferung und betriebsbereite Übergabe eines Multimode Rasterkraft-Mikroskops (Atom-Rasterkraft-Mikroskop - AFM). Ansicht der Beschaffung »
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2021-08-12   AFM-System (Technische Universität Ilmenau, Dezernat Finanzen, SG Beschaffung)
Dieses AFM soll ein vorhandenes AFM (Dimension V - Veeco/Bruker) ersetzen. Neben der in situ und in system Charakterisierung im UHV, stellt die ex situ AFM-Untersuchung eine wichtige Methode dar, die bei fast allen an der TU Ilmenau (meist mit Hilfe der metallorganischen Gas-phasenepitaxie - MOCVD) hergestellten Proben am Ende der Untersuchungen angewendet wird. Ein wichtiges Kriterium für die Proben ist die Oberflächenmorphologie - die präparierten Proben sollen normalerweise möglichst glatt sein. Das … Ansicht der Beschaffung »
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2020-10-09   Nanoindenter (Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM))
Nanoindenter gemäß Leistungsbeschreibung und Vergabeunterlagen. Ansicht der Beschaffung »
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2020-09-08   Lieferung und Installation eines Rasterkraftmikroskops (Technische Universität München — Lehrstuhl für experimentelle Halbleiterphysik)
Lieferung und Installation eines Rasterkraftmikroskops Siehe Leistungsbeschreibung der Vergabeunterlagen. Ansicht der Beschaffung »
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2020-08-13   Zwei-Photonen-in-vivo-Mikroskop (Albert-Ludwigs-Universität Freiburg)
Die Auftraggeberin (AG) beabsichtigt ein Gerätepaket Zwei-Photonen-in-vivo-Mikroskop zu beschaffen. Ansicht der Beschaffung »
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2020-04-30   Rasterkraftmikroskop mit einem integrierten inversen Lichtmikroskop (Universität Duisburg-Essen)
Benötigt wird ein gekoppeltes Mikroskopie-Abbildungssystem, das aus einem Rasterkraftmikroskop (AFM) und einem inversen optischen Fluoreszenzmikroskop (IOM) besteht. Die einzelnen Kriterien entnehmen Sie bitte der Leistungsbeschreibung. Ansicht der Beschaffung »
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2020-01-20   RKM Anlage (NaMLab gGmbH)
Die Beschaffung beinhaltet die Lieferung, Installation und Inbetriebnahme eines Rasterkraftmikroskopes (RKM) in einem Laborraum der NaMLab gGmbH im Erdgeschoss eines Büro- und Laborgebäude in 01187 Dresden, Nöthnitzer Str. 64 a, welches zur strukturellen, physischen und elektrischen Analyse von Nanostrukturen dienen soll. Ansicht der Beschaffung »
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2019-10-28   Rasterkraftmikroskop (Universität Bayreuth)
Bei dem zu beschaffenden Instrument handelt es sich um ein Rasterkraftmikroskop, welches sowohl für schnelle Messungen als auch für Messungen bei hohen Temperaturen geeignet sein soll. Weiterhin muss bei dem Gerät auch die Möglichkeit bestehen, ortaufgelöste, rauscharme Messungen über Mikrowellenimpedanzspektroskopie durchzuführen und damit lokale dielektrische Probeneigenschaften auf der nm-Ebene abzubilden. Das Instrument muss auch eine Untersuchung von großen Proben sowie eine Möglichkeit zur … Ansicht der Beschaffung »
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2019-10-17   Infrarotspektrometer (Universität Stuttgart)
Nanoskaliges, auf fotothermisch induzierter Resonanztechnik basiertes Infrarotspektrometer mit umfänglicher AFM basierter Spektroskopie- und Abbildungsfunktionalität. Ansicht der Beschaffung »
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2019-09-30   Optisches Nahfeld Rastermikroskop (Universität Paderborn)
Ausgeschrieben wird ein Optisches Nahfeld Rastermikroskop im Infrarotbereich, stimmbar von 3 bis 15 Müm mit einer Ortsauflösung unter 50 Müm. Die detaillierte Leistungsbeschreibung entnehmen Sie bitte dem Dokument „Kriterienkatalog" (siehe Vergabeunterlagen). Ansicht der Beschaffung »
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2019-07-17   Rasterkraftmikroskop (Universität Greifswald)
Rasterkraftmikroskop, zzgl. inverses Mikroskop. Ansicht der Beschaffung »
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2019-06-06   Lieferung eines nanoskaligen auf fotothermisch induzierter Resonanztechnik beruhenden Infrarotspektrometers (Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt e. V. (DLR) – Berlin)
Lieferung eines nanoskaligen auf fotothermisch induzierter Resonanztechnik beruhenden Infrarotspektrometers. Ansicht der Beschaffung »
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2018-10-09   Beschaffung eines 2-Photonen kompatiblen Mikroskopsystems (Universitätsmedizin Göttingen (UMG), Georg-August-Universität, Stiftung Öffentlichen Rechts)
Die Universitätsmedizin Göttingen, Georg-August-Universität (im folgenden UMG genannt) plant die Beschaffung eines 2-Photonen kompatiblen Mikroskop-Systems, für die 2-Photonenmikroskopie und gleichzeitige Uncaging-Experimente am European Neuroscience Institute (ENI) in 3 Losen, als Kauf. Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: Bruker France SAS Coherent Europe B.V. Multi Channel Systems MCS GmbH
2017-07-28   EO006-17 Nanolab: Herstellung, Lieferung und Installation eines Rasterkraftmikroskops (AFM) inkl. Training (Deutsches Elektronen-Synchrotron DESY)
Herstellung, Lieferung, Installation eines Rasterkraftmikroskops (AFM) inkl. Training/Einweisung: Das hochauflösende, vielseitige Raster-Kraftmikroskop (AFM) dient zur Charakterisierung von Oberflächen auf Nanoskala mittels unterschiedlicher Raster-Kraft Abbildungsmodi, Rastertunnelmikroskopie, sowie (simultane) Messung von Topographie und lokaler elektrischer Leitfähigkeit, quantitativen Kraft-Modus basierend auf Kraft-Abstandskurven, Raster Kraftspektroskopie, und Kelvin-Probe zur Messung von … Ansicht der Beschaffung »
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2017-01-19   Weißlichtinterferometer (Fraunhofer Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e. V. über Vergabeportal deutsche eVergabe)
Das Fraunhofer IPMS sucht für die Charakterisierung seiner Produkte innerhalb einer 200 mm Waferfertigungslinie ein Weißlichtinterferometer zur hochauflösenden vollautomatischen topographischen Vermessung von 200 mm Wafern im Front- und Backendprozess, sowie zur Analyse bereits aus dem Waferverbund vereinzelter Chips. Das Weißlichtinterferometer soll in zwei Aufgabenbereichen eingesetzt werden. Diese gliedern sich in den Bereich der sogenannten Oberflächen-MEMS-Technologie „A“ und der BULK-MEMS … Ansicht der Beschaffung »
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