Rasterelektronenmikroskop und ein FIB-REM

Fraunhofer Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e. V. über Vergabeportal deutsche eVergabe

Das Fraunhofer-Institut für Mikrostruktur von Werkstoffen und Systemen IMWS sucht für das Center für Angewandte Mikrostrukturdiagnostik CAM zur elektrischen Charakterisierung und zur elektronenstrahlbasierten Defektlokalisierung an mikroelektronischen Schaltkreisstrukturen ein Rasterelektronenmikroskop (REM), nachfolgend als „Los 1“ bezeichnet, sowie zur mikrostrukturellen Untersuchung von Materialien der Mikroelektronik und Mikrosystemtechnik eine fokussierende Ionenstrahlanlage (FIB) mit integriertem Rasterelektronenmikroskop (REM) als kombinierte Zweistrahlanlage, nachfolgend „Los 2“ genannt.

Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2018-07-11. Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2018-06-11.

Anbieter
Die folgenden Lieferanten werden in Vergabeentscheidungen oder anderen Beschaffungsunterlagen erwähnt:
Wer?

Wie?

Wo?

Geschichte der Beschaffung
Datum Dokument
2018-06-11 Auftragsbekanntmachung
2018-08-13 Ergänzende Angaben
2018-10-11 Bekanntmachung über vergebene Aufträge
Ergänzende Angaben (2018-08-13)
Rechtliche, wirtschaftliche, finanzielle und technische Informationen
Rechtsgrundlage
Beschreibung

Öffentlicher Auftraggeber
Name und Adressen
Name:
“Fraunhofer Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. über Vergabeportal deutsche eVergabe”
Postanschrift: Hansastr. 27c
Postort: München
Postleitzahl: 80686
Land: Deutschland 🇩🇪
E-Mail: fraunhofer@deutsche-evergabe.de 📧
Region: München, Kreisfreie Stadt 🏙️
URL: http://www.fraunhofer.de 🌏
Adresse des Käuferprofils: http://www.deutsche-evergabe.de 🌏

Objekt
Umfang der Beschaffung
Titel: Rasterelektronenmikroskop und ein FIB-REM E_869_226472 ChrPat-golame
Produkte/Dienstleistungen: Rasterelektronenmikroskope 📦
Kurze Beschreibung:
“Das Fraunhofer-Institut für Mikrostruktur von Werkstoffen und Systemen IMWS sucht für das Center für Angewandte Mikrostrukturdiagnostik CAM zur elektrischen...”    Mehr anzeigen

Ergänzende Informationen
Referenz der ursprünglichen Mitteilung
Nummer der Bekanntmachung im Amtsblatt S: 2018/S 111-252497

Änderungen
Zu berichtigender Text in der ursprünglichen Bekanntmachung
Nummer des Abschnitts: IV.2.6)
Ort des zu ändernden Textes: Bindefrist des Angebots
Alter Wert
Datum: 2018-08-10 📅
Zeit: 23:59
Neuer Wert
Datum: 2018-08-31 📅
Zeit: 23:59
Quelle: OJS 2018/S 156-358323 (2018-08-13)
Bekanntmachung über vergebene Aufträge (2018-10-11)
Öffentlicher Auftraggeber
Name und Adressen
Name:
“Fraunhofer Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e. V. über Vergabeportal deutsche eVergabe”
Art des öffentlichen Auftraggebers
Andere Art: Forschungsgesellschaft e. V.

Objekt
Umfang der Beschaffung
Gesamtwert der Beschaffung (ohne MwSt.): EUR 0.01 💰
Informationen über Lose
Dieser Vertrag ist in Lose unterteilt

1️⃣
Umfang der Beschaffung
Titel: Rasterelektronenmikroskop
Titel
Los-Identifikationsnummer: 1
Beschreibung
Zusätzliche Produkte/Dienstleistungen: Rasterelektronenmikroskope 📦
Ort der Leistung: Halle (Saale), Kreisfreie Stadt 🏙️
Hauptstandort oder Erfüllungsort: 06120 Halle (Saale)
Beschreibung der Beschaffung:
“Die zentrale Funktionalität des Gerätes soll bei einer möglichst hohen Abbildungsqualität bei möglichst geringen Beschleunigungsspannungen und möglichst...”    Mehr anzeigen
Vergabekriterien
Qualitätskriterium (Bezeichnung): Erforderliche technische Leistungsparameter REM
Qualitätskriterium (Gewichtung): 35
Qualitätskriterium (Bezeichnung): Ergänzende technische Leistungsparameter
Qualitätskriterium (Gewichtung): 10
Qualitätskriterium (Bezeichnung): Zweckmäßigkeit für Projektaufgaben
Qualitätskriterium (Bezeichnung): Optionen, Installation, Betriebskosten, Sonstiges
Preis (Gewichtung): 35
Informationen über Optionen
Optionen
Beschreibung der Optionen: Service und Wartung, Gewährleistungsverlängerung

2️⃣
Umfang der Beschaffung
Titel: FIB-REM Zweistrahlgerät
Titel
Los-Identifikationsnummer: 2
Beschreibung
Zusätzliche Produkte/Dienstleistungen: Ionenmikroskope 📦
Beschreibung der Beschaffung:
“Der Schwerpunkt des Einsatzbereiches dieses Gerätes liegt dabei in der effizienten nanometerpräzisen Zielpräparation für die elektronenmikroskopische...”    Mehr anzeigen
Vergabekriterien
Qualitätskriterium (Bezeichnung): erfoderliche technische Leistungsparameter REM
Qualitätskriterium (Gewichtung): 15
Qualitätskriterium (Bezeichnung): erforderliche technische Leistungsparameter FIB
Qualitätskriterium (Gewichtung): 20
Qualitätskriterium (Bezeichnung): ergänzende technische Leistungsparameter
Informationen über Optionen
Beschreibung der Optionen:
“In-situ Lift-out System, BSE-Detektortypen, integrierte Auto-FIB/TEM Routinen, Service und Wartung, Gewährleistungsverlängerung”

Verfahren
Art des Verfahrens
Offenes Verfahren
Administrative Informationen
Frühere Veröffentlichungen zu diesem Verfahren: 2018/S 111-252497

Auftragsvergabe

1️⃣
Los-Identifikationsnummer: 1
Titel: Rasterelektronenmikroskop
Datum des Vertragsabschlusses: 2018-08-27 📅
Informationen über Ausschreibungen
Anzahl der eingegangenen Angebote: 4
Name und Anschrift des Auftragnehmers
Name: Carl-Zeiss Microscopy GmbH
Postanschrift: Carl-Zeiss Str. 22
Postort: Oberkochen
Postleitzahl: 73447
Land: Deutschland 🇩🇪
Region: Baden-Württemberg 🏙️
Der Auftragnehmer ist ein KMU
Angaben zum Wert des Auftrags/der Partie (ohne MwSt.)
Gesamtwert des Auftrags/Loses: EUR 0.01 💰

2️⃣
Vertragsnummer: 2
Los-Identifikationsnummer: 2
Titel: FIB-REM Zweistrahlgerät
Angaben zum Wert des Auftrags/der Partie (ohne MwSt.)
Gesamtwert des Auftrags/Loses: EUR 0.01 💰

Ergänzende Informationen
Zusätzliche Informationen

“— Anforderung Unterlagen – erhältlich bei: Die Vergabeunterlagen können ausschließlich über das Vergabeportal der deutschen e-Vergabe unter...”    Mehr anzeigen
Körper überprüfen
Name: Vergabekammer des Bundes beim Bundeskartellamt
Postanschrift: Villemombler Straße 76
Postort: Bonn
Postleitzahl: 53123
Land: Deutschland 🇩🇪
Für Mediationsverfahren zuständige Stelle
Name: Vergabeprüfstelle des BMBF Referat Z 23
Postanschrift: Heinemannstraße 2
Postort: Bonn
Postleitzahl: 53175
Land: Deutschland 🇩🇪
Verfahren zur Überprüfung
Genaue Informationen über Fristen für Überprüfungsverfahren:
“Ein Nachprüfungsantrag ist unzulässig, soweit mehr als 15 Kalendertage nach Eingang der Mitteilung des Auftraggebers, einer Rüge nicht abhelfen zu wollen,...”    Mehr anzeigen
Dienststelle, bei der Informationen über das Überprüfungsverfahren eingeholt werden können
Name:
“Fraunhofer Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e. V. über Vergabeportal eVergabe”
Postanschrift: Hansastraße 27c
Postort: München
Postleitzahl: 80686
Land: Deutschland 🇩🇪
E-Mail: einkauf@zv.fraunhofer.de 📧
URL: http://www.fraunhofer.de 🌏
Quelle: OJS 2018/S 198-447887 (2018-10-11)