Beschaffungen: Ionenmikroskope

14 archivierte Beschaffungen

Ionenmikroskope wurden von Organisationen wie den folgenden erworben Otto-von-Guericke-Universität Magdeburg, Abt. Beschaffung, Zahlstelle (K13), Forschungsverbund Berlin e.V. und Fraunhofer Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e. V. über Vergabeportal deutsche eVergabe.
In der Vergangenheit waren die Anbieter in diesem Bereich FEI Deutschland GmbH, Elektronen-Optik-Service GmbH, Carl Zeiss Microscopy Deutschland GmbH, Carl Zeiss Microscopy GmbH, Carl-Zeiss Microscopy GmbH, TESCAN GmbH und Thermo Fisher Scientific, FEI Deutschland GmbH.

Die jüngsten Beschaffungen von ionenmikroskope in Deutschland

2023-06-26   OV_LK_Zweistrahlrastermikroskop (Plasma FIB) (Forschungsverbund Berlin e.V.)
Das Leibniz-Institut für Kristallzüchtung im Forschungsverbund Berlin e.V. baut im Rahmen eines Förderprojektes des Europäischen Fonds für Regionale Entwicklung ein Applikationslabor für die In-situ-(Raster)Transmissionselektronenmikroskopie ((S)TEM) auf, um die Entwicklung von Materialien für die Anwendung in mikroelektronischen, optoelektronischen und Leistungsbauelementen voranzutreiben. ln-situ- und ln-operando-Techniken haben sich international als Schlüssel zur Weiterentwicklung von Materialien und … Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: Thermo Fisher Scientific, FEI Deutschland GmbH
2022-03-04   Präzisions-Argon-Ionenstrahlanlage (Otto-von-Guericke-Universität Magdeburg, Abt. Beschaffung, Zahlstelle (K13))
Präzisions-Argon-Ionenstrahlanlage Ansicht der Beschaffung »
2021-12-20   Plasma Focused Ion Beam (PFIB) mit Rasterelektronenmikroskop (SEM) (Philipps-Universität Marburg)
Plasma Focused Ion Beam (PFIB) mit Rasterelektronenmikroskop (SEM) Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: FEI Deutschland GmbH
2021-11-02   Lieferung, Installation, Inbetriebnahme und Wartung eines Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (Universität der Bundeswehr München)
Auftragsgegenstand ist die Lieferung, Installation, Inbetriebnahme und Wartung eines Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) sowie zugehörige Service- und Schulungsleistungen. Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: Carl Zeiss Microscopy Deutschland GmbH
2021-07-28   Focus-Ion-Beam-System (Helmholtz-Zentrum Dresden-Rossendorf e.V.)
Award of contract for the delivery, installation, commissioning, Factory Acceptance Test and Site Acceptance Test of a UHV Triple Beam System Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: TESCAN GmbH
2021-04-23   Focused Ion Beam System zur Präparation von Querschnitten und TEM Lamellen (Leibniz-Institut f. Plasmaforschung & Technologie)
Im Campfire Verbundvorhaben werden innerhalb mehrerer gegenwärtiger und zukünftiger Projekte mehrschichtige elektrochemische Zellen synthetisiert und untersucht. Von besonderer Bedeutung für die Analytik sind gezielte Probenquerschnitte und TEM (Transmissionselektronenmikroskopie) Präparate, da diese die Qualität der Analyse wesentlich verbessern. Synthese und Materialeigenschaften werden damit nach besten Standard evaluiert, wodurch der Wert von wissenschaftlichen und technische Ergebnissen deutlich … Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: FEI Deutschland GmbH
2020-01-30   FIB-REM mit LHe-Kryotisch (Los 1) (Otto-von-Guericke-Universität Magdeburg, Abt. Beschaffung, Zahlstelle (K13))
Elektronen-Ionenstrahl-Mikroskop (FIB-SEM). Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: FEI Deutschland GmbH
2019-07-05   Elektronen-Ionen-Mikroskop (FIB/SEM) (Helmholtz-Zentrum Dresden – Rossendorf e. V.)
Elektronen-Ionen-Mikroskops (FIB/SEM) für die in situ TEM-Lamellenpräparation. Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: FEI Deutschland GmbH
2018-06-11   Rasterelektronenmikroskop und ein FIB-REM (Fraunhofer Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e. V. über Vergabeportal deutsche eVergabe)
Das Fraunhofer-Institut für Mikrostruktur von Werkstoffen und Systemen IMWS sucht für das Center für Angewandte Mikrostrukturdiagnostik CAM zur elektrischen Charakterisierung und zur elektronenstrahlbasierten Defektlokalisierung an mikroelektronischen Schaltkreisstrukturen ein Rasterelektronenmikroskop (REM), nachfolgend als „Los 1“ bezeichnet, sowie zur mikrostrukturellen Untersuchung von Materialien der Mikroelektronik und Mikrosystemtechnik eine fokussierende Ionenstrahlanlage (FIB) mit integriertem … Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: Carl-Zeiss Microscopy GmbH
2017-04-04   Multifunktionales-Rasterelektronenmikroskop (Technische Universität Chemnitz)
Lieferung und Installation eines Multifunktionalen-Rasterelektronenmikroskops (ein Kombinationsgerät aus Rasterelektronenmikroskop und Rasterionenmikroskop). Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: Elektronen-Optik-Service GmbH
2016-08-09   Beschaffung eines Focused-Ion-Beam-Rasterelektronenmikroskop (FIB-REM) (Hochschule für Angewandte Wissenschaften München)
Die Hochschule München beabsichtigt im Rahmen eines Forschungsprojektes die Beschaffung eines Focused-Ion-Beam Rasterelektronenmikroskops (FIB-REM). Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: Elektronen-Optik-Service GmbH
2014-07-07   Lieferung und Installation eines hochauflösenden kombinierten Niederspannungsrasterelektronen- und... (Kurt-Schwabe-Institut für Mess- und Sensortechnik e. V. Meinsberg)
Die Ausschreibung umfasst die Lieferung, Installation und Inbetriebnahme (inklusive Schulung) eines hochauflösenden kombinierten Niederspannungsrasterelektronen- und Ionenstrahlmikroskops für materialwissenschaftliche Untersuchungen auf dem Gebiet der modernen Sensorforschung. Dabei stehen insbesondere hoch auflösende Untersuchungen an nanostrukturierten Materialien für die biologisch-physikalische, elektrochemische und Gassensorik sowie die Erweiterung der am Institut vorhandenen abtragenden und … Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: FEI Deutschland GmbH
2014-03-20   Zweistrahlgerät FIB/REM mit Nanomanipulator und Analytik (Technische Universität Chemnitz, Zentrale Beschaffung)
Lieferung und Installation eines Zweistrahlgerätes FIB/REM mit Nanomanipulator und Analytik. Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: Carl Zeiss Microscopy GmbH
2011-05-13   Helium-Ionen-Mikroskop (Karlsruher Institut für Technologie (KIT) Großforschungsbereich)
Helium basiertes Raster-Ionen-Mikroskop mit einer Auflösung im Subnanometer-Bereich zur Abbildung von organischen und anorganischen Materialien. Das Mikroskop soll zur Abbildung und Strukturierung von mikro- und nanostrukturierten Oberflächen verwendet werden können. Ansicht der Beschaffung »
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Produkte/Dienstleistungen: Laborgeräte, optische Geräte und... Apparate und Geräte zum Prüfen und Testen Mikroskope Ionen- und Molekularmikroskope Ionenmikroskope Elektronenmikroskope Rasterelektronenmikroskope Verschiedene Bestandteile von Mikroskopen Mikroskopokulare, -kondensatoren,... Mikroskoptische