Neuere Beschaffungen, bei denen der Anbieter JPK Instruments AG erwähnt wird
2017-12-11High Resolution Atomic Force Microscope (Universität Siegen)
Nanoscale probe system: a high-resolution atomic force microscope (AFM) suitable for opera-tion with an inverted optical microscope and as a standalone unit. In the first case, the AFM should be customized to be able to perform specific nano-optical experiments and involve a set of high-numerical aperture (NA) objectives to be employed with the custom AFM system mounted on an inverted microscope. Moreover, the AFM should be employed with liquids for experiments related to biointerfaces.
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2017-08-14AFM-Rasterkraftmikroskop (Friedrich-Schiller-Universität Jena)
Für Forschungsarbeiten im Bereich Materialwissenschaft und Biomaterialforschung benötigt der Auftraggeber ein (1) AFM-Rasterkraftmikroskop mit bestimmten in Kapitel 2.1 der Vergabeunterlagen näher beschriebenen Mindestanforderungen. Es handelt sich bei der vorliegenden Ausschreibung um eine Festpreisausschreibung gemäß § 58 Abs. 2 Satz 3 VgV. D. h. im Projekt steht ein Gesamtbudget in Höhe von 400 000 EUR (brutto) zur Verfügung.
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2016-05-24Rasterkraftmikroskop (Friedrich-Schiller-Universität Jena)
Benötigt wird ein (1) Rasterkraftmikroskop zur topografischen Analyse (AFM-Imaging) und für Reibungsmessungen mit höchster AFM-Auflösung an Luft sowie in Flüssigkeiten. Unbedingt erforderlich sind AFM-Messköpfe, die jeweils für die besonderen Messaufgaben optimiert sind. Weiterhin ist ein AFM-Messkopf erforderlich, der über einen umfangreichen Scanbereich mit niedrigem Rauschsignal verfügt. Das Gerätesystem muss sich zudem mit modernen (fluoreszenz-) mikroskopischen Verfahren kombinieren lassen. Die …
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2015-01-12Rasterkraftmikroskop (AFM) (Universität des Saarlandes)
Das Gerät wird zur topografischen Analyse (AFM-Imaging) und zur Kraft-Abstands-Spektroskopie mit höchster AFM-Auflösung auf Proben in Luftatmosphäre und in Flüssigkeiten eingesetzt. Unbedingt erforderlich ist ein umfangreicher Scanbereich mit niedrigem Rauschsignal. Das Gerät muss sich mit modernen (fluoreszenz-)mikroskopischen Verfahren (wie Konfokalmikroskopie, FRAP, TIRF) kombinieren lassen; die Probentemperierung muss variiert werden können.
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2013-09-16Beschaffung eines Rasterkraftmikroskops (DFG-GZ: A 658) (Deutsche Forschungsgemeinschaft e. V., Zentrale Beschaffungsstelle)
Die vorgesehenen Anwendungsgebiete für das beantragte Gerät sind die topografische Analyse (AFM-Imaging) biologischer Präparate sowie Kraftspektroskopie mit höchster AFM-Auflösung. Die Untersuchung biologischer Präparate erfordert einen großen Scanbereich mit niedrigem Rauschsignal. Des weiteren ist die Kombination mit modernen (fluoreszenz)mikroskopischen Verfahren erforderlich, wofür auch eine Kamera benötigt wird. Biologische bzw. biophysikalische Versuche erfordern die Temperierung der Proben unter …
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2012-06-04AFM-System mit integriertem inversem Fluoreszenzmikroskop und Fluoreszenzauflichtmikroskop AZ 225004/12 (Technische Universität Dresden)
Das Ziel der Ausschreibung ist die Beschaffung eines geeigneten und leistungsstarken AFM-Systems mit integriertem inversem Fluoreszenzmikroskop und Fluoreszenzauflichtmikroskop, wobei Lieferung, Aufstellung, Inbetriebnahme und Einweisung in die Nutzung, Auswertung und Problembehebung eingeschlossen sind.
Mit Hilfe des gesamten Aufbaus sollen einzelne Moleküle und Zellen sowie Gewebeschnitte des zentralen Nervensystems verschiedener Modellorganismen ex vivo optisch abgebildet und mittels AFM vermessen …
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