Anbieter: FEI Deutschland GmbH

>20 archivierte Beschaffungen

FEI Deutschland GmbH war in der Vergangenheit ein Lieferant von laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (außer Gläser), apparate und Geräte zum Prüfen und Testen und mikroskope.

In der Vergangenheit waren die konkurrierenden Bieter Agilent Technologies Sales & Services GmbH & Co. KG, Faust Lab Science GmbH, Fischione Germany GmbH, Fisher Scientific GmbH, IKA-Werke GmbH & Co.KG, Sigma Aldrich Chemie GmbH und VWR International GmbH.

Neuere Beschaffungen, bei denen der Anbieter FEI Deutschland GmbH erwähnt wird

2023-07-07 electron scanning microscope - PR417004-2240-W (Fraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12)
electron scanning microscope Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: FEI Deutschland GmbH

2023-06-27 DFG-GZ: INST 480/4-1 (A 953)_Elektronenmikroskop (Deutsche Forschungsgemeinschaft e.V.)
Lieferung und Installation eines Elektronenmikroskops gemäß beigefügter Leistungsbeschreibung für die Hochschule Bremen Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: FEI Deutschland GmbH

2023-06-07 Rasterelektronenmikroskop IZHH (Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt e.V. (DLR))
Beschaffung eines Rasterelektronenmikroskops (SEM/FIB-Zweistrahlanlage) zur Ausstattung des Innovationszentrums Hamburg des DLR im Rahmen der Quantencomputing-Initiative einschließlich Lieferung, Einbringung in die Laborräumlichkeiten des Auftraggebers, Abnahme, Inbetriebnahme und Schulung sowie anschließendem Service/Wartung. Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: FEI Deutschland GmbH

2023-03-15 EU-OV/2023-41 (Friedrich-Schiller-Universität Jena)
Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beabsichtigt für das Jena Center for Soft Matter (JCSM) und das Institut für Makromolekulare Chemie und Organische Chemie (IOMC) den Kauf eines High Vacuum Feldemissions-Rasterelektronenmikroskops zur Untersuchung von polymeren Proben, selbstheilenden Materialien, polymeren Nanopartikeln und Materialien aus der Batterieforschung. Das Gerät soll explizit die vorhandenen Infrastruktur erweitern. Im JCSM steht bereits ein FE-Rasterelektronenmikroskop mit „variable … Ansicht der Beschaffung »
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2023-02-08 Hochauflösendes Zweistrahlgerät FIB SEM für die Chipanalyse (Bundesrepublik Deutschland, vertreten durch das Beschaffungsamt des BMI)
Lieferung eines Zweistrahlgeräts zur FIB / SEM für die Chipanalyse Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: FEI Deutschland GmbH

2022-08-16 Gallium FIB-SEM dual beam System (Max-Planck-Institut für chemische Physik fester Stoffe)
Lieferung und Installation eines Gallium FIB-SEM dual beam Systems Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: FEI Deutschland GmbH

2022-07-15 Beschaffung Rasterelektronenmikroskop (Leibniz-Institut für Katalyse e. V.)
Lieferung, Montage und Inbetriebnahme eines Rasterelektronenmikroskops mit Analytik und Ausstattung für in situ-Experimente Ansicht der Beschaffung »
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2022-07-11 Beschaffung und Installation ESEM (Forschungsinstitut für Anorganische Werkstoffe -Glas/Keramik- GmbH)
Anzubieten ist ein komplettes E-REM ("Environmental") mit integrierter Hardware+Software-Lösung zur automatisiertes Mineralogie (Lieferung und Installation), welches nachweislich die automatische ortsaufgelöste Analyse von Rohstoffen, Industriemineralen und Keramiken ermöglicht, inklusive aller dazu benötigten Komponenten wie Software inkl. Datenbanken. Die Software soll folgende Möglichkeiten bieten: Durchführung automatischer Mappings und Partikelanalysen; Identifizierung von Mineralphasen; … Ansicht der Beschaffung »
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2022-04-27 Niederdruck- Rasterelektronenmikroskop (Universitätsklinikum Aachen AöR)
Niederdruck-Rasterelektronenmikroskop (REM) Ansicht der Beschaffung »
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2022-04-08 Transmissionselektronenmikroskop (TEM) (Karlsruher Institut für Technologie)
Lieferung, Installation, Inbetriebnahme und Einweisung eines Transmissionselektronenmikroskops (TEM) gemäß der beigefügten technischen Spezifikation (Anlage 01). Ansicht der Beschaffung »
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2022-03-29 Lieferung, Installation und Inbetriebnahme eines Rasterelektronenmikrokop (IFW Dresden)
Lieferung, Installation und Inbetriebnahme eines Rasterelektronenmikrokop Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: FEI Deutschland GmbH

2021-12-20 Plasma Focused Ion Beam (PFIB) mit Rasterelektronenmikroskop (SEM) (Philipps-Universität Marburg)
Plasma Focused Ion Beam (PFIB) mit Rasterelektronenmikroskop (SEM) Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: FEI Deutschland GmbH

2021-12-09 Lieferung von einem Rasterelektronenmikroskop für die Polizei Sachsen (Polizeiverwaltungsamt Logistikzentrum)
Für die Polizei Sachsen ist ein Rasterelektronenmikroskop gemäß Leistungsbeschreibung zu liefern. Ansicht der Beschaffung »
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2021-12-07 Röntgen-Photoelektronenspektrometer (XPS)-System (Friedrich-Schiller-Universität Jena)
Gegenstand dieser Ausschreibung ist die Vergabe der Beschaffung eines Röntgen-Photoelektronenspektrometers (XPS) zur Oberflächencharakterisierung von vornehmlich anorganischen Pulvern mit hohem Anteil der Elemente Kohlenstoff und Stickstoff sowie verschiedenen Metallen. Dieses System ist für die Nutzung am Institut für Technische Chemie und Umweltchemie der Friedrich-Schiller-Universität Jena im Rahmen des Lehr- und Forschungsbetriebs vorgesehen. Ansicht der Beschaffung »
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2021-10-08 Beschaffung Leasing/Miete von zwei (2) Cryo Elektronenmikroskopen (Helmholtz Zentrum München Deutsches Forschungszentrum für Gesundheit und Umwelt (GmbH))
Das HMGU plant am Standort Neuherberg einen vollständigen Kryo-Elektronenmikroskopie- (Kryo-EM) und -Tomographie-Workflow zu etablieren. Essentielle wissenschaftlichen Ziele sind Anwendungen für die Einzelpartikelanalyse (= SPA (single particle analysis)) in der Wirkstoffforschung und die zelluläre Kryo-EM-Tomographie. Zu diesem Zweck sollen ein 300 kV (= Kilovolt) und ein 200 kV Kryo-Transmissionselektronenmikroskop angemietet werden. Die neuen Geräte müssen uneingeschränkt kompatibel mit den am HMGU … Ansicht der Beschaffung »
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2021-08-24 Rasterelektronenmikroskop (Max-Planck-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V., Max-Planck-Institut für Plasmaphysik)
Lieferung eines Rasterelektronenmikroskops Ansicht der Beschaffung »
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2021-08-16 Cryo-Transmissionselektronenmikroskop (Friedrich-Schiller-Universität Jena)
Es soll ein hochauflösendes, automatisiertes Cryo-Transmissionselektronenmikroskop für Einzelpartikelanalyse- (SPA = single particle analysis) und insbesondere Cryo-Tomographieanwendungen angeschafft werden. Ansicht der Beschaffung »
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2021-08-11 Hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop (REM) (Leibniz-Institut f. Plasmaforschung & Technologie)
Für die Untersuchungen von Querschnitten zur Mikrostruktur von MEAs auf der Basis von elektrokeramischen Dünnschichten neuer niedriger Edelmetall-Katalysatoren, High-Entropy-Alloys sowie pulverförmigen keramischen Materialien die in Technologien zur Ammoniak Synthese bzw. zur Ammoniak Nutzung als Kraftstoff eingesetzt werden, sind essentiell für die Entwicklung dieser neuen Nanomaterialien und deren Fertigungsverfahren. Des Weiteren werden im Mikroskop Querschnitt beschichtete Stahlproben und Bauteile … Ansicht der Beschaffung »
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2021-07-14 Rasterelektronenmikroskop — E_031_302800 (Fraunhofer-Gesellschaft, Einkauf und Gerätewirtschaft C 2)
Rasterelektronenmikroskop. Ansicht der Beschaffung »
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2021-05-17 Lieferung eines hochauflösenden Feldemissions-Elektronenmikroskops mit integrierter focused-ion-beam Technik (Technische Universität München)
Die Forschungs-Neutronenquelle Heinz Maier-Leibnitz (FRM II) der Technischen Universität München beschafft die Lieferung und vollständigen Inbetriebnahme eines hochauflösenden Feldemissions-Elektronenmikroskops mit integrierter focused-ion-beam Technik, („FIB-SEM“), zur mikroskopischen materialwissenschaftlichen Untersuchung von Kernbrennstoffen. Ansicht der Beschaffung »
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2021-05-17 TEM (Max Rubner-Institut (MRI))
Transmissionselektronenmikroskop (TEM). Ansicht der Beschaffung »
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2021-04-23 Focused Ion Beam System zur Präparation von Querschnitten und TEM Lamellen (Leibniz-Institut f. Plasmaforschung & Technologie)
Im Campfire Verbundvorhaben werden innerhalb mehrerer gegenwärtiger und zukünftiger Projekte mehrschichtige elektrochemische Zellen synthetisiert und untersucht. Von besonderer Bedeutung für die Analytik sind gezielte Probenquerschnitte und TEM (Transmissionselektronenmikroskopie) Präparate, da diese die Qualität der Analyse wesentlich verbessern. Synthese und Materialeigenschaften werden damit nach besten Standard evaluiert, wodurch der Wert von wissenschaftlichen und technische Ergebnissen deutlich … Ansicht der Beschaffung »
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2021-04-23 Lieferung eines Transmissionselektronenmikroskop (TEM) der 120 kV-Klasse mit EDX und STEM (Universität Rostock)
Lieferung und Installation eines Transmissionselektronenmikroskops (TEM) der 120 kV Klasse mit EDX und STEM. Ansicht der Beschaffung »
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2021-04-09 E_028_288467 Stla-pehue, Röntgen-Photoelektronenspektrometer (XPS) (Fraunhofer-Gesellschaft, Einkauf und Gerätewirtschaft C2)
Röntgen-Photoelektronenspektrometer (XPS). Ansicht der Beschaffung »
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2020-12-08 Cryo-TEM (Friedrich-Loeffler-Institut (FLI))
Cryo-TEM. Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: FEI Deutschland GmbH

2020-10-26 Beschaffung von Laborbedarf (6) (Westfälische Wilhelms-Universität Münster)
Beschaffung von Laborbedarf als Ersteinrichtung eines Forschungsneubaus. Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: Agilent Technologies Sales & Services... Faust Lab Science GmbH FEI Deutschland GmbH Fisher Scientific GmbH IKA-Werke GmbH & Co.KG Sigma Aldrich Chemie GmbH VWR International GmbH

2020-08-25 Lieferung Rasterelektronenmikroskop (REM) (Universität Ulm)
Lieferung, Aufstellung und Inbetriebnahme eines Rasterelektronenmikroskopes. Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: FEI Deutschland GmbH

2020-05-08 Lieferung und Inbetriebnahme eines Rasterelektronenmikroskop (Deutsches Zentrum für Neurodegenerative Erkrankungen e.V.)
Lieferung und Inbetriebnahme eines Rasterelektronenmikroskops. Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: FEI Deutschland GmbH

2020-01-30 FIB-REM mit LHe-Kryotisch (Los 1) (Otto-von-Guericke-Universität Magdeburg, Abt. Beschaffung, Zahlstelle (K13))
Elektronen-Ionenstrahl-Mikroskop (FIB-SEM). Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: FEI Deutschland GmbH

2019-08-02 FIB/SEM Kombinationsanlage mit ToF-SIMS Detektor (Albert-Ludwigs-Universität Freiburg)
Die Auftraggeberin (AG) beabsichtigt eine FIB/SEM Kombinationsanlage mit ToF-SIMS Detektor zu beschaffen. Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: FEI Deutschland GmbH

2019-07-09 Lief. und Inbetriebnahme eines Focused Ion Beam (V0505/2019) (Leibniz-Institut für Werkstofforientierte Technologien – IWT)
Lieferung und Inbetriebnahme eines Focused Ion Beam. Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: FEI Deutschland GmbH

2019-07-05 Elektronen-Ionen-Mikroskop (FIB/SEM) (Helmholtz-Zentrum Dresden – Rossendorf e. V.)
Elektronen-Ionen-Mikroskops (FIB/SEM) für die in situ TEM-Lamellenpräparation. Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: FEI Deutschland GmbH

2019-06-28 Rasterelektronenmikroskop (Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt e. V. (DLR))
Beschaffung eines Rasterelektronenmikroskops/ESEM (Environmental Scanning Electron Microscope) nebst Zug-Druck-Lastrahmen für das DLR-Institut für Test und Simulation für Gasturbinen in Augsburg. Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: FEI Deutschland GmbH

2019-05-08 Transmissionselektronenmikroskop mit energiedispersiver Röntgenanalytik (Technische Universität Dortmund)
Lieferung und Inbetriebnahme eines Transmissionselektronenmikroskops. Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: FEI Deutschland GmbH

2019-04-01 Analytisches 200 kV Transmissionselektronenmikroskop und Gerät zur TEM-Probennachbearbeitung (Universität Ulm)
Analytisches 200 kV Transmissionselektronenmikroskop und Gerät zur Nachbearbeitung von FIB-Lamellen und klassische TEM-Proben. Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: FEI Deutschland GmbH Fischione Germany GmbH

2019-03-01 Dual-Beam-FIB/SEM-Anlage (Los 1/2) (Technische Universität Braunschweig - Abteilung 22 Vergaberecht und Beschaffung)
Dual-Beam-FIB/SEM-Anlage (Los 1/ 2) Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: FEI Deutschland GmbH

2019-02-20 Vergabeverfahren zur Lieferung von 2 Mikroskopen (Universität Heidelberg)
Vergabeverfahren zur Lieferung von 2 Mikroskopen. Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: FEI Deutschland GmbH

2018-10-23 200kV Kryo-FEG-Transmissionselektronenmikroskop (Universität Potsdam, Dezernat für Haushalt und Beschaffung)
Gegenstand der Vergabe ist ein 200 kV Kryo-FEG-Transmissionselektronenmikroskop bestehend aus den Komponenten Mikroskop, Kamerasystem, Kryo-Transferhalter und Vakuumpumpstation. Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: FEI Deutschland GmbH

2018-08-31 200 kV Elektronen-Kryomikroskop (Martin-Luther-Universität Halle-Wittenberg, Abteilung 4 – Bau, Liegenschaften und Gebäudemanagement)
Lieferung und Inbetriebnahme eines 200 kV Elektronen-Kryomikroskopes Ansicht der Beschaffung »
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2018-08-23 Lieferung eines Transmissions- Elektronen-Mikroskops (TEM) (Helmholtz-Zentrum Potsdam, Deutsches GeoForschungsZentrum GFZ – Einkauf)
Lieferung eines Transmissions-Elektronen-Mikroskops (TEM) mit 300 keV Acceleration Voltage und Ultrahochauflösung im STEM- und Imaging-Modus für geowissenschaftliche Anwendungszwecke. Das Gerät muss auch für Cryo-Anwendungen einsetzbar sein. Ansicht der Beschaffung »
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2018-07-05 Rasterelektronenmikroskop für Kathodolumineszenzuntersuchungen (Forschungsverbund Berlin e. V.)
Wir benötigen ein Rasterelektronenmikroskop für Kathodolumineszenzuntersuchungen bei niedrigen Temperaturen sowie hochauflösender Oberflächenanalytik. Die Leistungsbeschreibung finden Sie unter der Ausschreibungsnummer „AS 08/17-18“ auf unserer Homepage unter: www.fv-berlin.de/administration/einkauf-bau-liegenschaften-1/ausschreibungen/ausschreibungen. Ansicht der Beschaffung »
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2018-06-20 Rasterelektronenmikroskop (Universität Duisburg-Essen)
Lieferung eines hochauflösenden Ratserlektronenmikroskop Ansicht der Beschaffung »
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2018-04-27 Analytisches, hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop mit fokussiertem Ionenstrahl (SEM/FIB) (Bauhaus-Universität Weimar, Dezernat Finanzen)
Lieferung, Montage und Inbetriebnahme eines analytischen, hochauflösenden Rasterelektronenmikroskops mit fokussiertem Ionenstrahl (SEM/FIB) Ansicht der Beschaffung »
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2018-02-19 Uni-HD.2018.150 Elektronenmikroskop (FIBSEM)_Bioquant (Universität Heidelberg)
Vergabeverfahren zur Lieferung eines Elektronenmikroskops (FIBSEM). (ein state-of-the-art dual-beam FIBSEM Mikroskop mit dediziertem Probentisch für die Präparation von Kryo-Lamellen). Ansicht der Beschaffung »
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2017-08-09 Supply of a scanning electron microscope to be used for the analysis of nuclear material (European Commission, Joint Research Centre (JRC), JRC.G — Nuclear Safety and Security (Karlsruhe), JRC.G.III.8 — Waste Managemen)
The JRC Karlsruhe plans to purchase a scanning electron microscope to back up the current investigations on safety of nuclear fuels and materials. In order to characterise effectively highly heterogeneous materials such as irradiated nuclear fuel in terms of chemical, mechanical, physical and thermal properties it is necessary to characterise specific phases and/or regions formed during irradiation. The SEM concept envisaged here shall greatly contribute to singling out phases or regions of interest for … Ansicht der Beschaffung »
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2017-07-18 B19.36-1974/16_Rasterelektronenmikroskop BKA KT41 (Beschaffungsamt des Bundesministeriums des Innern)
Rasterelektronenmikroskop-System (REM). Ansicht der Beschaffung »
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2017-06-16 Kamera und Probenhalter (Forschungsverbund Berlin e. V.)
Probenhalter und Kamera zur zeitaufgelösten transmissionselektronmikroskopischen Erfassung struktureller Veränderungen kristalliner Materialien unter thermischer und elektrischer Last Ansicht der Beschaffung »
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2017-02-13 Lieferung eines Raster-Elektronenmikroskops für metrologische Anwendungen (Physikalisch-Technische Bundesanstalt)
Lieferung eines Raster-Elektronenmikroskops für metrologische Anwendungen gemäß Leistungsbeschreibung (s. Vergabeunterlagen). Ansicht der Beschaffung »
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2017-02-09 201701 – Tomographiepaket (Albert-Ludwigs-Universität Freiburg)
Die Auftraggeberin (AG) beabsichtigt ein Gerätepaket bestehend aus: — 1x 200 kV Hochauflösendes Transmissionselektronenmikroskop zur Kippserientomographie (HR-TEM), — 1x 120 kV Transmissionselektronenmikroskop zur Kippserientomographie (HR-TEM), — 1x FIB/SEM Kombinationsanlage zur Schnittserientomographie zu beschaffen. Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: FEI Deutschland GmbH

2016-11-11 Xe-Plasma Focused-Ion Beam (Xe-FIB/SEM) (Max-Planck-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e. V.)
Kauf, Installation und Abnahme einer X-FIB. Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: FEI Deutschland GmbH