2023-07-11Rasterelektronenmikroskop (Friedrich-Schiller-Universität Jena)
Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beabsichtigt zur schnellen Probeninspektion und Vermessung von Nano- und Mikrostrukturen ein Rasterelektronenmikroskop (REM) anzuschaffen. Typische Messaufgaben sind die Analyse von 3D-Strukturen, die mittels Mikrostrukturverfahren hergestellt wurden. Eine typische Anwendung ist die Bildaufnahme von wenig oder nicht leitfähigen Proben.
Zum Einsatz kommt das REM hauptsächlich bei folgenden wissenschaftlichen Fragestellungen:
- Untersuchung von Proben während der …
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2023-04-17Kryo-TEM (Max-Planck-Institut für Kolloid- und Grenzflächenforschung)
Anschaffung eines Transmissionselektronenmikroskops für Kryo- und Niedrigdosisbeobachtungen, das die bestehenden TEM-Einrichtungen am Max-Planck-Institut für Kolloid- und Grenzflächenforschung ergänzt. Für die Installation sind Geräte zur Kompensation von Vibrationen und Magnetfeldern erforderlich.
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2022-07-21Cryo-REM (Universität Koblenz-Landau)
Beschaffung eines Feldemissions-Rasterelektronenmikroskops (FE-REM) mit integrierter Cryo Einheit
für die Untersuchung von nicht-leitenden, feuchten oder noch ausgasenden Proben im variablen Niedervakuum-Modus,
zusätzlich ausgerüstet mit SE-, BSE- und EDX-Analytik für den Hoch- und Niedervakuum-Bereich.
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2020-05-12Analytisches Rasterelektronenmikroskop (Universität Bayreuth)
Die Universität Bayreuth beabsichtigt die Beschaffung eines analytischen Rasterelektronenmikroskopes für den Lehrstuhl Tierökologie für die Nutzung als Forschungsgerät.
Auf Grund der gegebenen finanziellen Mitteln darf die Gesamtsumme der Anlage 296 655 EUR brutto nicht übersteigen!
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2019-08-19Ultra-hochauflösendes Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (Leibniz-Institut für Photonische Technologien e. V.)
Die Ausschreibung betrifft ein hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop, das zur Prozesskontrolle von mikro- und nanofabrizierten Proben im Reinraum des Leibniz-IPHT eingesetzt werden soll. Das Gerät soll in der Lage sein, Strukturgrößen bis in den Sub-Nanometerbereich auf Substraten bis zu 150 mm (6") Durchmesser zu charakterisieren. Es sollte kurze Handlings-Zeiten und schnelle Probenwechselintervalle erlauben.
— Wertungskriterien: technische Spezifikationen 70 %, Preis 30 %.
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2018-06-07Hochauflösendes analytisches Rastertransmissionselektronenmikroskop (Universität Rostock)
Im Rahmen der vorliegenden Beschaffungsmaßnahme ist an der Universität Rostock im Department Leben, Licht und Materie ein hochauflösendes analytisches Rastertransmissionselektronenmikroskop (STEM) inklusive in-situ Untersuchungsmöglichkeiten in gasförmiger und flüssiger Umgebung zu beschaffen. Das STEM-System wird für die Untersuchung von Materialien unterschiedlichster Herkunft und Zusammensetzung eingesetzt. Für die Beschaffung des ausgeschriebenen Geräts stehen Finanzmittel in Höhe von maximal 3 686 …
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2018-03-09Kryoelektronenmikroskop/Biologie (Freistaat Bayern vertreten durch die Universität Regensburg, vertreten durch den Kanzler)
Die Universität Regensburg (Auftraggeber) plant in der Fakultät für Biologie und vorklinische Medizin die Beschaffung eines neuen, betriebsfertigen 200 kV Kryo-Elektronenmikroskops (200 kV cryoTEM) für den automatisierten Betrieb mit allen erforderlichen peripheren Systemen für die hochauflösende Abbildung gefrorener biologischer Proben (Protein und Zellen) in Suspension. Mit dem Gerät sollen zeit- und kosteneffizient strahlenempfindliche biologische Protein- und Zellproben im gefrorenen Zustand bei T < …
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2017-12-18200 kV Transmissionselektronenmikroskop mit Feldmissionsquelle, Rastereinheit etc (Friedrich-Schiller-Universität Jena)
Zur Bearbeitung von wissenschaftlichen Fragestellungen im Bereich nanoskaliger Strukturen, Grenz- und Oberflächen sowie Festkörperphasenumwandlungen wird ein (1) 200kV Transmissionselektronenmikroskop mit Feldmissionsquelle, Rastereinheit etc. benötigt, welches die in Kapitel 2.1 der Ausschreibungsunterlagen beschriebenen Mindestanforderungen erfüllt. Es handelt sich um eine Festpreisausschreibung gemäß § 58 Abs. 2 Satz 3 VgV (siehe Kapitel 2.2 der Ausschreibungsunterlagen).
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2016-11-30Transmissionselektronenmikroskop (TEM) (Universität Leipzig)
Leistungsgegenstand ist die Lieferung, funktionsbereite Aufstellung und Inbetriebnahme eines Transmissionselektronenmikroskops (TEM) für die hochaufgelöste Mikroskopie zur qualitative und quantitative Charakterisierung von komplexen Materialien, wie anorganischen Festkörpern, Katalysatoren, Adsorbentien, nanoporösen Materialien, Thermoelektrika, Phasenwechselmaterialien, für die Photovoltaik relevante Verbindungen, Halbleiter, multiferroische Schichtsysteme sowie biologische Proben wie DNA, Enzyme und …
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2015-07-10Zweistrahl-System m. Focused-Ion-Beam und Elektronenstrahl-Abbildung (Fraunhofer Gesellschaft e. V.)
Zweistrahl-System m. Focused-Ion-Beam und Elektronenstrahl-Abbildung
Am Fraunhofer IWS Dresden werden Forschungs- und Entwicklungsarbeiten sowie Dienstleistungen auf den Gebieten der Mikrostrukturierung, der Werkstoffcharakterisierung sowie der produktbegleitenden Werkstoffentwicklung angeboten. Zur Erfüllung dieser Aufgaben soll ein Zweistrahlgerät mit Focused-Ion-Beam-Säule und Elektronensäule sowie EDX- und EBSD-Möglichkeit beschafft werden.
Aktuelle und zukünftige Schwerpunkte der vorgesehenen …
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2014-11-04Lieferung und Inbetriebnahme eines Rasterelektronenmikroskops (Heinrich-Pette-Institut)
Das Heinrich-Pette-Institut, Leibniz Institut für Experimentelle Virologie, benötigt für die 3D-Darstellung der Ultrastruktur von in Kunstharz eingebetteten Virus-infizierten Zellen und Geweben ein „Serial Block-Face“ Rasterelektronenmikroskop (SBFSEM). Das Gerät soll sowohl für die Abbildung größerer Flächen (1 mm²) zu Übersichtszwecken, als auch für die Detaildarstellung von Feinstrukturen mit hoher Auflösung (10 nm isotrop) geeignet sein. Neben dem SBFSEM-Modus soll das Mikroskop auch für …
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2014-11-04Beschaffung eines Transmissionselektronenmikroskops (DFG-GZ: A 695) (Deutsche Forschungsgemeinschaft e. V., Zentrale Beschaffungsstelle)
Benötigt wird ein Transmissionselektronenmikroskop (TEM) mit einer Beschleunigungsspannung von 120 kV und einer LaB6-Kathode zur Charakterisierung von nanostrukturierten Materialien.
Folgende Anforderungen werden an das Gerät gestellt:
— Beschleunigungsspannung: 120 kV,
— Elektronenquelle: LaB6-Kathode,
— Eignung für den Betrieb in hohen Vergrößerungen: bis mind. 300 000 x,
— Punktauflösung. 0,4 nm oder besser,
— Elektronenbeugung,
— einfache Bedien- und Aufnahmesoftware für den „multi-user“-Betrieb,
— …
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