Anbieter: TESCAN GmbH

>20 archivierte Beschaffungen

TESCAN GmbH war in der Vergangenheit ein Lieferant von laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (außer Gläser), apparate und Geräte zum Prüfen und Testen und mikroskope.
In der Vergangenheit waren die konkurrierenden Bieter AB Sciex, Bio-Rad Laboratories GmbH, Carl Zeiss Microscopy GmbH, Createc Fischer & Co. GmbH, Gerstel GmbH & Co. KG, Kleindiek Nanotechnik, MWS Mikrowellensysteme-Vertriebs GmbH, Omnilab Laborzentrum GmbH & Co. KG und Physik Instrumente GmbH & Co. KG.

Neuere Beschaffungen, bei denen der Anbieter TESCAN GmbH erwähnt wird

2023-06-16   PolBln 286_23 Rasterelektronenmikroskop EU (Polizei Berlin)
Rasterelektronenmikroskop Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: TESCAN GmbH
2023-03-01   Lieferung und Installation eines Rasterelektronenmikroskops EDX, EBSD, STEM (Deutsche Forschungsgemeinschaft)
Lieferung und Installation eines Rasterelektronenmikroskops EDX, EBSD, STEM gemäß Vergabeunterlagen und beigefügter Leistungsbeschreibung Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: TESCAN GmbH
2022-06-14   LPME - Rasterelektronenmikroskop mit EDX, EBSD und Integrationsmöglichkeit in-situ Nanoindenter (Technische Universität Kaiserslautern)
Kauf eines fabrikneuen Rasterelektronenmikroskops mit EDX, EBSD und Integrationsmöglichkeit in-situ Nanoindenter Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: TESCAN GmbH
2022-05-02   Laborgeräte 2022 (Landesamt für Natur, Umwelt und Verbraucherschutz NRW)
Das Landesamt für Natur, Umwelt und Verbraucherschutz des Landes NRW (LANUV NRW) beabsichtigt den Kauf von mehreren Laborgeräten unterschiedlicher Art, welche für verschiedene Außenstellen des Amtes beschafft werden sollen. Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: AB Sciex Bio-Rad Laboratories GmbH Gerstel GmbH & Co. KG MWS Mikrowellensysteme-Vertriebs GmbH Omnilab Laborzentrum GmbH & Co. KG S + H Analytik GmbH Handel TESCAN GmbH
2021-12-14   Rasterelektronenmikroskop - E_064_291494 (Fraunhofer-Gesellschaft - Einkauf C2)
1 Stk. Rasterelektronenmikroskop Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: TESCAN GmbH
2021-10-06   Kombiniertes hochauflösendes Feldemissions-Rasterelektronen- und Raman- Mikroskop (Westsächsische Hochschule Zwickau)
1.1. Feldfreies Feldemitter-Rasterelektronenmikroskop (FE-REM) mit integriertem RAMAN System 1.2. Spannungsversorgung für das Gerät im Deutschen Netz mit folgenden Werten (230 V; 50 Hz; Absicherung 16 A) 1.3. variable Beschleunigungsspannung, 0.1 – 30 keV 1.4. Erreichbare Auflösung < 1 nm (15 kV) 1.5. Probenstrom-Bereich (Beam/Probe- current) von mindestens 5 pA bis 300 nA oder mehr 1.6. Beam Deceleration (BD) Modus 1.7. Betriebsarten Hochvakuumbetrieb und Niedervakuumbetrieb 1.8. Pumpensystem … Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: TESCAN GmbH
2021-07-28   Focus-Ion-Beam-System (Helmholtz-Zentrum Dresden-Rossendorf e.V.)
Award of contract for the delivery, installation, commissioning, Factory Acceptance Test and Site Acceptance Test of a UHV Triple Beam System Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: TESCAN GmbH
2021-07-12   Feldemissionsrasterelektronenmikroskop (Martin-Luther-Universität Halle-Wittenberg, Abteilung 4 – Bau, Liegenschaften und Gebäudemanagement)
Lieferung und Inbetriebnahme eines Feldemissionsrasterelektronenmikroskopes mit Ausstattung für Detektion, Indizierung und Verarbeitung von gebeugten Rückstreuelektonen (EBSD), energiedispersiven Röntgenspektren (EDS) und Kathodoluminiszenzemission (CL) sowie einer Magnetfeldkompensation für das Großgerät. Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: Physik Instrumente GmbH & Co. KG TESCAN GmbH Thorlabs GmbH Toptica Photonics AG
2021-06-29   In-Situ-Rasterkraftmikroskop (Technische Universität Dortmund)
Gegenstand dieser Ausschreibung ist der Kauf, die Lieferung, die Inbetriebnahme und die Einweisung / Schulung eines In-Situ-Rasterkraftmikroskops. Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: TESCAN GmbH
2021-05-28   EMNI – Elektronenmikroskop mit Nanoindenter (RWTH Aachen University)
Gegenstand der Ausschreibung ist ein Gesamtpaket bestehend aus einem Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop direkt angeschlossen an eine Glovebox und einem Nanoindenter. Dieses System wird benötigt, um luftsensitive Proben wie beispielsweise Batteriematerialien in spezialisierten Indentationsversuchen zu prüfen. Für diese spezialisierten Versuche muss der Indenter die Messaufgaben „elektrischer Modus“, „dynamischer Modus“, Heizversuche bis 800 GradC sowie „in situ Experimente“ mit Prüfkräften bis 1 000 … Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: TESCAN GmbH
2021-05-07   Lieferung und Installation eines Rasterelektronenmikroskop (Heinrich-Pette-Institut Leibniz-Institut für Experimentelle Virologie (HPI))
Das Leibniz Institut für Experimentelle Virologie (HPI) beabsichtigt die Anschaffung eines Rasterelektronenmikroskops (REM) als Ersatz für ein defektes Philips XL30ESEM. Das Gerät soll sowohl für die hochauflösende Abbildung im Hochvakuum-Modus als auch für den Betrieb im Niedrigvakuum-Bereich (low vacuum mode, variable pressure) für die Untersuchung von unbeschichteten, nichtleitenden Proben geeignet sein. Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: TESCAN GmbH
2020-11-05   Feldemitter Rasterelektronenmikroskop (FE-REM) (Hochschule für angewandte Wissenschaften Ansbach)
Neues Feldemitter Rasterelektronenmikroskop (FE-REM) mit EDX Einheit inkl. Installation und Inbetriebnahme. Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: TESCAN GmbH
2020-09-16   Mineralanalysator (Helmholtz-Zentrum Dresden-Rossendorf e. V.)
Die Ausschreibung zielt auf die Beschaffung, Lieferung und betriebsfertige Installation eines auf einem Rasterelektronenmikroskop basierenden automatisierten Analysators für Mineral- und Recyclatphasen (automatisierter Mineralanalysator) als integraler Bestandteil eines Demonstrators für multiskalige und hyperspektrale Charakterisierung komplexer sekundärer Rohstoffe. Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: TESCAN GmbH
2020-07-28   Beschaffung eines Systems zur Nanomanipulation im Vakuum in 3 Losen (Eberhard Karls Universität Tübingen)
Beschaffung eines Systems zur Nanomanipulation im Vakuum In 3 Losen — Los 1: Ultrahochvakuum-Rasterelektronenmikroskop Säule; — Los 2: Nanomanipulatoren zum Betrieb im Ultrahochvakuum; — Los 3: 4-fach Effusionszelle zum Aufbringen von dünnen Schichten. Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: Createc Fischer & Co. GmbH Kleindiek Nanotechnik TESCAN GmbH
2020-07-01   SEM/FIB/Ionenfeinstrahlanlage (Helmholtz-Zentrum Geesthacht)
Für das Institut für Werkstoffforschung am Helmholtz-Zentrum Geesthacht (folgend HZG), zu dem u. a. das German Material Science Center (GEMS) gehört soll für die Charakterisierung und Herstellung von mikroskopischen Proben eine kombinierte Rasterelektronenmikroskop-Ionenfeinstrahlanlage beschafft werden (engl. scanning electron microscpope and focused ion beam system, abgekürzt SEM/FIB, im Folgenden kurz „FIB"). Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: TESCAN GmbH
2020-05-11   Raman-REM (Institut für Energie- und Umwelttechnik e. V.)
Lieferung und Inbetriebnahme eines hochauflösenden Rasterelektronenmikroskops mit integriertem konfokalem Raman-Mikroskop. Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: TESCAN GmbH
2019-12-10   Aufbau einer korrelativen Mikroskopie bestehend aus FIB-REM und μ-CT (BTU Cottbus-Senftenberg)
Für die korrelative Mikroskopie von Proben aus unterschiedlichen Bereichen der additiven Fertigung im Forschungsbereich eines fertigungstechnischen Lehrstuhls der BTU Cottbus-Senftenberg soll ein Verbund aus FIB-SEM und μ-CT als korrelative Mikroskopie beschafft werden. Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: TESCAN GmbH
2019-11-05   Rasterelektronenmikroskop mit Focused Ion Beam (REM/FIB) (TU Bergakademie Freiberg)
Lieferung eines Rasterelektronenmikroskop mit Focused Ion Beam (REM/FIB). Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: TESCAN GmbH
2019-02-28   Xe-Plasma FIB/SEM Kombinationsanlage zur Schnittserientomographie (Albert-Ludwigs-Universität Freiburg)
Die Auftraggeberin (AG) beabsichtigt ein Gerätepaket bestehend aus 1 x Xe-Plasma FIB/SEM Kombinationsanlage zur Schnittserientomographie zu beschaffen. Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: TESCAN GmbH
2018-09-27   A681 UHV FIB Säule (Helmholtz-Zentrum Berlin für Materialien und Energie GmbH (HZB))
Herstellung und Lieferung einer autonomen UHV Ga FIB-Säule inkl. Hochspannungsversorgung, Steuerelektronik, Steuersoftware und Ga-Quelle; plus UHV SE-Detektor inkl. Elektronik; plus Platin Precursor Abscheide-System inkl. Elektronik; Vor-ort-Installation und Bedienungs-Training Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: TESCAN GmbH
2018-06-22   Rasterelektronenmikroskope (Helmholtz-Zentrum Geesthacht Zentrum für Material- und Küstenforschung)
Los1: Diese Leistungsbeschreibung spezifiziert ein Focused Ion Beam – Rasterelektronmikroskop (FIB-REM) mit Energiedispersive Röntgenspektroskopie – Electron Back Scatter Diffraction (EDX-EBSD) Analysensystem: Feldemitter REM mit fokussiertem GaIonenstrahlsystem für 3D-Analysen, wie Tomographie-, EDX- und EBSD-Messungen mit hoher Auflösung, hohem Strahlstrom und Beschleunigungsspannungserhöhung in der Säule: Los 2: Diese Leistungsbeschreibung spezifiziert ein FE- Ga-FIB- REM (Feldemissions Gallium … Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: Carl Zeiss Microscopy GmbH TESCAN GmbH
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