2016-08-02Rasterelektronenmikroskop REM-FIB (Otto-von-Guericke-Universität)
Für die bestimmung der Struktur-Eigenschafts-Beziehungen von Materialien ist es notwendig, bildgebende und analytische Untersuchungen durchzuführen. Diese können sein: Metalle, Keramiken, Kunststoffe, Gläser, Verbundmaterialien und Halbleiter sowie biologische Proben. In Kombination mit mechanischen und thermischen in-situ Experimenten können dabei zusätzliche Informationen zu mechanischen Kennwerten und den werkstoff-physikalischen Vorgängen bei erhöhten Temperaturen gewonnen werden.Neben der …
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:FEI Deutschland GmbH
2016-02-25E_848_219427 cl-Ols – Rasterelektronenmikroskop (Fraunhofer Gesellschaft e. V.)
E_848_219427 cl-Ols – Rasterelektronenmikroskop.
Ein zu beschaffendes Dual-Beam Gerät soll zum einen durch eine FIB eine Erweiterung der präparativ-analytischen Methoden bieten und zum anderen second sorce für ein älteres Analytik-/Mess-REM sein.
— Probengrößen: Crosssections, Proben auf Stubs,150 mm Wafer und 200 mm Wafer. Vom 200-mm-Wafer soll eine möglichst große Fläche einfach erreicht werden. Maximale Probenhöhe von Sonderproben >20 mm. Probenhalter für 200-mm-Wafer und 150-mm-Wafer.
— Stage, …
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:FEI Deutschland GmbH
2015-03-12Beschaffung eines Transmissionselektronenmikroskops (DFG-GZ: A 698) (Deutsche Forschungsgemeinschaft e. V., Zentrale Beschaffungsstelle)
— Transmissionselektronenmikroskop mit variabler Beschleunigungsspannung. 120 kV soll erreicht werden.
— Seitwärtige Probeneinführung in die Mikroskopsäule.
— Lanthanhexaborid Kathode.
— Hochstabiles Goniometer mit präziser xyz-Achsen Positionierung und Tiltmöglichkeit.
— Probenhaltersystem geeignet für häufige Probenwechsel.
— Rotationsfreie Abbildung bei Änderung der Vergrößerung.
— Orientierungskorrekte Zuordnung zwischen Abbildung und Beugung.
— Elektronendosis-Kontrollsystem zur Untersuchung von …
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:FEI Deutschland GmbH
2014-06-20„Niederdruck-Elektronenmikroskop mit Feldemissionskathode“ AZ 025007/14 (Technische Universität Dresden)
Das im Rahmen des offenen Verfahrens ausgeschriebene „Niederdruck-Elektronenmikroskop mit Feldemissionskathode“ soll am Institut für Baustoffe der Technischen Universität Dresden eingesetzt werden und vor allem zur Durchführung von Stoffuntersuchungen im Sub-Mikrometer- bzw. Nanometerbereich dienen. Diese Untersuchungen sind Kern fast aller Forschungsvorhaben des Institutes und stellen eine wichtige Basis zur Erklärung makroskopischer Phänomene dar. Für die Untersuchung nichtleitender, hydraulisch …
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:FEI Deutschland GmbH
2014-06-04EO005-14: Lieferung und Installation eines Rasterelektronenmikroskops, inkl. Training (Deutsches Elektronen-Synchrotron DESY)
Lieferung, Installation und Training eines Rasterelektronenmikroskops:
Das hochauflösende Raster-Elektronenmikroskop dient zur strukturellen und chemischen Charakterisierung von Proben auf Mikro- und Nanoskala. Die mit dem Raster-Elektronenmikroskop zu charakterisierenden Proben umfassen unter anderem Metall- und Legierungsnanopartikel auf nichtleitenden Oxidsubstraten mit nur einigen Nanometern Durchmesser, Nano-Assemblies und Nanodrähte, sowie nanoskalige Probenoberflächen anderer Materialklassen.
Das …
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:FEI Deutschland GmbH
2014-05-23Lieferung eines Feldemissionstransmissionselektronenmikroskops (Helmholtz-Zentrum Dresden-Rossendorf e. V.)
Die Ausschreibung zielt auf die Produktion, Lieferung und betriebsfertige Installation eines 200kV Transmissionselektronenmikroskops mit Feldemissionsquelle, rasterndem Strahlsystem (STEM) und energiedispersivem Röntgenspektrometer (EDXS-System) sowie weiterem Zubehör mit folgenden Mindestanforderungen:
Elektronenquelle:
— Schottky-Feldemitter,
— Richtstrahlwert: ≥ 4-10(hoch)8 Acm(hoch)-2sr(hoch)-1 (bei 200 kV),
— Maximale Beschleunigungsspannung 200 kV,
— Beschleunigungsspannung ohne Umbau wahlweise …
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:FEI Deutschland GmbH
2014-05-22Transmissionselektronenmikroskop (Helmholtz-Zentrum Geesthacht Zentrum fĂĽr Material- und KĂĽstenforschung GmbH)
Einleitung
Das Institut für Biomaterialforschung in Teltow (HZG) beschäftigt sich mit der Entwicklung von Biomaterialien die, in Form von Implantaten, Mikro- oder Nanopartikeln, zukünftig in der Klinik angewendet werden sollen. Derartige nanoskalige Polymersysteme sollen z.B. für den zielgerichteten Transport von Wirkstoffen und deren kontrollierte Freisetzung im Rahmen der therapeutischen Anwendungen eingesetzt werden. Ein wesentliches Hemmnis für die Entwicklung der benötigten neuen Therapieformen ist …
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:FEI Deutschland GmbH
2013-10-04Beschaffung eines Dual-Beam-Mikroskops (DFG-GZ: A 662) (Deutsche Forschungsgemeinschaft e. V., Zentrale Beschaffungsstelle)
Das zu beschaffende Gerät mit dem unten angeführten Anforderungsprofil soll ermöglichen, sowohl ein leistungsfähiges und weithin sichtbares Labor für Mikro- und Nanomechanik zu etablieren, als auch weiterhin im Rahmen der jetzigen Kernkompetenzen im Bereich der Textur- und Grenzflächenanalyse mit modernsten Methoden zu forschen.
Technische Anforderungen an das zu beschaffende Dual-Beam Gerät:
— Höchstauflösende Elektronen-/Ionenoptik: Probenpräparation und Analyse von Mikrostrukturen und Verformung im …
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:FEI Deutschland GmbH
2013-06-28Rasterelektronenmikroskop mit fokussierendem Ionenstrahl (Technische Universität Dresden)
Das Ziel der Ausschreibung ist die Beschaffung eines leistungsstarken Rasterelektronenmikroskops mit fokussierendem Ionenstrahl, wobei Lieferung, Aufstellung, Inbetriebnahme und Einweisung in die Nutzung, Auswertung und Problembehebung eingeschlossen sind. Mit dem Gerätesystem sollen u.a. die Grundlagen für die Nanoana-lytik an eindimensionalen (1D) Nanostrukturen und daraus aufgebauten Bauelementen erforscht und insbesondere die Erfordernisse und die Wirksamkeit des kombinierten Einsatzes von Ionen- und …
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:FEI Deutschland GmbH
2012-10-31Focus ion Beam inkl. Rasterelektronenmikroskop (Fraunhofer Gesellschaft e. V.)
Die Gerätkombination, eine Zweistrahl-Anlage (FIB & REM), soll dazu dienen, die Prozesse in der Aufbau-und Verbindungstechnik zu analysieren und zu qualifizieren. Neben der Charakterisierung der Werkstoffeigenschaften im Mikro/Nano –Übergangsbereich sollen strukturelle Untersuchungen zur.
Bewertung der Zuverlässigkeit und Abschätzung der Lebensdauer elektronischer.
Systeme herangezogen werden.
Schwerpunkte sind unter anderem:
— Materialanalytik,
— Charakterisierung von Grenzflächen,
— Untersuchungen zur …
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:FEI Deutschland GmbH
2011-01-28Transmissions-Rastertransmissionselektronenmikroskop (Universität Leipzig)
Gefordert ist ein analytisches Transmissions-Rastertransmissionselektronenmikroskop (TEM/STEM) zur Untersuchung von metallischen, halbleitenden und isolierenden Materialien für das Leibniz-Institut für Oberflächenmodifizierung Leipzig. Mit dem TEM/STEM sollen Strukturen bis zur atomaren Auflösung abgebildet werden. Beide Modi, TEM und STEM müssen möglich sein und zwischen beiden Betriebsmodi muss gewechselt werden können. Das Elektronenmikroskop muss ein analytisches Elektronenmikroskop sein und damit …
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:FEI Deutschland GmbH