2020-09-04   Vergabeverfahren zur Lieferung einer Elektronenstrahlmikrosonde und eines Rasterelektronenmikroskops zur Mikroanalyse (Universität Heidelberg)
Vergabeverfahren zur Lieferung einer Elektronenstrahlmikrosonde Und eines Rasterelektronenmikroskops zur Mikroanalyse Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: JEOL (Germany) GmbH
2020-08-25   Lieferung Rasterelektronenmikroskop (REM) (Universität Ulm)
Lieferung, Aufstellung und Inbetriebnahme eines Rasterelektronenmikroskopes. Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: FEI Deutschland GmbH
2020-08-19   Lieferung eines Feldemissions-Rasterelektronenmikroskops mit integriertem Ionenfeinstrahl (engl. FIB-SEM) mit EDX und EBSD (Ruhr-Universität Bochum)
Für die Zentrale Mikroanalytik am Institut für Geologie, Mineralogie und Geophysik (GMG) der Ruhr-Universität Bochum wird für zahlreiche Forschungsprojek-te ein modernes „Focused Ion Beam-Rasterelektronenmikroskop“ (FIB-SEM) mit EDX und EBSD benötigt. Das FIB-SEM wird für die effiziente Präparation von Proben für nachfolgende Analysen mit dem Transmissions-Elektronenmikroskop benötigt. Ansicht der Beschaffung »
2020-07-23   Rasterelektronenmikroskop REM (Römisch-Germanisches Zentralmuseum Leibniz-Forschungsinstitut für Archäologie)
Beschaffung eines Rasterelektronenmikroskops für das Labor für „Traceology and Controlled Experiments“ (TraCEr) am Monrepos Archäologischen Forschungszentrum und Museum für menschliche Verhaltensevolution (eine Einrichtung des Römisch Germanischen Zentralmuseums Mainz, Leibniz Forschungsinstitut für Archäologie). Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: Carl-Zeiss Microscopy GmbH
2020-06-29   Feldemissons-Rasterelektronenmikroskop (Fachhochschule Bielefeld)
Lieferung von 1 St. Feldemissons-Rasterelektronenmikroskop. Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: Carl Zeiss Microscopy GmbH
2020-06-19   200 kV Transmissionselektronenmikroskop (Universität Greifswald)
Lieferung und funktionsbereite Übergabe (inkl. Schulung) eines 200 kV Transmissionselekktronenmikroskopes. Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: JEOL (Germany) GmbH
2020-06-05   Feldemitter Rasterelektronenmikroskop (FE-REM) (Hochschule für angewandte Wissenschaften Ansbach)
Feldemitter Rasterelektronenmikroskop (FE-REM) mit EDX Einheit inkl. Installation und Inbetriebnahme. Ansicht der Beschaffung »
2020-05-12   Analytisches Rasterelektronenmikroskop (Universität Bayreuth)
Die Universität Bayreuth beabsichtigt die Beschaffung eines analytischen Rasterelektronenmikroskopes für den Lehrstuhl Tierökologie für die Nutzung als Forschungsgerät. Auf Grund der gegebenen finanziellen Mitteln darf die Gesamtsumme der Anlage 296 655 EUR brutto nicht übersteigen! Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: JEOL (Germany) GmbH
2020-05-11   Raman-REM (Institut für Energie- und Umwelttechnik e. V.)
Lieferung und Inbetriebnahme eines hochauflösenden Rasterelektronenmikroskops mit integriertem konfokalem Raman-Mikroskop. Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: TESCAN GmbH
2020-04-22   Beschaffung eines Rasterkraftmikroskops für Kraftmessungen, Messung der Oberflächentopographie und... (Universität zu Lübeck)
Beschaffung eines Rasterkraftmikroskops für Kraftmessungen, Messung der Oberflächentopographie und Kraftspektroskopie mit Fluoreszenzmikroskop für simultane Messungen an lebenden Zelle. Ansicht der Beschaffung »
2020-01-23   Transmissionselektronenmikroskop (Albert-Ludwigs-Universität Freiburg)
Die Auftraggeberin (AG) möchte ein Transmissionselektronenmikroskop beschaffen. Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: Hitachi High-Tech Europe GmbH
2019-12-11   Elektronenstrahlschreibsystem (NaMLab gGmbH)
Der Auftrag umfasst die Lieferung, Installation und Inbetriebnahme eines Elektronenstrahlschreibsystems in einem Laborraum der NaMLab gGmbH im Erdgeschoss eines Büro- und Laborgebäude in 01187 Dresden, Nöthnitzer Str. 64 a. Das Gerät soll als eigenständiges und integriertes System die Realisierung von Nanostrukturen ermöglichen und auch als SEM-Analysegerät nutzbar sein. Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: Raith GmbH
2019-12-10   Aufbau einer korrelativen Mikroskopie bestehend aus FIB-REM und μ-CT (BTU Cottbus-Senftenberg)
Für die korrelative Mikroskopie von Proben aus unterschiedlichen Bereichen der additiven Fertigung im Forschungsbereich eines fertigungstechnischen Lehrstuhls der BTU Cottbus-Senftenberg soll ein Verbund aus FIB-SEM und μ-CT als korrelative Mikroskopie beschafft werden. Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: TESCAN GmbH
2019-11-13   Rasterelektronenmikroskop (Fraunhofer Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e. V. über Vergabeportal deutsche eVergabe)
Gegenstand der Ausschreibung ist ein Rasterelektronenmikroskop mit Feldemissions-Kathode. Es soll über eine große Kammer verfügen, um Bruchflächen auf Bauteilen oder Oberflächen von Proben nach dem Versuch automatisch großflächig abscannen zu können sowie metallographisch präparierte Schliffproben nacheinander abscannen zu können. Eine örtliche Auflösung von 1,0 nm bei 15 kV und 1,8 nm bei 1 kV im Sekundärelektronenmodus soll erreicht werden können. Das Rasterelektronenmikroskop muss über eine … Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: Carl Zeiss Microscopy GmbH
2019-11-05   Rasterelektronenmikroskop mit Focused Ion Beam (REM/FIB) (TU Bergakademie Freiberg)
Lieferung eines Rasterelektronenmikroskop mit Focused Ion Beam (REM/FIB). Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: TESCAN GmbH
2019-09-30   Optisches Nahfeld Rastermikroskop (Universität Paderborn)
Ausgeschrieben wird ein Optisches Nahfeld Rastermikroskop im Infrarotbereich, stimmbar von 3 bis 15 Müm mit einer Ortsauflösung unter 50 Müm. Die detaillierte Leistungsbeschreibung entnehmen Sie bitte dem Dokument „Kriterienkatalog" (siehe Vergabeunterlagen). Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: Bruker France SAS
2019-09-17   Multifunktionales Rasterelektronenmikroskop (REM) (IFW Dresden e. V.)
Lieferung, Installation und Inbetriebnahme eines Multifunktionalen Rasterelektronenmikroskops (REM). Ansicht der Beschaffung »
2019-09-13   Lieferung von 2 elektrisch gekühlten Germanium-Detektoren (Bundesamt für Strahlenschutz)
Das BfS betreibt an der Dienststelle Berlin eine behördlich bestimmte Inkorporationsmessstelle für beruflich strahlenexponierte Personen. Zu dieser Messstelle gehört unter anderem ein Teilkörperzähler. Detektoren (Pos. 01) sowie der elektrische Kühler (Pos. 02) müssen aufeinander abgestimmt sein, sodass beide Positionen vom selben Hersteller stammen müssen. Näheres entnehmen Sie bitte den Vergabunterlagen. Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: Mirion Technologies (Canberra) GmbH
2019-08-07   Transmissions-Elektronenmikroskop Biozentrum 2019 (Freistaat Bayern vertreten durch die Julius-Maximilians-Universität Würzburg)
Im Rahmen des vorliegenden Vergabeverfahrens schreibt der Freistaat Bayern (Auftraggeber) – hier vertreten durch die Julius-Maximilians-Universität Würzburg – die Beschaffung eines Transmissions-Elektronenmikroskops, sowie die Service-/Wartungsleistung und Instandhaltung dieses Gerätes für das Biozentrum der Julius-Maximilians-Universität Würzburg aus. Für die Beschaffung des Gerätes beträgt das maximale Budget 475 000 EUR inkl. MwSt. (19 Prozent deutsche Mehrwertsteuer inklusive eventuell anfallender … Ansicht der Beschaffung »
2019-08-02   FIB/SEM Kombinationsanlage mit ToF-SIMS Detektor (Albert-Ludwigs-Universität Freiburg)
Die Auftraggeberin (AG) beabsichtigt eine FIB/SEM Kombinationsanlage mit ToF-SIMS Detektor zu beschaffen. Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: FEI Deutschland GmbH
2019-07-17   Rasterkraftmikroskop (Universität Greifswald)
Rasterkraftmikroskop, zzgl. inverses Mikroskop. Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: Bruker France SAS
2019-07-10   Höchstauflösendes low-voltage Rasterelektronenmikroskop mit EDX-System (Martin-Luther-Universität Halle-Wittenberg, Abteilung 4 – Bau, Liegenschaften und Gebäudemanagement)
Lieferung und Inbetriebnahme eines Höchstauflösenden low-voltage Rasterelektronenmikroskopes mit EDX-System. Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: Carl Zeiss Microscopy GmbH
2019-07-08   FIB-Rasterelektronenmikroskop (Philipps-Universität Marburg)
FIB-Rasterelektronenmikroskop. Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: Carl Zeiss Microscopy GmbH
2019-07-05   Elektronen-Ionen-Mikroskop (FIB/SEM) (Helmholtz-Zentrum Dresden – Rossendorf e. V.)
Elektronen-Ionen-Mikroskops (FIB/SEM) für die in situ TEM-Lamellenpräparation. Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: FEI Deutschland GmbH
2019-06-28   Rasterelektronenmikroskop (Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt e. V. (DLR))
Beschaffung eines Rasterelektronenmikroskops/ESEM (Environmental Scanning Electron Microscope) nebst Zug-Druck-Lastrahmen für das DLR-Institut für Test und Simulation für Gasturbinen in Augsburg. Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: FEI Deutschland GmbH
2019-05-31   Serial Block-Face-Scanning-Elektronenmikrosop (Ludwig-Maximilians-Universität München)
Das zu beschaffende SBFSEM soll es ermöglichen, 3D-Bilddatensätze von in Kunstharz eingebetteten und mit Schwermetallen kontrastierten biologischen Proben in elektronenmikroskopischer Auflösung zu gewinnen (zur Spezifikation von Probengröße und Auflösung s. u.), indem abwechselnd vollautomatisch: (1) die Probenoberfläche in der Vakuumkammer mit einem Diamantmesser abgetragen und (2) die freigelegte Oberfläche mit dem Elektronenstrahl abgebildet wird. Der Workflow von der Annäherung der Probe bis zur … Ansicht der Beschaffung »
2019-05-15   Beschaffung eines Echtzeit-SuperResolution Mikroskopsystems (Deutsche Forschungsgemeinschaft e.V.)
Beschaffung eines Echtzeit-SuperResolution Mikroskopsystems gemäß beigefügter Leistungsbeschreibung. Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: VisiTech International
2019-05-13   Xenon-Plasma-FIB (Universität des Saarlandes)
Das beantragte Gerät verbindet ein hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop (REM) mit einem fokussierten Xe-Ionenstahl (FIB) für materialwissenschaftliche Aufgabenstellungen. Der Hauptanwendungszweck liegt in der quantitativen 3D-Gefügeanalyse im Serienschnittverfahren (Tomographie). Ein weiterer Schwerpunkt liegt in der Präparation von Proben für mikro-mechanische Versuche. Der dritte wesentliche Einsatzzweck des Geräts ist die Endpräparation von Proben für die Transmissionselektronenmikroskopie und … Ansicht der Beschaffung »
2019-05-08   Transmissionselektronenmikroskop mit energiedispersiver Röntgenanalytik (Technische Universität Dortmund)
Lieferung und Inbetriebnahme eines Transmissionselektronenmikroskops. Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: FEI Deutschland GmbH
2019-05-08   DLR/Köln/Neubau TEM-Gebäude (Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt (DLR))
Der Auftraggeber plant ein Laborgebäude mit einem analytische Transmissionselektronenmiskroskop am Standort Köln erstellen zu lassen. Hierbei sollen alle Leistungen von einem Auftragnehmer bzw. einer ARGE übernommen werden. Ansicht der Beschaffung »
2019-05-03   200 kV Cryo-Transmissionselektronenmikroskop (Ludwig-Maximilians-Universität München)
Das zu beschaffende Cryo-TEM soll die sog. Raster-Transmissionselektronenmikroskopie (STEM) ermöglichen und für Untersuchungen mit biologischen sowie bio-medizinischen (lebenswissenschaftl.) Fragestellungen eingesetzt werden. Diese umfassen einerseits klassische Ultrastruktur- und Proteinlokalisationsstudien (Immunogold) sowie 3D-Analysen mittels Elektronentomographie. Andererseits soll damit auch die Möglichkeit gegeben werden, Proben im gefrorenen naturnahen und hydratisierten Zustand mit Hilfe eines … Ansicht der Beschaffung »
2019-04-25   Lieferung von 4 elektrisch gekühlten Gammaspektrometrie-Detektoren (Bundesamt für Strahlenschutz)
Das BfS betreibt an der Dienststelle Neuherberg eine behördlich bestimmte Inkorporationsmessstelle für beruflich strahlenexponierte Personen. Zu dieser Messstelle gehört unter anderem ein Teilkörperzähler. Wesentlicher Bestandteil des Teilkörperzählers sind vier Reinstgermaniumdetektoren, die nach altersbedingtem Ausfall von drei Detektoren und vorherigem schleichendem Qualitätsverlust zu ersetzen sind. Im Gegensatz zum bisherigen Aufbau sollen die Detektoren elektrisch gekühlt sein. Detektoren (Pos. 01) … Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: Thermo Fisher Scientific Messtechnik GmbH
2019-04-09   Hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop gekoppelt mit Standard- und Niederspannung-EDX-Detektoren sowie... (Fraunhofer Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e. V. über Vergabeportal deutsche eVergabe)
Für die Untersuchung der topographischen Beschaffenheit und Bestimmung der Elementzusammensetzung von Strukturen im sub-μm Bereich von Bauteiloberflächen, Membranen, Partikeln, sowie medizinischen und biologischen Präparaten soll ein hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop angeschafft werden. Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: Carl Zeiss Microscopy GmbH
2019-04-08   Rasterelektronenmikroskop (FH Münster)
Hochauflösung-Rasterelektronenmikroskop (High-Resolution-SEM). Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: Hitachi High-Technologies Europe GmbH
2019-04-01   Analytisches 200 kV Transmissionselektronenmikroskop und Gerät zur TEM-Probennachbearbeitung (Universität Ulm)
Analytisches 200 kV Transmissionselektronenmikroskop und Gerät zur Nachbearbeitung von FIB-Lamellen und klassische TEM-Proben. Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: FEI Deutschland GmbH Fischione Germany GmbH
2019-03-13   Rasterelektronenmikroskop mit Tieftemperaturstage zur Bestimmung von Materialkenngrößen von Supraleitern und anderen... (TU Ilmenau, Dezernat Finanzen, SG Beschaffung)
Lieferung und Inbetriebnahme eines Rasterelektronenmikroskops mit Tieftemperatur-Stage zur Bestimmung von Materialkenngrößen von Supraleitern, Josephson-Kontakten, memristiven Werkstoffen und weiteren Werkstoffen. Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: Carl Zeiss Microscopy GmbH
2019-02-28   Xe-Plasma FIB/SEM Kombinationsanlage zur Schnittserientomographie (Albert-Ludwigs-Universität Freiburg)
Die Auftraggeberin (AG) beabsichtigt ein Gerätepaket bestehend aus 1 x Xe-Plasma FIB/SEM Kombinationsanlage zur Schnittserientomographie zu beschaffen. Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: TESCAN GmbH
2019-02-27   Transmissionselektronenmikroskop mit Hochdruck-Gefriereinheit (Universität Konstanz)
Das Transmissionselektronenmikroskop (200 kV, Tomographie-Ausstattung) soll für die Untersuchung von Ultrastrukturen diverser biologischen Proben und Biomaterialien mit Hochdruckgefrieranlage zur Probenvorbereitung in der Forschung und Lehre eingesetzt werden. Ansicht der Beschaffung »
2019-02-20   Vergabeverfahren zur Lieferung von 2 Mikroskopen (Universität Heidelberg)
Vergabeverfahren zur Lieferung von 2 Mikroskopen. Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: FEI Deutschland GmbH
2019-02-20   Atomic Force Mikroskop (Philipps-Universität Marburg)
Beschaffung Atomic Force Mikroskop Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: Nanosurf GmbH
2019-01-25   Xenon-Plasma-FIB (Universität des Saarlandes)
Das beantragte Gerät verbindet ein hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop (REM) mit einem fokussierten Xe-Ionenstahl (FIB) für materialwissenschaftliche Aufgabenstellungen. Der Hauptanwendungszweck liegt in der quantitativen 3D-Gefügeanalyse im Serienschnittverfahren (Tomographie). Ein weiterer Schwerpunkt liegt in der Präparation von Proben für mikro-mechanische Versuche. Der dritte wesentliche Einsatzzweck des Geräts ist die Endpräparation von Proben für die Transmissionselektronenmikroskopie und … Ansicht der Beschaffung »
2018-10-29   Transmissionselektronenmikroskopie (Universitätsklinikum Aachen AöR)
Es soll ein voll funktionsfähiges hochauflösendes 120 kV TEM (Transmissionselektronenmikroskop) mit spezieller Kryo-Einheit (Kryo-Transfereinheit für TEM) als Gesamtsystem angeschafft werden. Mit diesem System sollen sowohl native als auch Proben aus Lehre, Forschung und Diagnostik untersucht werden. Das TEM muss als Neugerät angeboten werden, es darf sich nicht um ein Gebraucht- oder sogenanntes „Refurbished" System handeln. Die Lieferung, Installation, Einweisung, Abnahme und Rechnungstellung muss … Ansicht der Beschaffung »
Erwähnte Lieferanten: Hitachi High-Technologies Europe GmbH