2021-05-28EMNI – Elektronenmikroskop mit Nanoindenter (RWTH Aachen University)
Gegenstand der Ausschreibung ist ein Gesamtpaket bestehend aus einem Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop direkt angeschlossen an eine Glovebox und einem Nanoindenter. Dieses System wird benötigt, um luftsensitive Proben wie beispielsweise Batteriematerialien in spezialisierten Indentationsversuchen zu prüfen. Für diese spezialisierten Versuche muss der Indenter die Messaufgaben „elektrischer Modus“, „dynamischer Modus“, Heizversuche bis 800 GradC sowie „in situ Experimente“ mit Prüfkräften bis 1 000 …
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:TESCAN GmbH
2021-03-31Rasterelektronenmikroskop (Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt (DLR) — Stuttgart)
Das Institut für Technische Thermodynamik in Stuttgart beschafft eine neue Rasterelektronenmikroskopie („SEM“). Das System hat eine bedeutende Rolle für die Materialuntersuchung und damit die Materialentwicklung für Komponenten der Energietechnologie am Institut.
Der Einsatz ist für verschiedenste Klassen von Materialien und verschiedenste Fragestellungen bei der Materialcharakterisierung und den Materialeigenschaften vorgesehen. Die vielseitige Einsetzbarkeit des Systems ist eine wesentliche Eigenschaft …
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2021-03-29Gekoppeltes Rasterkraft-Raman-Mikroskop (Universität Potsdam)
Gegenstand der Vergabe ist die Lieferung und Installation eines gekoppelten Rasterkraft-Raman-Mikroskops für die Charakterisierung von plasmonischen und DNA-Nanostrukturen, sowie für die simultane chemische und topographische Charakterisierung unterschiedlicher Materialien. Für die Charakterisierung plasmonischer Nanostrukturen muss die Raman-Anregung mit einer Reihe unterschiedlicher Anregungslaser möglich sein, während gleichzeitig die Topographie der Probe mittels Rasterkraftmikroskopie bestimmt wird. …
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2020-09-16Mineralanalysator (Helmholtz-Zentrum Dresden-Rossendorf e. V.)
Die Ausschreibung zielt auf die Beschaffung, Lieferung und betriebsfertige Installation eines auf einem Rasterelektronenmikroskop basierenden automatisierten Analysators für Mineral- und Recyclatphasen (automatisierter Mineralanalysator) als integraler Bestandteil eines Demonstrators für multiskalige und hyperspektrale Charakterisierung komplexer sekundärer Rohstoffe.
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:TESCAN GmbH
2020-05-12Analytisches Rasterelektronenmikroskop (Universität Bayreuth)
Die Universität Bayreuth beabsichtigt die Beschaffung eines analytischen Rasterelektronenmikroskopes für den Lehrstuhl Tierökologie für die Nutzung als Forschungsgerät.
Auf Grund der gegebenen finanziellen Mitteln darf die Gesamtsumme der Anlage 296 655 EUR brutto nicht übersteigen!
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:JEOL (Germany) GmbH
2019-12-11Elektronenstrahlschreibsystem (NaMLab gGmbH)
Der Auftrag umfasst die Lieferung, Installation und Inbetriebnahme eines Elektronenstrahlschreibsystems in einem Laborraum der NaMLab gGmbH im Erdgeschoss eines Büro- und Laborgebäude in 01187 Dresden, Nöthnitzer Str. 64 a. Das Gerät soll als eigenständiges und integriertes System die Realisierung von Nanostrukturen ermöglichen und auch als SEM-Analysegerät nutzbar sein.
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:Raith GmbH
2019-09-30Optisches Nahfeld Rastermikroskop (Universität Paderborn)
Ausgeschrieben wird ein Optisches Nahfeld Rastermikroskop im Infrarotbereich, stimmbar von 3 bis 15 Müm mit einer Ortsauflösung unter 50 Müm.
Die detaillierte Leistungsbeschreibung entnehmen Sie bitte dem Dokument „Kriterienkatalog" (siehe Vergabeunterlagen).
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:Bruker France SAS
2019-05-13Xenon-Plasma-FIB (Universität des Saarlandes)
Das beantragte Gerät verbindet ein hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop (REM) mit einem fokussierten Xe-Ionenstahl (FIB) für materialwissenschaftliche Aufgabenstellungen. Der Hauptanwendungszweck liegt in der quantitativen 3D-Gefügeanalyse im Serienschnittverfahren (Tomographie). Ein weiterer Schwerpunkt liegt in der Präparation von Proben für mikro-mechanische Versuche. Der dritte wesentliche Einsatzzweck des Geräts ist die Endpräparation von Proben für die Transmissionselektronenmikroskopie und …
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2019-01-25Xenon-Plasma-FIB (Universität des Saarlandes)
Das beantragte Gerät verbindet ein hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop (REM) mit einem fokussierten Xe-Ionenstahl (FIB) für materialwissenschaftliche Aufgabenstellungen. Der Hauptanwendungszweck liegt in der quantitativen 3D-Gefügeanalyse im Serienschnittverfahren (Tomographie). Ein weiterer Schwerpunkt liegt in der Präparation von Proben für mikro-mechanische Versuche. Der dritte wesentliche Einsatzzweck des Geräts ist die Endpräparation von Proben für die Transmissionselektronenmikroskopie und …
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2018-10-12Rasterelektronenmikroskop (Fraunhofer Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e. V. über Vergabeportal deutsche eVergabe)
Die nachfolgende Spezifikation beschreibt die Anforderungen an ein Rasterelektronenmikroskop mit einen Analysesystem bestehend aus EDS und EBSD. Das Rasterelektronenmikroskop mit dem EDS\EBSD-System soll zur Charakterisierung von Schichten und Schichtstapeln, vordergründig auf Siliziumwaferstücken genutzt werden. Verwendungsort des nachfolgend spezifizierten Rasterelektronenmikroskops mit dem EDS\EBSD-System wird das Physikalische Fehleranalyselabor der Forschungseinrichtung sein.
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2018-09-11Rasterelektronenmikroskop mit EDX-EBSD und Heiztisch (Technische Universität Chemnitz)
Lieferung und Installation eines hochauflösenden Rasterelektronenmikroskops (REM) mit EDX-EBSD und Heiztisch inkl. integrierter Zusatzausstattung, Software und Schulungen. Das System soll als Neugerät beschafft und für Analysen an Baustoffen, Verbundwerkstoffen, Polymeren, Metallen sowie Keramiken genutzt werden. Zudem soll es sowohl zur Frischbetoncharakterisierung als auch zur Diagnostik an großen ausgehärteten Betonproben und Prototypen eingesetzt werden. Die geplanten Forschungsarbeiten erfordern ein …
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:Carl Zeiss Microscopy GmbH