2023-05-22Steuerelektronik, Analyse-Vakuumkammer, He4-Badkryostat (Universität Potsdam)
Gegenstand der Beschaffung sind 3 Lose, die Lieferung von Steuerelektronik, einer Analyse-Vakuumkammer und He4-Badkryostat fĂĽr die KĂĽhlung eines Tieftemperatur-Rastertunnel-/Rasterkraftmikroskops, das im Ultrahochvakuum arbeitet.
Bei dieser Veröffentlichung handelt es sich um eine Verhandlungsverfahren mit öffentlichem Teilnahmewettbewerb. Die für die Teilnahme erforderlichen Unterlagen sowie die geltenden Bedingungen sind im Projektraum auf dem Vergabemarktplatz Brandenburg hinterlegt. Nach Ablauf der …
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2022-12-08Rastersondenmikroskop (Universität Regensburg)
Die Universität Regensburg (Auftraggeber) plant für das interdisziplinäre Forschungszentrum „Regensburg Center for Ultrafast Nanoscopy“ (RUN), die Beschaffung eines neuen Tieftemperatur-Ultrahochvakuum-Rastersondenmikroskops inklusive optischer Zugänge, das bei kryogenen Temperaturen und im Ultrahochvakuum (UHV) betrieben werden kann. Die geplante Anwendung stellt sehr hohe Ansprüche an die Stabilität bzgl. Vibrationen.
Bitte beachten Sie, dass wegen Schließung der Universität Regensburg zwischen …
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:Createc Fischer & Co. GmbH
2022-11-04Tieftemperatur-Ultrahochvakuum-Rastersondenmikroskop/Physik (Universität Regensburg)
Die Universität Regensburg (Auftraggeber) plant für das interdisziplinäre Forschungszentrum „Regensburg Center for Ultrafast Nanoscopy“ (RUN) die Beschaffung eines neuen Tieftemperatur-Ultrahochvakuum-Rastersondenmikroskops inklusive optischer Zugänge für die Realisierung eines ultraschnellen Nahfeldmikroskops im mittelinfraroten Spektralbereich, das bei kryogenen Temperaturen und im Ultrahochvakuum (UHV) betrieben werden kann. Zu den wichtigsten Anforderungen gehört die Möglichkeit, die gesamte …
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:nanoscore gmbH
2022-07-18Analytisches Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop mit integriertem Rastersondenmikroskop (Bergische Universität Wuppertal)
Es soll ein analytisches Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop mit integriertem Rastersondenmikroskop zur Analyse neuartiger, im Rahmen der Forschungsarbeiten am Zentrum hergestellter Materialien, beschafft werden. Das Gerät soll einen sehr guten Materialkontrast bei der Detektion von Sekundär- und Rückstreuelektronen ermöglichen. Lokale chemische Analysen sollen mit Hilfe der energiedispersiven Röntgenspektroskopie (EDX) hochortsaufgelöst erfolgen. Eine Erfassung von örtlichen kristallinen …
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:Carl Zeiss Microscopy Deutschland
2022-02-16Ultrahochvakuum-System mit kombiniertem Tieftemperatur STM/SFM (Universität Potsdam)
Gegenstand der Beschaffung ist die Lieferung und Installation eines Ultrahochvakuum-System mit kombiniertem Tieftemperatur STM/SFM, das für eine große Breite von möglichen Proben und Arten von Experimenten, wie der Messung von chemischen Bindungskräften, Messung elektrostatischer Kräfte verschiedener Längenskala, Messung beim Anlegen eine
elektrischen Stroms in der Probe, genutzt werden soll.
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2021-12-20RSML Workstation (Technische Universität Ilmenau, Dezernat Finanzen, SG Beschaffung)
Lieferung und Inbetriebnahme eines Rastersondenmikroskopie- und Lithographie-Arbeitsplatzes (RSML), bestehend aus AFM/SPL-Kopf, Auswerteelektronik, Schwingungsisolierung und Akustikhaube für die Entwicklung von Strukturierungstechnologien und die Untersuchung ihrer Grenzen in Bezug auf Auflösung und Geschwindigkeit. Das System soll eine Auflösung im Sub-nm-Bereich erreichen.
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:nano analytik GmbH
2021-10-12Hochauflösendes Rasterkraftmikroskop für Fest/Flüssig-Grenzflächen (Lehrstuhl für Katalytische Grenzflächenforschung)
Die Ausschreibung betrifft die Beschaffung eines
hochauflösenden Rasterkraftmikroskops für In-Situ-Untersuchungen an katalytisch und elektrokata-lytisch aktiven Fest/Flüssig-Grenzflächen.
Da insbesondere topologische Untersuchungen mit atomarer Auflösung an der (dynamischen / elektrifizierten) Flüssig/Fest-Grenz¬fläche von leitenden und nichtleitenden Trägern eine zentrale Rolle spielen werden, ergeben sich eine Reihe spezifischer Anforderungen an das Gerät: Untersu-chungen sollen in verschiedensten …
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:Oxford Instruments GmbH
2021-07-02AFM-IR-Mikroskop (Leibniz-Institut f. Plasmaforschung & Technologie)
Das Gerät soll zu korrelativen Analysen der Oberflächen-Topographie und der Infrarot-Spektroskopie von Polymerproben im nanoskaligen Bereich dienen. Mit diesem Zweck soll vor allem möglich sein, Nano- und Mikropartikel von diversen Kunstoffen (wie z. B. PS, PE usw.) im komplexen biologischen Umfeld (wie z. B. in-vitro-Zellkulturen oder Gewebeschnitte) zu charakterisieren.
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:attocube systems AG
2021-01-28UHV-LTSPM (Universität Siegen)
Lieferung eines fabrikneuen unbenutzten Tieftemperatur-Rastersondenmikroskops unter Ultrahochvakuum-Bedingungen (UHV-LTSPM) mit geschlossenem Kühlkreislauf sowie Verbringung an den definierten Verwendungsort und Versetzen in einen voll betriebsbereiten und abnahmefähigen Zustand (Werkliefervertrag).
Das UHV-LTSPM soll der genauen Bestimmung der geometrischen und elektronischen Struktur fortgeschrittener zweidimensionaler (2D) Materialien dienen und ist damit ein Schlüsselinstrument im Forschungsgebiet …
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:Scienta Omicron GmbH
2020-04-02Ultrahochvakuum-Rastersondenmikroskopie-System (Lehrstuhl für Katalytische Grenzflächenforschung)
Die Ausschreibung betrifft die Beschaffung eines Ultrahochvakuum-Rastersondenmikroskop-Systems zur strukturellen Charakterisierung komplexer Modelloberflächen in der Katalyse und Elektrokatalyse.
Da insbesondere elektrokatalytische Fragestellungen eine zentrale Rolle spielen werden, soll das Gerät über die Standardpräparationsverfahren hinaus mit einer Einrichtung ausgerüstet werden, die es gestattet, direkt im experimentellen System elektrochemische Experimente durchzuführen.
Die hier ausgeschriebene …
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:Specs Surface Nano Analysis GmbH
2019-12-23Optisches Nahfeld-Raster-Mikroskop und AFM (Technische Universität München)
Wir benötigen ein System für die Messung der spitzenverstärkten Brillouin Streuung mit hoher räumlicher Auflösung. Das System soll zusätzlich zeitaufgelöste magnetische Mikroskopie mit hoher zeitlicher und räumlicher Auflösung in Reflektion und Transmission ermöglichen sowie die Messung plasmonischer Anregungen in Nanostrukturen mit hoher zeitlicher und räumlicher Auflösung. Dazu benötigen wir ein optisches Nahfeld-Raster-Lichtmikroskop für ultraschnelle spektroskopische Messungen mit hoher zeitlicher …
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:Neaspec GmbH
2019-12-20Nanolithographiegerät (Helmholtz-Zentrum Dresden – Rossendorf e. V.)
Das Institut für Ionenstrahlphysik und Materialforschung betreibt ein Nanostrukturlabor, in dem elektronische Materialien strukturiert und kontaktiert werden können. In diesem Rahmen wurde in den letzten Jahren eine Anlage entwickelt, mit der 2dimensionale Halbleiter unter inerter Atmosphäre deponiert und kontaktiert werden können. Für die elektrische Kontaktierung auf der Nanoskala soll ein Lithografiegerät beschafft werden, dass Nanostrukturen herstellen kann, ohne dass diese inerte Atmosphäre …
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:SwissLitho AG
2019-10-28Rasterkraftmikroskop (Universität Bayreuth)
Bei dem zu beschaffenden Instrument handelt es sich um ein Rasterkraftmikroskop, welches sowohl für schnelle Messungen als auch für Messungen bei hohen Temperaturen geeignet sein soll. Weiterhin muss bei dem Gerät auch die Möglichkeit bestehen, ortaufgelöste, rauscharme Messungen über Mikrowellenimpedanzspektroskopie durchzuführen und damit lokale dielektrische Probeneigenschaften auf der nm-Ebene abzubilden.
Das Instrument muss auch eine Untersuchung von großen Proben sowie eine Möglichkeit zur …
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:Bruker France SAS
2019-09-30Optisches Nahfeld Rastermikroskop (Universität Paderborn)
Ausgeschrieben wird ein Optisches Nahfeld Rastermikroskop im Infrarotbereich, stimmbar von 3 bis 15 Müm mit einer Ortsauflösung unter 50 Müm.
Die detaillierte Leistungsbeschreibung entnehmen Sie bitte dem Dokument „Kriterienkatalog" (siehe Vergabeunterlagen).
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:Bruker France SAS
2019-05-28Tieftemperatur-Ultrahochvakuum-Rastersondenmikroskop/Physik (Universität Regensburg)
Die Universität Regensburg (Auftraggeber) plant am Institut für Experimentelle Physik die Beschaffung eines neuen, betriebsfertigen Tieftemperatur-Ultrahochvakuum-Rastersondenmikroskops inklusive optischer Zugänge für die Realisierung eines ultraschnellen Nahfeldmikroskops im mittelinfraroten Spektralbereich, das bei kryogenen Temperaturen und im Ultrahochvakuum (UHV) betrieben werden kann.
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2019-03-13Rasterkraftmikroskop (Leibniz-Institut fĂĽr Photonische Technologien e. V.)
Ausgeschrieben wird ein Rasterkraftmikroskop mit integrierter IR-Spektroskopie im Rahmen des Projektes „Entwicklung neuartiger Gesundheitstechnologien zur Detektion pathologischer Veränderungen und zur Visualisierung lokaler Therapieeffizienz mittels photonisch polarisierbarer, biologischer Spezies und photoinduzierter Rasterkraftmikroskopie (BiopolarSpec)“.
Die AFM-Plattform mit integrierter IR-Spektroskopie (? = 5.1 – 13 μm) dient den Untersuchungen von photonisch polarisierbarer, biologischer Spezies …
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:Anfatec Instruments AG
2019-02-14Tieftemperatur-Rastertunnelmikroskop (TU Ilmenau, Dezernat Fianzen, SG Beschaffung)
An der Technischen Universität Ilmenau wird im Rahmen des Projekts Forschungslabore Mikroelektronik Deutschland (ForLab) ein Rastertunnelmikroskop aufgebaut, das bei tiefen Temperaturen (verflüssigtes Helium) und im Ultrahochvakuum betrieben wird. Mit diesem Gerät werden elektronische, phononische und optische Eigenschaften von atomaren und molekularen Strukturen auf Oberflächen untersucht. Das Hauptaugenmerk liegt auf dem Elektronentransport durch supraleitende Einzelatom- und Einzelmolekülkontakte …
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:nanoscore gmbH
2018-02-28Optisches Rasternahfeldmikroskop (Technische Universität Chemnitz)
Für geplante Forschungsprojekte im Zentrum für Materialien, Architekturen und Integration von Nanomembranen (MAIN) soll ein auf Rasterkraftmikroskopie basierendes optisches Rasternahfeldmikroskop (scanning nearfield optical microscope (SNOM)) für Infrarot-Spektroskopie und -Bildgebung (Imaging) mit einer lateralen Auflösung im Nanometer-Bereich beschafft werden.
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:Neaspec GmbH
2017-12-11High Resolution Atomic Force Microscope (Universität Siegen)
Nanoscale probe system: a high-resolution atomic force microscope (AFM) suitable for opera-tion with an inverted optical microscope and as a standalone unit. In the first case, the AFM should be customized to be able to perform specific nano-optical experiments and involve a set of high-numerical aperture (NA) objectives to be employed with the custom AFM system mounted on an inverted microscope. Moreover, the AFM should be employed with liquids for experiments related to biointerfaces.
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:JPK Instruments AG
2015-09-08Rastersondenmikroskop (Universität Rostock)
Die Universität Rostock beabsichtigt den Kauf eines Variable-Temperatur (VT)-Rastersondenmikroskops für die Arbeitsgruppe Oberflächen- und Grenzflächenphysik der Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät (MNF)/Institut für Physik. Mit dem ausgeschriebenen VT-Rastersondenmikroskop sollen Proben auf Größenskalen vom atomaren bis zum Mikrometer-Bereich im Ultrahochvakuum vermessen und manipuliert werden, mit der Möglichkeit, mindestens zwei weitgehend beliebige Punkte der Probe mit Nanometer-Präzision zu …
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:Schäfer Technologie GmbH
2014-07-28Rastersondenmikroskop (Ernst-Abbe-Fachhochschule Jena)
Das Ziel der Beschaffung ist es, die Bedingungen für die Lehre zu verbessern und gleichzeitig neue Möglichkeiten für den Einsatz in der Forschung zu schaffen. Durch die geplante breite Nutzung des Gerätes, in Lehre und Forschung, ergeben sich vielfältige Anforderungen an das Gerät. Es sollte zum einen die Topografie von auch größeren Proben an Luft und in Flüssigzelle abbilden können, zusätzlich aber auch quantitative Informationen zu den mechanischen Eigenschaften im oberflächennahen Bereich liefern und …
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2014-06-12Ultrahochvakuum-Rasterkraftmikrokop (Universität Bielefeld, Dez. F, Abt. F 3)
Die Fakultät für Physik (Lehrstuhl Experimentelle Physik und Angewandte Nanowissenschaften) sucht ein bewährtes, high-end Rasterkraftmikroskop/Rastertunnelmikroskop-Gerät (AFM/STM), das unter Ultrahochvakuumbedingungen (UHV) bei variablen Temperaturbedingungen (VT) nachweislich atomare Auflösung auf Metallen, Halbleitern und Isolatoren in verschiedensten Messmodi und im besonderen Masse im dynamischen non-contact AFM-Abbildungsmodus an Halbleitern und Isolatoren (AFM-FM detection) erlaubt. Die …
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:Schaefer Technologie GmbH
2013-11-27Beschaffung eines Raman-/Rastersondenmikroskops (DFG-GZ: A 673) (Deutsche Forschungsgemeinschaft e. V., Zentrale Beschaffungsstelle)
Allgemein:
AFM/TERS Einheit speziell zum Einsatz für die Nano-Spektroskopie, d.h. die Auflösung von TERS-Kartierungen darf nur durch physikalische Parameter und nicht durch konstruktive Gegebenheiten der AFM-Raman-Kopplung limitiert sein.
Anforderungen an AFM:
Eignung für verschiedene Betriebsarten (mindestens: contact, point-to-point contact (intermittent contact), non-contact, jeweils mit/ ohne STM-Mode-Leitfähigkeitsmessung (100fA bis 10µA oder besser), sowie weitere übliche AFM-Modi.
Proben-Scanner, …
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:Horiba Jobin Yvon GmbH