2024-09-16RV Hydraulik, hydraulische Berechnungen (Energie und Wasser Potsdam GmbH)
Die Leistungen umfassen die Durchführung und Auswertung von Niederschlags- und Abflussmessungen im Bereich der Siedlungswasserwirtschaft sowie von Druck- und Durchflussmessungen in Abwasserdruckleitungen und Pumpwerken, inkl. der Bereitstellung und Installation von Datenloggern, Druckmesssonden, Durchflussmessgeräten, Wasserstandmessgeräten und Regenschiebern. Durchführung und Auswertung hydraulischer Kanalnetzberechnungen, Berechnung von instationären Druckleitungsregimen im Verbund und sonstige …
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2023-12-04Optische Profilometrie IZHH (Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt e.V.)
Im Rahmen der Quantencomputing-Initiative des DLR werden in einem Reinraum am Innovationszentrum Hamburg Quantencomputer mit der Ionenfallen-Technologie in Zusammenarbeit von Industrie und DLR gebaut. Für die Ausstattung des neuen Reinraums wird ein spezifischer Maschinenpark zur Herstellung, Bearbeitung und Integration von Ionenfallenchips und verwandten Quantentechnologien benötigt. Hierzu werden Anlagen für eine klassische Mikrostrukturierungsprozesskette für den Reinraum beschafft. Teil der …
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2022-08-22AFM Messgerät (Universität Paderborn)
Ausgeschrieben wird in diesem Verfahren ein AFM Messgerät.
Das AFM soll das Kernstück der topographischen Untersuchung von Oberflächen mit Nanometerauflösung darstellen und im Reinraum der Universität Paderborn aufgestellt werden.
Eine Analyse von waferskaligen Bauelementen stellt große Anforderungen an die Wafergröße (bis zu 2"), die Strukturgröße und die Strukturhomogenitäten. Die verwendeten optischen Bauelemente basieren auf zum Beispiel Wellenleiterstrukturen, die eine extrem hohe Anforderung an die …
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:Bruker Nano GmbH
2022-03-25Maler-Messgeräte, Berufskolleg Gladbeck (Kreis Recklinghausen, Der Landrat)
Der Kreis Recklinghausen schreibt die Beschaffung von berufsspezifischer Ausstattung für die Ausbildung am Berufskolleg in Gladbeck aus.
Folgende Produkte sollen beschafft werden:
Los1
- Wärmebildkamera x 1
Los 2
- Einfaches Schichtdicken-Messgerät x 1
- Professionelles Schichtdicken-Messgerät x 1
- Digitales Feuchtemessgerät mit Kugelkopf x 2
Los 3
- Einfacher Rotationslaser für den Innenraum x 1
- Professioneller Rotationslaser für den Innenraum x 1
Los 4
- Laser-Entfernungsmesser x 3
- Professioneller …
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:Metin Yazar
2022-03-09Universität zu Köln_Wasserdampf- und Temperatur-Raman-Lidar für JOYCE (Universität zu Köln, Abteilung 64 - Einkauf)
Die Universität zu Köln ist Teil der European Aerosol, Clouds and Trace Gases Research Infrastructure (ACTRIS) und wird ein Hochleistungs-Raman-Lidar erwerben, das in der Lage ist, Temperatur- und Feuchtigkeitsprofile in der atmosphärischen Grenzschicht kontinuierlich (Tag und Nacht) zu überwachen und in die freie Troposphäre darüber. Zusätzlich soll die Messung von Rückstreu-, Extinktions- und Depolarisationsprofilen in der gesamten Troposphäre möglich sein.
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:GWU-Umwelttechnik GmbH
2020-03-25WAFB 3.0 – Wetterstationen (TransnetBW GmbH)
Diese Ausschreibung zu WAFB 3.0 – Wetterstationen (WAFB = Witterungsabhängiger Freileitungsbetrieb), umfasst die vollständige, funktionsbereite und mangelfreie Errichtung und den Betrieb eines Systems zur Erfassung und zentralen Bereitstellung von Wetterdaten für den WAFB 3.0 (weitere Informationen, siehe Leistungsverzeichnis).
Dies beinhaltet nachfolgende Aufgaben:
— Ausführungsplanung;
— Design Wetterstation (Berechnung, Konstruktion);
— Produktion der Wetterstationen (Fertigung, Prüfung, Lieferung);
— …
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:Mosdorfer GmbHOTLM d.o.o.Unilab Systemhaus GmbHWilmers Messtechnik GmbH
2015-03-12Wind-Lidar (Fraunhofer Gesellschaft e. V.)
Wind-Lidar.
Bei dem Auftragsgegenstand handelt es sich um ein LIDAR-Windmessgerät auf Basis der Doppler-Verschiebung sowie Verwendung eines gepulsten Lasers. Hierbei muss der Laserstrahl frei steuerbar sein und vorgegebene Richtungen abfahren können. Das Gerät soll Windfelder bis mindestens 1 000 Metern Höhe abtasten können.
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2013-02-14BU Wuppertal - Erweiterung Maschinenprüfstand (Bergische Universität Wuppertal)
Erweiterung eines Maschinenprüfstands am Lehrstuhl für elektrische Maschinen und Antriebe, unterteilt in a) thermische und akustische Maßnahmen mit 4 Teillosen (Los 1-Schallschutzkabine, Los 2-Wasserkühlung, Los 3- Temperierung der Umgebungsluft, Los 4-Klimaschrank), b) Erhöhung elektrischer Leistung mit 3 Teillosen (Los 5-Batterienachbildung, Los 6-Lastmaschine, Los 7-Frequenzumrichter), c) Mess- und Steuerungstechnik mit 4 Teillosen (Los 8-Wärmebildkamera, Los 9-Oszilloskop, Los 10-Datenlogger, Los …
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:DataTec GmbHTemes Engineering GmbHYokogawa Deutschland GmbH
2013-01-08CD-Messplatz (Fraunhofer Gesellschaft e. V.)
Beschaffung einer optischen Messapparatur zur Bestimmung kritischer Dimensionen (CD), des Overlays, von Defekte und Schichtdicken (optional) auf Wafern mit Scheibendurchmesser von 3“ bis zu 200 mm.
Für unsere Anwendungen benötigen wir ein automatisiertes Prozesskontrollsystem zur Bestimmung von kritischen Abmessungen, der Überlagegenauigkeit, von Defekten und Schichtdicken auf Silicium- und
Siliciumcarbidwafern mit Durchmessern von 3“ bis 200mm und auf Photolithographiemasken und –reticles.
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:MueTec GmbH
2012-11-02Modernisierung von Ausbildungswerkstätten (HWK Potsdam Zentrum für Gewerbeförderung)
Das Zentrum für Gewerbeförderung Götz ist die Bildungsstätte der Handwerkskammer Potsdam. In 30.
Werkstätten mit 416 Ausbildungsplätzen werden Meisterschüler und Lehrlinge ausgebildet. Mit dem Vorhaben werden die Werkstätten modernisiert. Ausbildungswerkstätten in den Gewerken: Friseur, Kosmetik, Maler, Kunststoff, Sanitär/Heizung/Klima, Holz, Kfz, Elektro, Hydraulik/Pneumatik, Metall, Schweißen, EDV.
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2010-05-15Oberflächen-Messgeräte (Fraunhofer Gesellschaft e.V.)
Optische CD und Overlay Messgerät. Es soll eine vollautomatische Anlage (Cassette to Cassette mit Bilderkennung) zur CD (Critical Dimension) und Overlay Messung in Photolack oder geätzten Strukturen mit Schichtdicken im Bereich von 5 nm bis 30 μm zur Mikrostrukturierung von MEMS auf 200 mm Silizium-Wafern beschafft werden. Minimale Strukturbreiten von 0.5 μm sollen mit 10 nm Genauigkeit gemessen und die Fehljustierung auf 5 nm genau bestimmt werden. Erwünscht ist eine Kombination aus CD und Overlay …
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