2014-11-04Beschaffung eines Transmissionselektronenmikroskops (DFG-GZ: A 695) (Deutsche Forschungsgemeinschaft e. V., Zentrale Beschaffungsstelle)
Benötigt wird ein Transmissionselektronenmikroskop (TEM) mit einer Beschleunigungsspannung von 120 kV und einer LaB6-Kathode zur Charakterisierung von nanostrukturierten Materialien.
Folgende Anforderungen werden an das Gerät gestellt:
— Beschleunigungsspannung: 120 kV,
— Elektronenquelle: LaB6-Kathode,
— Eignung für den Betrieb in hohen Vergrößerungen: bis mind. 300 000 x,
— Punktauflösung. 0,4 nm oder besser,
— Elektronenbeugung,
— einfache Bedien- und Aufnahmesoftware für den „multi-user“-Betrieb,
— …
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:JEOL (Germany) GmbH
2014-09-16Raman-Mikroskop-Spektrometer (Friedrich-Loeffler-Instiut)
Auftragsgegenstand ist die Lieferung und betriebsbereite Aufstellung eines Raman-Mikroskop-Spektrometers inklusive Installation der Software, die Einweisung in die Bedienung und Funktion des Gerätes vor Ort sowie die Aushändigung einer deutsch- oder englischsprachigen Bedienungsanleitung. Zudem sind Softwareupdates und Applikationsunterstützungen innerhalb der ersten 4 Jahre nach betriebsbereiter Aufstellung, eine Schulung über mindestens 2 Tage beim Auftragnehmer oder in gleicher Qualität beim …
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2014-06-20„Niederdruck-Elektronenmikroskop mit Feldemissionskathode“ AZ 025007/14 (Technische Universität Dresden)
Das im Rahmen des offenen Verfahrens ausgeschriebene „Niederdruck-Elektronenmikroskop mit Feldemissionskathode“ soll am Institut für Baustoffe der Technischen Universität Dresden eingesetzt werden und vor allem zur Durchführung von Stoffuntersuchungen im Sub-Mikrometer- bzw. Nanometerbereich dienen. Diese Untersuchungen sind Kern fast aller Forschungsvorhaben des Institutes und stellen eine wichtige Basis zur Erklärung makroskopischer Phänomene dar. Für die Untersuchung nichtleitender, hydraulisch …
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2014-06-04EO005-14: Lieferung und Installation eines Rasterelektronenmikroskops, inkl. Training (Deutsches Elektronen-Synchrotron DESY)
Lieferung, Installation und Training eines Rasterelektronenmikroskops:
Das hochauflösende Raster-Elektronenmikroskop dient zur strukturellen und chemischen Charakterisierung von Proben auf Mikro- und Nanoskala. Die mit dem Raster-Elektronenmikroskop zu charakterisierenden Proben umfassen unter anderem Metall- und Legierungsnanopartikel auf nichtleitenden Oxidsubstraten mit nur einigen Nanometern Durchmesser, Nano-Assemblies und Nanodrähte, sowie nanoskalige Probenoberflächen anderer Materialklassen.
Das …
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:FEI Deutschland GmbH
2014-05-23Lieferung eines Feldemissionstransmissionselektronenmikroskops (Helmholtz-Zentrum Dresden-Rossendorf e. V.)
Die Ausschreibung zielt auf die Produktion, Lieferung und betriebsfertige Installation eines 200kV Transmissionselektronenmikroskops mit Feldemissionsquelle, rasterndem Strahlsystem (STEM) und energiedispersivem Röntgenspektrometer (EDXS-System) sowie weiterem Zubehör mit folgenden Mindestanforderungen:
Elektronenquelle:
— Schottky-Feldemitter,
— Richtstrahlwert: ≥ 4-10(hoch)8 Acm(hoch)-2sr(hoch)-1 (bei 200 kV),
— Maximale Beschleunigungsspannung 200 kV,
— Beschleunigungsspannung ohne Umbau wahlweise …
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:FEI Deutschland GmbH
2014-05-22Rasterelektronenmikroskop (SEM) (Universität Leipzig)
Leistungsgegenstand ist die Lieferung, funktionsbereite Aufstellung und Inbetriebnahme sowie Demonstration der Spezifikationen eines Raster-Elektronen-Mikroskops (SEM). Das Mikroskop soll auf einer thermischen Kathode als Emitter basieren wobei hier sowohl Standard-Wolframelemente genutzt werden können sollen als auch alternativ LaB6-Elemente für eine gesteigerte Auflösung. Das System soll universell im Bereich der Werkstoffanalyse und Analyse von biologischen Proben einsetzbar sein. Das Gerät soll einen …
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2014-05-22Transmissionselektronenmikroskop (Helmholtz-Zentrum Geesthacht Zentrum fĂĽr Material- und KĂĽstenforschung GmbH)
Einleitung
Das Institut für Biomaterialforschung in Teltow (HZG) beschäftigt sich mit der Entwicklung von Biomaterialien die, in Form von Implantaten, Mikro- oder Nanopartikeln, zukünftig in der Klinik angewendet werden sollen. Derartige nanoskalige Polymersysteme sollen z.B. für den zielgerichteten Transport von Wirkstoffen und deren kontrollierte Freisetzung im Rahmen der therapeutischen Anwendungen eingesetzt werden. Ein wesentliches Hemmnis für die Entwicklung der benötigten neuen Therapieformen ist …
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:FEI Deutschland GmbH
2014-01-31Inertgas-Rastersondenmikroskop (Technische Universität Ilmenau, Dezernat Planung und Haushalt, SG Beschaffung)
Es wird ein Rastersondenmikroskop zur Untersuchung von elektrochemischen Phasengrenzen und Oberflächen mit hoher Ortsauflösung in inerter Argonatmosphäre (<1 ppm Sauerstoff und Wasser) benötigt.
Folgende Messtechniken mĂĽssen zwingend vorhanden sein:
— Atomic force microscopy (AFM) im contact und tapping mode;
— Conductive AFM;
— Kraft-Abstands-Kurven und colloidal probe spectroscopy;
— Magnetic force microscopy (MFM).
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:Bruker AXS S.A.S.
2014-01-30Rasterelektronenmikroskop (Fraunhofer Gesellschaft e. V.)
Rasterelektronenmikroskop
Das Fraunhofer ENAS arbeitet und forscht auf den Gebieten Nanoelektronik und MEMS/NEMS.
Für die Erforschung, Entwicklung und Anwendung von neuen Funktionsprinzipien, Prozessen und Devices ist die Anschaffung einer Ausrüstung geplant, die es ermöglicht, Strukturen bis unter 20 nm, insbesondere auch Resiststrukturen ohne störende Aufladungen zu inspizieren und effizient zu bewerten. Besonders wichtig ist, dass unterschiedliche Substratdimensionierungen (Waferdicke, Durchmesser) …
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2013-12-02Rasterelektronenmikroskop (Bundesanstalt fĂĽr Materialforschung und -prĂĽfung (BAM))
Rasterelektronenmikroskop zur:
— Untersuchung metallischer und keramischer Werkstoffe, Schichtsysteme, evtl. Polymere,
— Schadensanalyse (v. a. Fraktographie) unter anderem für Prüfaufträge und Gerichtsgutachten,
— Qualitätssicherung (z. B. Werkstoff- und Gefügecharakterisierung von Gefahrgut-Behältern),
— Phasencharakterisierung von Betonen,
— Bereitstellung für Service- und Dienstleistungen im Multiuser-Betrieb (ein Administrator, mehrere Operateure)
gemäß anzufordernder Vergabeunterlagen unter der …
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:EO Elektronen-Optik-Service GmbH
2013-10-04Beschaffung eines Dual-Beam-Mikroskops (DFG-GZ: A 662) (Deutsche Forschungsgemeinschaft e. V., Zentrale Beschaffungsstelle)
Das zu beschaffende Gerät mit dem unten angeführten Anforderungsprofil soll ermöglichen, sowohl ein leistungsfähiges und weithin sichtbares Labor für Mikro- und Nanomechanik zu etablieren, als auch weiterhin im Rahmen der jetzigen Kernkompetenzen im Bereich der Textur- und Grenzflächenanalyse mit modernsten Methoden zu forschen.
Technische Anforderungen an das zu beschaffende Dual-Beam Gerät:
— Höchstauflösende Elektronen-/Ionenoptik: Probenpräparation und Analyse von Mikrostrukturen und Verformung im …
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:FEI Deutschland GmbH
2013-07-31Kombiniertes Rasterelektronenmikroskop mit Focussed Ion Beam (Fraunhofer Gesellschaft e. V.)
Kombiniertes Rasterelektronenmikroskop mit Focussed Ion Beam
Es soll ein kombiniertes Rasterelektronenmikroskop (REM) mit Focussed Ion Beam (FIB) beschafft werden. Dies wird im folgenden REM/FIB-Gerät genannt.
Es handelt sich dabei um ein Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop, welches zusätzlich zur In-Situ Präparation eine fokussierte Ionenquelle besitzt, mit der sich lokal Material von einer Probe abtragen lässt. Das Gerät dient dazu unter REM-Kontrolle einzelne Querschnitte, Serien von Querschnitten …
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2013-07-25Nanolithographiesystem (Fraunhofer Gesellschaft e.V.)
Nanolithographiesystem bestehend aus Electron Beam Exposure System und CD-SEM Elektronenstrahlbelichtungsanlage – Ausrüstung zum Belichten von Elektronen-strahlresists auf Waferlevel für MEMS/NEMS und Nanoelektronik. CD-SEM (spezielles Rasterelektronenmikroskop): Ausrüstung zur automatisierten Kontrolle der lateralen Abmessungen und Toleranzen von Strukturen auf Waferlevel für MEMS/NEMS und Nanoelektronik mittels Elektronenmikroskopie.
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2013-07-15REM-FIB Zweistrahl Bearbeitungs- und Charakterisierungsmikroskop (Fraunhofer Gesellschaft e. V.)
REM-RIB Zweistrahl Bearbeitungs- und Charakterisierungsmikroskop: Das Fraunhofer Institut für Solare Energiesysteme (ISE) plant die Anschaffung eines Rasterelektronenmikroskops (REM) mit Focused Ion Beam (FIB) zur Präparation und Analyse von Proben vorwiegend aus dem Bereich der Solarzellenfertigung aus Halbleitermaterialien. Die ständige Einsatzbereitschaft des Gerätes ist ausgesprochen wichtig. Daher muss eine kurze Reaktionszei bei Sercive-und Wartungseinsätzen gewährleistet werden. Eine der …
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2013-06-28Rasterelektronenmikroskop mit fokussierendem Ionenstrahl (Technische Universität Dresden)
Das Ziel der Ausschreibung ist die Beschaffung eines leistungsstarken Rasterelektronenmikroskops mit fokussierendem Ionenstrahl, wobei Lieferung, Aufstellung, Inbetriebnahme und Einweisung in die Nutzung, Auswertung und Problembehebung eingeschlossen sind. Mit dem Gerätesystem sollen u.a. die Grundlagen für die Nanoana-lytik an eindimensionalen (1D) Nanostrukturen und daraus aufgebauten Bauelementen erforscht und insbesondere die Erfordernisse und die Wirksamkeit des kombinierten Einsatzes von Ionen- und …
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2013-05-08Rasterelektronenmikroskop (Polizei Berlin)
Beschaffung eines Rasterelektronenmikroskopes mit PC Arbeitsplatz.
Modernes software-gesteuertes, digitales Rasterelektronenmikroskop mit FE-Kathode.
Bildspeicherauflösung besser 3 072 x 2 304 Bildpunkte.
Vollautomatisiertes Vakuumsystem, ölfrei, luftgekühlt, mit Schallschutzbox für die Vorvakuumpumpe, SE-Detektot, BSE YAG Detektor.
Große universelle Probenkammer mindestens 365 mm ID, 275 mm Höhe.
Adaption eines vorhandenen EDX Systems inklusive 2 Jahre Garantiezeitraum.
Vor Ort Service innerhalb von 5 Tagen.
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:Carl Zeiss Microscopy GmbH
2013-02-08Dual-Beam Mikroskop (FIB/REM) (Deutsches Zentrum fĂĽr Luft- und Raumfahrt e.V. (DLR))
Das DLR ist das Forschungszentrum der Bundesrepublik Deutschland für Luft- und Raumfahrt. Seine Forschungs- und Entwicklungsarbeiten in Luftfahrt, Raumfahrt, Energie, Verkehr und Sicherheit sind in nationale und internationale Kooperationen eingebunden. Darüber hinaus ist das DLR im Auftrag der Bundesregierung für die Planung und Umsetzung der deutschen Raumfahrtaktivitäten zuständig. Zudem sind im DLR zwei Projektträger zur Forschungsförderung angesiedelt.
Das DLR erforscht Erde und Sonnensystem, es …
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2012-11-20„Rasterelektronenmikroskop (REM)“ AZ 225013/12 (Technische Universität Dresden)
Das im Offenen Verfahren ausgeschriebene Rasterelektronenmikroskop (REM) soll in der Arbeitsgruppe von Prof. Wolf-Joachim Fischer, Institut fĂĽr Halbleiter- und Mikrosystemtechnik an der TU Dresden eingesetzt werden.
Das Ziel der Ausschreibung ist die Beschaffung eines geeigneten und leistungsstarken REM-Systems mit EDX-Zusatz und zusätzlichem Niedervakuumbetrieb, wobei Lieferung, Aufstellung, Inbetriebnahme und Einweisung in die Nutzung, Auswertung und Problembehebung eingeschlossen sind.
Weitere …
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:JEOL (Germany) GmbH
2012-10-31Focus ion Beam inkl. Rasterelektronenmikroskop (Fraunhofer Gesellschaft e. V.)
Die Gerätkombination, eine Zweistrahl-Anlage (FIB & REM), soll dazu dienen, die Prozesse in der Aufbau-und Verbindungstechnik zu analysieren und zu qualifizieren. Neben der Charakterisierung der Werkstoffeigenschaften im Mikro/Nano –Übergangsbereich sollen strukturelle Untersuchungen zur.
Bewertung der Zuverlässigkeit und Abschätzung der Lebensdauer elektronischer.
Systeme herangezogen werden.
Schwerpunkte sind unter anderem:
— Materialanalytik,
— Charakterisierung von Grenzflächen,
— Untersuchungen zur …
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:FEI Deutschland GmbH
2012-09-17In-Line Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (Fraunhofer Gesellschaft e. V.)
Im Bereich Forschung und Entwicklung von mikroelektronischen und leistungselektronischen Bauelementen, der Sensor und MEMS Technologie ist die mikrostrukturelle Untersuchung und Charakterisierung von 3D-Strukturen wie Gräben und Spitzen, von dünnen Schichten und von kritischen Abmessungen in der Fotolithographie und Ätztechnik auf Probenstücken bis hin zu.
Siliciumscheiben mit 200 mm Durchmesser von größter Bedeutung. Die geeignetste und am weitesten verbreitete Methode hierfür ist …
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:JEOL
2012-08-20Critical Dimension Scanning Electron Microskop (Fraunhofer Gesellschaft e.V.)
Im Bereich Mikrosystemtechnik soll zur Inspektion und Prozesskontrolle ein hochauflösendes CDSEM eingesetzt werden.
Es sollen mikromechanische Strukturen verschiedener Materialen schnell und mit hoher Präzision vermessen werden.
Das Beladen des Geräts mit Wafern soll vollautomatisch mittels Wafercarriern erfolgen. Die Wafer sollen mit zuvor programmierten Messaufgaben vollautomatisch vermessen werden. Es kommen auch Gebrauchtgeräte in die Auswahl.
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:Hitachi High-Technologie