2016-05-24Rasterkraftmikroskop (Friedrich-Schiller-Universität Jena)
Benötigt wird ein (1) Rasterkraftmikroskop zur topografischen Analyse (AFM-Imaging) und für Reibungsmessungen mit höchster AFM-Auflösung an Luft sowie in Flüssigkeiten. Unbedingt erforderlich sind AFM-Messköpfe, die jeweils für die besonderen Messaufgaben optimiert sind. Weiterhin ist ein AFM-Messkopf erforderlich, der über einen umfangreichen Scanbereich mit niedrigem Rauschsignal verfügt. Das Gerätesystem muss sich zudem mit modernen (fluoreszenz-) mikroskopischen Verfahren kombinieren lassen. Die …
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:JPK Instruments AG
2016-02-25E_848_219427 cl-Ols – Rasterelektronenmikroskop (Fraunhofer Gesellschaft e. V.)
E_848_219427 cl-Ols – Rasterelektronenmikroskop.
Ein zu beschaffendes Dual-Beam Gerät soll zum einen durch eine FIB eine Erweiterung der präparativ-analytischen Methoden bieten und zum anderen second sorce für ein älteres Analytik-/Mess-REM sein.
— Probengrößen: Crosssections, Proben auf Stubs,150 mm Wafer und 200 mm Wafer. Vom 200-mm-Wafer soll eine möglichst große Fläche einfach erreicht werden. Maximale Probenhöhe von Sonderproben >20 mm. Probenhalter für 200-mm-Wafer und 150-mm-Wafer.
— Stage, …
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:FEI Deutschland GmbH
2016-02-05Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (Hochschule Koblenz)
Die Hochschule Koblenz plant mit diesem Vergabeverfahren den Erwerb eines Feldemmissionsrasterelektronenmikroskop mit angeschlossener Leichtelementanalytik und Probenpräparation im Wege eines offenen Verfahrens gemäß § 3 Abs. 1 S. 1 EG VOL/A.
Die konkret zu beschaffenden Lieferung und Leistung ergibt sich aus Teil_B_Leistungsbeschreibung.
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2016-02-01Universität zu Köln – Rasterelektronenmikroskop (Universität zu Köln)
Gegenstand der Ausschreibung ist die Herstellung, Lieferung, Installation und Inbetriebnahme eines analytischen Feldemissions-Rasterelektronenmikroskops (single beam) mit (thermischer) Schottky Feldemissionskathode, welches softwaregesteuert wahlweise im Hochvakuum Modus (HP) oder mit variablem Vakuum (VP) arbeitet.
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:Carl Zeiss Microscopy GmbH
2015-09-08Feldemissions-Transmissionselektronenmikroskope (Universität Paderborn)
Ausgeschrieben wird ein Komplettpaket zur Analytischen Transmissions- und Rastertransmissionselektronenmikroskopie (S)TEM, bestehend aus zwei Feldemissions-Transmissionselektronenmikroskopen mit side-entry-Probengoniometern und damit verbundenen Zusatzgeräten, für das in Gründung befindliche OWL-Analytikzentrum mit Standorten in Paderborn und Bielefeld. Die Mikroskope sollen über Internet fernsteuerbar sein und müssen über wechselseitig austauschbare Probenhalter verfügen. Die Mikroskope müssen bei …
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2015-09-01Rasterelektronenmikroskop (BTU Cottbus-Senftenberg)
Es soll ein Rasterelektronenmikroskop (REM bzw. SEM) mit Rückstreu- (BSE-) und Sekundärelektronen- (SE-) Detektor einschließlich eines dreifach-Analytiksystems, bestehend aus je einem Energie dispersiven Röngenstrahlendetektor (EDX bzw. EDS), einem Wellenlängen dispersiven Röngenstrahlendetektors (WDX bzw. WDS) und einem Electron Backscatter Diffraction Detektors (EBSD) angeschafft werden. Das anzuschaffende REM dient der Abbildung, Vermessung und Analytik von festen Proben aus den Fachgebieten …
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2015-06-05Beschaffung eines Rasterelektronenmikroskops (DFG-GZ: A 706) (Deutsche Forschungsgemeinschaft e. V., Zentrale Beschaffungsstelle)
Die an das zu beschaffende Rasterelektronenmikroskop (REM) gestellten Anforderungen ergeben sich aus dem zu bearbeiteten Aufgabenspektrum. Dies sind vor allem Abbildung von Oberflächen, Ermittlung der chemischen Zusammensetzung sowie einfache Elektronenstrahllithographie. Dabei bestehen besondere Anforderungen an die Leistungsfähigkeit des Gerätes insbesondere hinsichtlich des Auflösungsvermögens sowie bei der Untersuchung nichtleitender Proben.
— Auflösung im standard mode < 1.0 nm bei 15 kV, < 1.5 nm …
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:Carl Zeiss Microscopy GmbH
2014-06-04EO005-14: Lieferung und Installation eines Rasterelektronenmikroskops, inkl. Training (Deutsches Elektronen-Synchrotron DESY)
Lieferung, Installation und Training eines Rasterelektronenmikroskops:
Das hochauflösende Raster-Elektronenmikroskop dient zur strukturellen und chemischen Charakterisierung von Proben auf Mikro- und Nanoskala. Die mit dem Raster-Elektronenmikroskop zu charakterisierenden Proben umfassen unter anderem Metall- und Legierungsnanopartikel auf nichtleitenden Oxidsubstraten mit nur einigen Nanometern Durchmesser, Nano-Assemblies und Nanodrähte, sowie nanoskalige Probenoberflächen anderer Materialklassen.
Das …
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2014-05-22Rasterelektronenmikroskop (SEM) (Universität Leipzig)
Leistungsgegenstand ist die Lieferung, funktionsbereite Aufstellung und Inbetriebnahme sowie Demonstration der Spezifikationen eines Raster-Elektronen-Mikroskops (SEM). Das Mikroskop soll auf einer thermischen Kathode als Emitter basieren wobei hier sowohl Standard-Wolframelemente genutzt werden können sollen als auch alternativ LaB6-Elemente für eine gesteigerte Auflösung. Das System soll universell im Bereich der Werkstoffanalyse und Analyse von biologischen Proben einsetzbar sein. Das Gerät soll einen …
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2014-01-31Inertgas-Rastersondenmikroskop (Technische Universität Ilmenau, Dezernat Planung und Haushalt, SG Beschaffung)
Es wird ein Rastersondenmikroskop zur Untersuchung von elektrochemischen Phasengrenzen und Oberflächen mit hoher Ortsauflösung in inerter Argonatmosphäre (<1 ppm Sauerstoff und Wasser) benötigt.
Folgende Messtechniken müssen zwingend vorhanden sein:
— Atomic force microscopy (AFM) im contact und tapping mode;
— Conductive AFM;
— Kraft-Abstands-Kurven und colloidal probe spectroscopy;
— Magnetic force microscopy (MFM).
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:Bruker AXS S.A.S.
2014-01-30Rasterelektronenmikroskop (Fraunhofer Gesellschaft e. V.)
Rasterelektronenmikroskop
Das Fraunhofer ENAS arbeitet und forscht auf den Gebieten Nanoelektronik und MEMS/NEMS.
Für die Erforschung, Entwicklung und Anwendung von neuen Funktionsprinzipien, Prozessen und Devices ist die Anschaffung einer Ausrüstung geplant, die es ermöglicht, Strukturen bis unter 20 nm, insbesondere auch Resiststrukturen ohne störende Aufladungen zu inspizieren und effizient zu bewerten. Besonders wichtig ist, dass unterschiedliche Substratdimensionierungen (Waferdicke, Durchmesser) …
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2013-12-02Rasterelektronenmikroskop (Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM))
Rasterelektronenmikroskop zur:
— Untersuchung metallischer und keramischer Werkstoffe, Schichtsysteme, evtl. Polymere,
— Schadensanalyse (v. a. Fraktographie) unter anderem für Prüfaufträge und Gerichtsgutachten,
— Qualitätssicherung (z. B. Werkstoff- und Gefügecharakterisierung von Gefahrgut-Behältern),
— Phasencharakterisierung von Betonen,
— Bereitstellung für Service- und Dienstleistungen im Multiuser-Betrieb (ein Administrator, mehrere Operateure)
gemäß anzufordernder Vergabeunterlagen unter der …
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:EO Elektronen-Optik-Service GmbH
2013-07-31Kombiniertes Rasterelektronenmikroskop mit Focussed Ion Beam (Fraunhofer Gesellschaft e. V.)
Kombiniertes Rasterelektronenmikroskop mit Focussed Ion Beam
Es soll ein kombiniertes Rasterelektronenmikroskop (REM) mit Focussed Ion Beam (FIB) beschafft werden. Dies wird im folgenden REM/FIB-Gerät genannt.
Es handelt sich dabei um ein Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop, welches zusätzlich zur In-Situ Präparation eine fokussierte Ionenquelle besitzt, mit der sich lokal Material von einer Probe abtragen lässt. Das Gerät dient dazu unter REM-Kontrolle einzelne Querschnitte, Serien von Querschnitten …
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2013-07-25Nanolithographiesystem (Fraunhofer Gesellschaft e.V.)
Nanolithographiesystem bestehend aus Electron Beam Exposure System und CD-SEM Elektronenstrahlbelichtungsanlage – Ausrüstung zum Belichten von Elektronen-strahlresists auf Waferlevel für MEMS/NEMS und Nanoelektronik. CD-SEM (spezielles Rasterelektronenmikroskop): Ausrüstung zur automatisierten Kontrolle der lateralen Abmessungen und Toleranzen von Strukturen auf Waferlevel für MEMS/NEMS und Nanoelektronik mittels Elektronenmikroskopie.
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2013-06-28Rasterelektronenmikroskop mit fokussierendem Ionenstrahl (Technische Universität Dresden)
Das Ziel der Ausschreibung ist die Beschaffung eines leistungsstarken Rasterelektronenmikroskops mit fokussierendem Ionenstrahl, wobei Lieferung, Aufstellung, Inbetriebnahme und Einweisung in die Nutzung, Auswertung und Problembehebung eingeschlossen sind. Mit dem Gerätesystem sollen u.a. die Grundlagen für die Nanoana-lytik an eindimensionalen (1D) Nanostrukturen und daraus aufgebauten Bauelementen erforscht und insbesondere die Erfordernisse und die Wirksamkeit des kombinierten Einsatzes von Ionen- und …
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2013-05-08Rasterelektronenmikroskop (Polizei Berlin)
Beschaffung eines Rasterelektronenmikroskopes mit PC Arbeitsplatz.
Modernes software-gesteuertes, digitales Rasterelektronenmikroskop mit FE-Kathode.
Bildspeicherauflösung besser 3 072 x 2 304 Bildpunkte.
Vollautomatisiertes Vakuumsystem, ölfrei, luftgekühlt, mit Schallschutzbox für die Vorvakuumpumpe, SE-Detektot, BSE YAG Detektor.
Große universelle Probenkammer mindestens 365 mm ID, 275 mm Höhe.
Adaption eines vorhandenen EDX Systems inklusive 2 Jahre Garantiezeitraum.
Vor Ort Service innerhalb von 5 Tagen.
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2013-02-08Dual-Beam Mikroskop (FIB/REM) (Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt e.V. (DLR))
Das DLR ist das Forschungszentrum der Bundesrepublik Deutschland für Luft- und Raumfahrt. Seine Forschungs- und Entwicklungsarbeiten in Luftfahrt, Raumfahrt, Energie, Verkehr und Sicherheit sind in nationale und internationale Kooperationen eingebunden. Darüber hinaus ist das DLR im Auftrag der Bundesregierung für die Planung und Umsetzung der deutschen Raumfahrtaktivitäten zuständig. Zudem sind im DLR zwei Projektträger zur Forschungsförderung angesiedelt.
Das DLR erforscht Erde und Sonnensystem, es …
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2012-11-20„Rasterelektronenmikroskop (REM)“ AZ 225013/12 (Technische Universität Dresden)
Das im Offenen Verfahren ausgeschriebene Rasterelektronenmikroskop (REM) soll in der Arbeitsgruppe von Prof. Wolf-Joachim Fischer, Institut für Halbleiter- und Mikrosystemtechnik an der TU Dresden eingesetzt werden.
Das Ziel der Ausschreibung ist die Beschaffung eines geeigneten und leistungsstarken REM-Systems mit EDX-Zusatz und zusätzlichem Niedervakuumbetrieb, wobei Lieferung, Aufstellung, Inbetriebnahme und Einweisung in die Nutzung, Auswertung und Problembehebung eingeschlossen sind.
Weitere …
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:JEOL (Germany) GmbH
2012-10-31Focus ion Beam inkl. Rasterelektronenmikroskop (Fraunhofer Gesellschaft e. V.)
Die Gerätkombination, eine Zweistrahl-Anlage (FIB & REM), soll dazu dienen, die Prozesse in der Aufbau-und Verbindungstechnik zu analysieren und zu qualifizieren. Neben der Charakterisierung der Werkstoffeigenschaften im Mikro/Nano –Übergangsbereich sollen strukturelle Untersuchungen zur.
Bewertung der Zuverlässigkeit und Abschätzung der Lebensdauer elektronischer.
Systeme herangezogen werden.
Schwerpunkte sind unter anderem:
— Materialanalytik,
— Charakterisierung von Grenzflächen,
— Untersuchungen zur …
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:FEI Deutschland GmbH
2012-09-17In-Line Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (Fraunhofer Gesellschaft e. V.)
Im Bereich Forschung und Entwicklung von mikroelektronischen und leistungselektronischen Bauelementen, der Sensor und MEMS Technologie ist die mikrostrukturelle Untersuchung und Charakterisierung von 3D-Strukturen wie Gräben und Spitzen, von dünnen Schichten und von kritischen Abmessungen in der Fotolithographie und Ätztechnik auf Probenstücken bis hin zu.
Siliciumscheiben mit 200 mm Durchmesser von größter Bedeutung. Die geeignetste und am weitesten verbreitete Methode hierfür ist …
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:JEOL