2015-09-08Rastersondenmikroskop (Universität Rostock)
Die Universität Rostock beabsichtigt den Kauf eines Variable-Temperatur (VT)-Rastersondenmikroskops für die Arbeitsgruppe Oberflächen- und Grenzflächenphysik der Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät (MNF)/Institut für Physik. Mit dem ausgeschriebenen VT-Rastersondenmikroskop sollen Proben auf Größenskalen vom atomaren bis zum Mikrometer-Bereich im Ultrahochvakuum vermessen und manipuliert werden, mit der Möglichkeit, mindestens zwei weitgehend beliebige Punkte der Probe mit Nanometer-Präzision zu …
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:Schäfer Technologie GmbH
2015-09-08Feldemissions-Transmissionselektronenmikroskope (Universität Paderborn)
Ausgeschrieben wird ein Komplettpaket zur Analytischen Transmissions- und Rastertransmissionselektronenmikroskopie (S)TEM, bestehend aus zwei Feldemissions-Transmissionselektronenmikroskopen mit side-entry-Probengoniometern und damit verbundenen Zusatzgeräten, für das in Gründung befindliche OWL-Analytikzentrum mit Standorten in Paderborn und Bielefeld. Die Mikroskope sollen über Internet fernsteuerbar sein und müssen über wechselseitig austauschbare Probenhalter verfügen. Die Mikroskope müssen bei …
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2015-09-01Rasterelektronenmikroskop (BTU Cottbus-Senftenberg)
Es soll ein Rasterelektronenmikroskop (REM bzw. SEM) mit Rückstreu- (BSE-) und Sekundärelektronen- (SE-) Detektor einschließlich eines dreifach-Analytiksystems, bestehend aus je einem Energie dispersiven Röngenstrahlendetektor (EDX bzw. EDS), einem Wellenlängen dispersiven Röngenstrahlendetektors (WDX bzw. WDS) und einem Electron Backscatter Diffraction Detektors (EBSD) angeschafft werden. Das anzuschaffende REM dient der Abbildung, Vermessung und Analytik von festen Proben aus den Fachgebieten …
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2015-07-23Lieferung von Mikroskopen (Bundesinstitut fĂĽr Risikobewertung (BfR))
Auftragsgegenstand ist die Lieferung und betriebsbereite Aufstellung, inkl. Installation der Software, eines kompletten Multiphotonenmikroskopes, Superresolutionsmikroskopes und konfokalen Analysemikroskopes mit schwingungsgedämpften Tischen und Arbeitsstation. Anschließend ist eine fachkundige Einweisung beim Auftraggeber vor Ort durchzuführen und eine deutschsprachige Bedienungsanleitung für das System auszuhändigen. Zudem sind Wartungsarbeiten sowie ggf. eine optionale Schulung bei Bedarf für fünf …
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:Carl Zeiss Microscopy GmbH
2015-07-10Zweistrahl-System m. Focused-Ion-Beam und Elektronenstrahl-Abbildung (Fraunhofer Gesellschaft e. V.)
Zweistrahl-System m. Focused-Ion-Beam und Elektronenstrahl-Abbildung
Am Fraunhofer IWS Dresden werden Forschungs- und Entwicklungsarbeiten sowie Dienstleistungen auf den Gebieten der Mikrostrukturierung, der Werkstoffcharakterisierung sowie der produktbegleitenden Werkstoffentwicklung angeboten. Zur Erfüllung dieser Aufgaben soll ein Zweistrahlgerät mit Focused-Ion-Beam-Säule und Elektronensäule sowie EDX- und EBSD-Möglichkeit beschafft werden.
Aktuelle und zukünftige Schwerpunkte der vorgesehenen …
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:JEOL (Germany) GmbH
2015-06-08Konfokales Laser-Scanning-Mikroskop (LSM) (Vergabe-Nr. 019/15) (Universitätsklinikum Düsseldorf)
Spezielle Vorgaben:
Gefordert wird ein Hochleistungs-konfokales Laser-Scanning-Mikroskop zur Aufbereitung/Untersuchung von komplexen biologischen Prozessen mittels Variation der Anregung, Filterung und Detektion spezifischer Fluoreszenzsignale in Gewebepräparaten sowie in lebenden Gewebekulturen.
Es werden folgende Eigenschaften/Funktionalitäten gefordert:
Mindestanforderungen:
— Konfokales Laser-Scanning-Mikroskop (LSM) für schnelles und probenschonendes Live-Cell-Imaging
— Resonanter Scanner mit höchst …
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:Leica Microsystems GmbH
2015-06-05Beschaffung eines Rasterelektronenmikroskops (DFG-GZ: A 706) (Deutsche Forschungsgemeinschaft e. V., Zentrale Beschaffungsstelle)
Die an das zu beschaffende Rasterelektronenmikroskop (REM) gestellten Anforderungen ergeben sich aus dem zu bearbeiteten Aufgabenspektrum. Dies sind vor allem Abbildung von Oberflächen, Ermittlung der chemischen Zusammensetzung sowie einfache Elektronenstrahllithographie. Dabei bestehen besondere Anforderungen an die Leistungsfähigkeit des Gerätes insbesondere hinsichtlich des Auflösungsvermögens sowie bei der Untersuchung nichtleitender Proben.
— Auflösung im standard mode < 1.0 nm bei 15 kV, < 1.5 nm …
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2015-05-11Laborgeräte für das Photovoltaik-Verfahrenstechnik Labor (Hochschule Offenburg – University of Applied Sciences)
Die Hochschule Offenburg plant die Beschaffung eines Labors für Photovoltaik-Verfahrenstechnik. Ziel ist die Ausbildung der Studierenden im Bereich der Herstellung von Solarzellen und -modulen im Labormaßstab. Dafür sollen an verschiedenen Laboranlagen von Hand (also nicht automatisiert), aber reproduzierbar und mit hoher Präzision, unterschiedliche Prozesse durchgeführt werden können. Die Anlagen sollen dabei so gestaltet sein, dass entsprechende Produktionsanlagen anhand der Ergebnisse im Labormaßstab …
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2015-04-27Licht- und Lasergeräte (Technische Universität München)
Die TU München hat im Nordosten Münchens in der Universitätsstadt Garching, innerhalb des Campus der Technischen Universität München das Forschungszentrum Katalyse neu errichten lassen. Der Neubau ist teilunterkellert und hat 3 bzw. 4 Obergeschosse.
In diesem Zusammenhang soll der Forschungsbereich des Katalysezentrums mit Laborgeräten ausgestattet werden.
Der Beauftrage hat folgende Leistungen zu erbringen:
— Lieferung, Installation, Inbetriebnahme von Licht- und Lasergeräten für den Forschungsbereich …
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2015-04-15Laser-Scanning-Mikroskop (Helmholtz-Zentrum Geesthacht – Zentrum für Material- und Küstenforschung GmbH)
Das Konfokale Laser-Scanning-Mikroskop soll fĂĽr die 3D-Analyse von Zellkulturen eingesetzt werden und wird vor allem in biologischen und biochemischen Laboren als Standardmethode eingesetzt. Das geplante Einsatzgebiet ist die Analyse von lebenden Zellen auf Materialien, die Analyse der Verteilung bestimmter Ionen oder MolekĂĽle, sowie die topographische Analyse und Spektroskopie von Materialien und deren Korrosionsschichten.
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2015-03-12Beschaffung eines Transmissionselektronenmikroskops (DFG-GZ: A 698) (Deutsche Forschungsgemeinschaft e. V., Zentrale Beschaffungsstelle)
— Transmissionselektronenmikroskop mit variabler Beschleunigungsspannung. 120 kV soll erreicht werden.
— Seitwärtige Probeneinführung in die Mikroskopsäule.
— Lanthanhexaborid Kathode.
— Hochstabiles Goniometer mit präziser xyz-Achsen Positionierung und Tiltmöglichkeit.
— Probenhaltersystem geeignet für häufige Probenwechsel.
— Rotationsfreie Abbildung bei Änderung der Vergrößerung.
— Orientierungskorrekte Zuordnung zwischen Abbildung und Beugung.
— Elektronendosis-Kontrollsystem zur Untersuchung von …
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:FEI Deutschland GmbH
2015-01-12Rasterkraftmikroskop (AFM) (Universität des Saarlandes)
Das Gerät wird zur topografischen Analyse (AFM-Imaging) und zur Kraft-Abstands-Spektroskopie mit höchster AFM-Auflösung auf Proben in Luftatmosphäre und in Flüssigkeiten eingesetzt. Unbedingt erforderlich ist ein umfangreicher Scanbereich mit niedrigem Rauschsignal. Das Gerät muss sich mit modernen (fluoreszenz-)mikroskopischen Verfahren (wie Konfokalmikroskopie, FRAP, TIRF) kombinieren lassen; die Probentemperierung muss variiert werden können.
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:JPK Instruments AG
2014-11-14Rasterkraft-Mikrofluidik-Mikroskop (Universität des Saarlandes)
Nr. Fest-Anforderung Erläuterung.
1 Eignung für ein S2-Labor – Oberflächen geeignet für Wischdesinfektion.
— Oberflächen, Anbauteile und Verbrauchsmittel sind bedingt lösemittelbeständig,
— einfach zu reinigen.
2 Rasterkraftmikroskop basierte Abbildung der Oberfläche – linearisierter z-Aktuator (closed loop).
— Bestimmung der Federkonstanten des Federbalkens durch Aufnahme der thermisch angeregten Schwingungen,
— statische und dynamische Abbildungsmodi (Kontakt- und Tapping-Modus).
3 Injektion und …
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:Nanosurf GmbH
2014-11-04Beschaffung eines Transmissionselektronenmikroskops (DFG-GZ: A 695) (Deutsche Forschungsgemeinschaft e. V., Zentrale Beschaffungsstelle)
Benötigt wird ein Transmissionselektronenmikroskop (TEM) mit einer Beschleunigungsspannung von 120 kV und einer LaB6-Kathode zur Charakterisierung von nanostrukturierten Materialien.
Folgende Anforderungen werden an das Gerät gestellt:
— Beschleunigungsspannung: 120 kV,
— Elektronenquelle: LaB6-Kathode,
— Eignung für den Betrieb in hohen Vergrößerungen: bis mind. 300 000 x,
— Punktauflösung. 0,4 nm oder besser,
— Elektronenbeugung,
— einfache Bedien- und Aufnahmesoftware für den „multi-user“-Betrieb,
— …
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:JEOL (Germany) GmbH