2018-08-23Lieferung und Installation eines Rasterelektronenmikroskops (Deutsche Forschungsgemeinschaft e.V., Zentrale Beschaffungsstelle)
Beschafft werden soll ein Rasterelektronenmikroskop zur Nanoanalytik mit folgenden Spezifikationen:
1 Beschleunigungsspannung von 100 V bis 30 kV
2 Gleichzeitig nutzbare Sekundärelektronendetektoren und Rückstreudetektoren
3 Laterale Auflösung: 1 nm zwischen 1 kV und 30 kV, 1.5 nm unter 1 kV für Proben im magnetfeldfreien Raum
4 Strahlstrom 5 pA – 10 nA mit Stabilität +/- 0.3 % über 1 Stunde
5 60 kipp- und 360 drehbarer Probenteller
6 Schneller Probenwechsel (< 3min) auch für Proben mit Ø > 50 mm
7 …
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:Carl Zeiss Microscopy GmbH
2018-08-16Lieferung Rasterelektronenmikroskop (Faserinstitut Bremen e. V.)
Beschaffung eines Hochauflösenden Rasterelektronen-Mikroskops (REM) für die Charakterisierung und Analyse von Fasermorphologien, Beschichtungen und Schädigungen, zur Bewertung der Wirkung und Verteilung von Additiven in Kunststoffen sowie zur Ermittlung von Bruchflächenmerkmalen und zur Schadensanalyse von Faserverbundwerkstoffen. Es sollen Oberflächenstrukturen mit hoher Auflösung und Tiefenschärfe dargestellt werden.
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2018-06-22Rasterelektronenmikroskope (Helmholtz-Zentrum Geesthacht Zentrum für Material- und Küstenforschung)
Los1:
Diese Leistungsbeschreibung spezifiziert ein Focused Ion Beam – Rasterelektronmikroskop (FIB-REM) mit Energiedispersive Röntgenspektroskopie – Electron Back Scatter Diffraction (EDX-EBSD) Analysensystem:
Feldemitter REM mit fokussiertem GaIonenstrahlsystem für 3D-Analysen, wie Tomographie-, EDX- und EBSD-Messungen mit hoher Auflösung, hohem Strahlstrom und Beschleunigungsspannungserhöhung in der Säule:
Los 2:
Diese Leistungsbeschreibung spezifiziert ein FE- Ga-FIB- REM (Feldemissions Gallium …
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:Carl Zeiss Microscopy GmbHTESCAN GmbH
2018-06-14Rasterelektronenmikroskop (Fraunhofer Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e. V. über Vergabeportal deutsche eVergabe)
Im Rahmen der Ausschreibung soll ein Rasterelektronenmikroskop zur Material-, Bauteil- und Oberflächenanalyse einschließlich Zubehör beschafft werden. Die Investition ist notwendig, um einerseits die Aktualität der Gerätetechnik zur Material-, Bauteil- und Oberflächenanalytik sicherzustellen und andererseits die Anpassung an zukünftige Herausforderungen zu ermöglichen. Dies soll über die Modularität hinsichtlich Ausbaufähigkeit sowie die Wandlungsfähigkeit durch Möglichkeiten zur Umrüstung gewährleistet …
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:Carl Zeiss Microscopy GmbH
2018-06-07Hochauflösendes analytisches Rastertransmissionselektronenmikroskop (Universität Rostock)
Im Rahmen der vorliegenden Beschaffungsmaßnahme ist an der Universität Rostock im Department Leben, Licht und Materie ein hochauflösendes analytisches Rastertransmissionselektronenmikroskop (STEM) inklusive in-situ Untersuchungsmöglichkeiten in gasförmiger und flüssiger Umgebung zu beschaffen. Das STEM-System wird für die Untersuchung von Materialien unterschiedlichster Herkunft und Zusammensetzung eingesetzt. Für die Beschaffung des ausgeschriebenen Geräts stehen Finanzmittel in Höhe von maximal 3 686 …
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:JEOL (Germany) GmbH
2018-03-14Rasterelektronenmikroskop für Kathodolumineszenzuntersuchungen (Forschungsverbund Berlin e. V.)
Wir benötigen ein Rasterelektronenmikroskop für Kathodolumineszenzuntersuchungen bei niedrigen Temperaturen sowie hochauflösender Oberflächenanalytik. Die Leistungsbeschreibung finden Sie unter der Ausschreibungsnummer „AS 08/17-18“ auf unserer Homepage unter: www.fv-berlin.de/administration/einkauf-bau-liegenschaften-1/ausschreibungen/ausschreibungen.
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2017-12-05Rasterelektronenmikroskop (GSI Helmholtzzentrum für Schwerionenforschung GmbH)
Lieferung und Installation eines Feldemissions-Rasterelektronenmikoskop
Hauptaufgabe ist die Charakterisierung von elektrochemisch hergestellten metallischen und halbleitenden Nanodrähten und Nanoröhren, sowie Nanoporen in Polymeren. An das Gerät soll ein bereits vorhandener EDX-Detektor der Firma Bruker (Quantax 800) montiert werden. Der entsprechende Adapter ist mitzuliefern.
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2017-03-27Lieferung eines analytischen Rasterelektronenmikroskops (Ruhr-Universität Bochum)
Im Rahmen des Forschungsbaus „Zentrum für Grenzflächendominierte Höchstleistungswerkstoffe“ (ZGH) muss für zahlreiche Forschungsprojekte ein modernes analytisches Rasterelektronenmikroskop (REM) mit EDX, WDX und EBSD beschafft werden. Das REM wird für die grundlegende Charakterisierung von Werkstoffoberflächen und insbesondere für die chemische und kristallographische Vorcharakterisierung von größeren Probenoberflächenbereichen benötigt. Die chemische Charakterisierung erfolgt über EDX für eine schnelle …
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2016-09-16Supply and maintenance of a scanning electron microscope (SEM) (European Commission, Joint Research Centre (JRC), JRC Karlsruhe)
JRC Karlsruhe plans to purchase a scanning electron microscope (SEM) for samples containing radioactive material.
The microscope will be used to analyse radioactive samples for their microstructure and elemental composition. Due to the radioactivity of the samples the device will be integrated into a shielded glove box. The implantation in a glove box is not part of the tender, but several adaptations for the nuclearisation are a part of this tender.
The purchase shall cover the delivery and installation …
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2016-09-13Uni-HD.2016.1017-Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (Universität Heidelberg)
Ausgeschrieben wird ein Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop mit energiedispersiver Röntgenspektroskopie. Aufgrund der Vorgaben des Bewilligungsverfahrens für Großgeräte sind die maximal zu Verfügung stehenden Finanzmittel begrenzt und enden bei 380 000 EUR (einschließlich Mehrwertsteuer oder vergleichbar und etwaigen Skonti). Angebote, die diesen Grenzwert überschreiten, können nicht berücksichtigt werden.
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:Joel Germany GmbH
2016-09-13CD-SEM (Fraunhofer Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e. V. über Vergabeportal deutsche eVergabe)
Teil 1 von 2:
Das Fraunhofer IMS benötigt ein neues oder generalüberholtes („refurbished“) CD-SEM. In diesem CD-SEM werden 8“ (200 mm) Wafer.Das CD-SEM wird als Rasterelektronenmikroskop (SEM) und als Messgerät für das kritische Maß (CD) in unserer Standard Produktion verwendet.
Die Wafer werden automatisch durch einen Robot-Handler von Kassette beladen. Das Messgerät beinhaltet eine Software, die das CD sowohl automatisch als auch manuell misst.
Das System soll vom Hersteller als “stand-alone-tool” oder …
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:Hitachi High-Technologies Europe GmbH