2017-03-27Lieferung eines analytischen Rasterelektronenmikroskops (Ruhr-Universität Bochum)
Im Rahmen des Forschungsbaus „Zentrum für Grenzflächendominierte Höchstleistungswerkstoffe“ (ZGH) muss für zahlreiche Forschungsprojekte ein modernes analytisches Rasterelektronenmikroskop (REM) mit EDX, WDX und EBSD beschafft werden. Das REM wird für die grundlegende Charakterisierung von Werkstoffoberflächen und insbesondere für die chemische und kristallographische Vorcharakterisierung von größeren Probenoberflächenbereichen benötigt. Die chemische Charakterisierung erfolgt über EDX für eine schnelle …
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2017-01-25Lieferung eines aberrationskorrigierten Transmissionenelektronenmikroskops (Ruhr-Universität Bochum)
Das aberrationskorrigierte TEM muss sowohl ortsaufgelöste (HR-TEM, energiegefilterte Abbildung und HR-STEM mit Ordnungszahl-Kontrast) als auch chemische Informationen (EDX und EELS) auf atomarer Ebene liefern, zusammen mit klassischen Beugungsinformationen, für eine möglichst umfassende Charakterisierung von Grenzflächen.
Aus diesem Anforderungsprofil resultiert die Notwendigkeit eines aberrationskorrigierten TEM für den Rastermodus, ausgestattet mit einem sog. STEM Cs-Korrektor, über den ein kleinster …
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2016-11-30Transmissionselektronenmikroskop (TEM) (Universität Leipzig)
Leistungsgegenstand ist die Lieferung, funktionsbereite Aufstellung und Inbetriebnahme eines Transmissionselektronenmikroskops (TEM) für die hochaufgelöste Mikroskopie zur qualitative und quantitative Charakterisierung von komplexen Materialien, wie anorganischen Festkörpern, Katalysatoren, Adsorbentien, nanoporösen Materialien, Thermoelektrika, Phasenwechselmaterialien, für die Photovoltaik relevante Verbindungen, Halbleiter, multiferroische Schichtsysteme sowie biologische Proben wie DNA, Enzyme und …
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:JEOL (Germany) GmbH
2016-09-16Supply and maintenance of a scanning electron microscope (SEM) (European Commission, Joint Research Centre (JRC), JRC Karlsruhe)
JRC Karlsruhe plans to purchase a scanning electron microscope (SEM) for samples containing radioactive material.
The microscope will be used to analyse radioactive samples for their microstructure and elemental composition. Due to the radioactivity of the samples the device will be integrated into a shielded glove box. The implantation in a glove box is not part of the tender, but several adaptations for the nuclearisation are a part of this tender.
The purchase shall cover the delivery and installation …
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2016-09-13Uni-HD.2016.1017-Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (Universität Heidelberg)
Ausgeschrieben wird ein Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop mit energiedispersiver Röntgenspektroskopie. Aufgrund der Vorgaben des Bewilligungsverfahrens für Großgeräte sind die maximal zu Verfügung stehenden Finanzmittel begrenzt und enden bei 380 000 EUR (einschließlich Mehrwertsteuer oder vergleichbar und etwaigen Skonti). Angebote, die diesen Grenzwert überschreiten, können nicht berücksichtigt werden.
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:Joel Germany GmbH
2016-09-13CD-SEM (Fraunhofer Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e. V. über Vergabeportal deutsche eVergabe)
Teil 1 von 2:
Das Fraunhofer IMS benötigt ein neues oder generalüberholtes („refurbished“) CD-SEM. In diesem CD-SEM werden 8“ (200 mm) Wafer.Das CD-SEM wird als Rasterelektronenmikroskop (SEM) und als Messgerät für das kritische Maß (CD) in unserer Standard Produktion verwendet.
Die Wafer werden automatisch durch einen Robot-Handler von Kassette beladen. Das Messgerät beinhaltet eine Software, die das CD sowohl automatisch als auch manuell misst.
Das System soll vom Hersteller als “stand-alone-tool” oder …
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:Hitachi High-Technologies Europe GmbH
2016-08-02Rasterelektronenmikroskop REM-FIB (Otto-von-Guericke-Universität)
Für die bestimmung der Struktur-Eigenschafts-Beziehungen von Materialien ist es notwendig, bildgebende und analytische Untersuchungen durchzuführen. Diese können sein: Metalle, Keramiken, Kunststoffe, Gläser, Verbundmaterialien und Halbleiter sowie biologische Proben. In Kombination mit mechanischen und thermischen in-situ Experimenten können dabei zusätzliche Informationen zu mechanischen Kennwerten und den werkstoff-physikalischen Vorgängen bei erhöhten Temperaturen gewonnen werden.Neben der …
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:FEI Deutschland GmbH
2016-05-24Rasterkraftmikroskop (Friedrich-Schiller-Universität Jena)
Benötigt wird ein (1) Rasterkraftmikroskop zur topografischen Analyse (AFM-Imaging) und für Reibungsmessungen mit höchster AFM-Auflösung an Luft sowie in Flüssigkeiten. Unbedingt erforderlich sind AFM-Messköpfe, die jeweils für die besonderen Messaufgaben optimiert sind. Weiterhin ist ein AFM-Messkopf erforderlich, der über einen umfangreichen Scanbereich mit niedrigem Rauschsignal verfügt. Das Gerätesystem muss sich zudem mit modernen (fluoreszenz-) mikroskopischen Verfahren kombinieren lassen. Die …
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:JPK Instruments AG
2016-04-20„Transmissionselektronenmikroskop (TEM)“ (Bundesinstitut für Risikobewertung (BfR))
Auftragsgegenstand ist die Lieferung und betriebsbereite Aufstellung eines Transmissionselektronenmikroskops (TEM), inkl. Installation der TEM-Center-Software mit anschließender eintägiger fachkundiger Einweisung/Schulung für bis zu zwei Mitarbeiter/innen beim Auftraggeber vor Ort durch geeignetes deutschsprachiges Personal und Aushändigung einer deutschsprachigen Bedienungsanleitung. Außerdem sind Wartungsarbeiten an dem Gerät durchzuführen. Darüber hinaus garantiert der Auftragnehmer die Vorhaltung von …
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2016-02-25E_848_219427 cl-Ols – Rasterelektronenmikroskop (Fraunhofer Gesellschaft e. V.)
E_848_219427 cl-Ols – Rasterelektronenmikroskop.
Ein zu beschaffendes Dual-Beam Gerät soll zum einen durch eine FIB eine Erweiterung der präparativ-analytischen Methoden bieten und zum anderen second sorce für ein älteres Analytik-/Mess-REM sein.
— Probengrößen: Crosssections, Proben auf Stubs,150 mm Wafer und 200 mm Wafer. Vom 200-mm-Wafer soll eine möglichst große Fläche einfach erreicht werden. Maximale Probenhöhe von Sonderproben >20 mm. Probenhalter für 200-mm-Wafer und 150-mm-Wafer.
— Stage, …
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:FEI Deutschland GmbH
2016-02-05Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (Hochschule Koblenz)
Die Hochschule Koblenz plant mit diesem Vergabeverfahren den Erwerb eines Feldemmissionsrasterelektronenmikroskop mit angeschlossener Leichtelementanalytik und Probenpräparation im Wege eines offenen Verfahrens gemäß § 3 Abs. 1 S. 1 EG VOL/A.
Die konkret zu beschaffenden Lieferung und Leistung ergibt sich aus Teil_B_Leistungsbeschreibung.
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2016-02-01Universität zu Köln – Rasterelektronenmikroskop (Universität zu Köln)
Gegenstand der Ausschreibung ist die Herstellung, Lieferung, Installation und Inbetriebnahme eines analytischen Feldemissions-Rasterelektronenmikroskops (single beam) mit (thermischer) Schottky Feldemissionskathode, welches softwaregesteuert wahlweise im Hochvakuum Modus (HP) oder mit variablem Vakuum (VP) arbeitet.
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:Carl Zeiss Microscopy GmbH
2015-12-01CD-SEM (Fraunhofer Gesellschaft e. V.)
Beschaffung eines CD-SEM-Messgeräts für die Halbleiter-MEMS-Fertigung auf Si-Substraten.
Die Anlage muss mit mindestens 2 Loadports ausgestattet sein und sowohl 150- als auch 200 mm-Wafer mittels eines automatischen programmierbaren Handlingssystems im umrüstungsfreien Parallelbetrieb prozessieren können. Die Mindestauflösung bei einer Beschleunigungsspannung von 0.5 kV soll 3 nm betragen. Die erzielte Vergrößerung soll im Bereich zwischen 1 000- bis zu 200 000-facher Vergrößerung liegen. Das Gerät muss …
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:Applied Materials South East Asia Pte Ltd
2015-09-08Feldemissions-Transmissionselektronenmikroskope (Universität Paderborn)
Ausgeschrieben wird ein Komplettpaket zur Analytischen Transmissions- und Rastertransmissionselektronenmikroskopie (S)TEM, bestehend aus zwei Feldemissions-Transmissionselektronenmikroskopen mit side-entry-Probengoniometern und damit verbundenen Zusatzgeräten, für das in Gründung befindliche OWL-Analytikzentrum mit Standorten in Paderborn und Bielefeld. Die Mikroskope sollen über Internet fernsteuerbar sein und müssen über wechselseitig austauschbare Probenhalter verfügen. Die Mikroskope müssen bei …
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2015-09-01Rasterelektronenmikroskop (BTU Cottbus-Senftenberg)
Es soll ein Rasterelektronenmikroskop (REM bzw. SEM) mit Rückstreu- (BSE-) und Sekundärelektronen- (SE-) Detektor einschließlich eines dreifach-Analytiksystems, bestehend aus je einem Energie dispersiven Röngenstrahlendetektor (EDX bzw. EDS), einem Wellenlängen dispersiven Röngenstrahlendetektors (WDX bzw. WDS) und einem Electron Backscatter Diffraction Detektors (EBSD) angeschafft werden. Das anzuschaffende REM dient der Abbildung, Vermessung und Analytik von festen Proben aus den Fachgebieten …
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2015-07-10Zweistrahl-System m. Focused-Ion-Beam und Elektronenstrahl-Abbildung (Fraunhofer Gesellschaft e. V.)
Zweistrahl-System m. Focused-Ion-Beam und Elektronenstrahl-Abbildung
Am Fraunhofer IWS Dresden werden Forschungs- und Entwicklungsarbeiten sowie Dienstleistungen auf den Gebieten der Mikrostrukturierung, der Werkstoffcharakterisierung sowie der produktbegleitenden Werkstoffentwicklung angeboten. Zur Erfüllung dieser Aufgaben soll ein Zweistrahlgerät mit Focused-Ion-Beam-Säule und Elektronensäule sowie EDX- und EBSD-Möglichkeit beschafft werden.
Aktuelle und zukünftige Schwerpunkte der vorgesehenen …
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:JEOL (Germany) GmbH
2015-06-05Beschaffung eines Rasterelektronenmikroskops (DFG-GZ: A 706) (Deutsche Forschungsgemeinschaft e. V., Zentrale Beschaffungsstelle)
Die an das zu beschaffende Rasterelektronenmikroskop (REM) gestellten Anforderungen ergeben sich aus dem zu bearbeiteten Aufgabenspektrum. Dies sind vor allem Abbildung von Oberflächen, Ermittlung der chemischen Zusammensetzung sowie einfache Elektronenstrahllithographie. Dabei bestehen besondere Anforderungen an die Leistungsfähigkeit des Gerätes insbesondere hinsichtlich des Auflösungsvermögens sowie bei der Untersuchung nichtleitender Proben.
— Auflösung im standard mode < 1.0 nm bei 15 kV, < 1.5 nm …
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:Carl Zeiss Microscopy GmbH